Fischer SSS

Ortalama değer

Bir ortalama değeri hesaplamanın en basit yolu, tüm değerleri toplamak ve bu toplamı değer sayısına bölmektir. Buna aritmetik ortalama denir. Ortalamayı hesaplamanın başka yolları da vardır, ancak bunlar nadiren kullanılır.

Aralık

R aralığı, en küçük ve en büyük ölçüm değerinin birbirinden ne kadar uzak olduğunu gösterir. Aralığı hesaplamak için en düşük ölçüm değeri en büyük değerden çıkarılır. Aralık, aykırı değerler tarafından güçlü bir şekilde bozulabilir ve bu nedenle yalnızca az sayıda ölçülen değeriniz varsa kullanışlıdır. Büyük miktarda veri için standart sapma daha anlamlıdır.

Standart sapma

Standart sapma σ, ölçülen değerlerin ortalama değer etrafında ne kadar güçlü bir şekilde dağıldığını gösterir. Yüksek bir standart sapma, ölçülen değerlerin birbirinden büyük ölçüde farklı olduğunu gösterir. Eğer değerlerin hepsi ortalamaya yakınsa, standart sapma küçüktür. Ortalama ve standart sapmanın gerçeği ne kadar iyi tanımladığı, diğer şeylerin yanı sıra, ölçülen değerlerin sayısına bağlıdır. Ne kadar çok ölçüm noktası olursa, oranlar o kadar anlamlı hale gelir.

Varyasyon katsayısı

Standart sapmanın büyüklüğü sadece ölçülen değerlerin dağılımına değil, aynı zamanda değerlerin büyüklüğüne de bağlıdır - daha yüksek bir ortalama değer otomatik olarak daha yüksek bir standart sapmaya yol açar. Bu sorunla başa çıkmak için, göreceli standart sapma, yani V varyasyon katsayısı, genellikle yüzde olarak ifade edilir. Burada standart sapma aritmetik ortalamaya bölünür. Standart sapmada olduğu gibi, burada da yüksek değerler ölçülen değerlerin yüksek dağılımına işaret eder.

XRF yöntemi ile neler ölçülebilir?

Ortam ortamına (hava, helyum, vakum), dedektöre, spot boyutuna, atom numarasına ve tabii ki uygulamaya bağlı olarak yaklaşık 0,005 - 60 µm arasında değişen katman kalınlıkları ile atom numarası 11'den itibaren elementler ölçülebilir.

XRF ölçümleri için ölçüm noktası boyutu nedir?

Ölçüm noktası kolimatöre ve ölçüm mesafesine bağlıdır. Tipik değerler 30 µm ila 3 mm'dir.

Fischer XRF cihazlarının ölçüm sonuçları ne kadar doğrudur?

Ölçüm doğruluğu her ölçüm görevi için farklı olabilir. Ölçüm süresine, ölçüm noktasına ve XRF cihazının kalibre edildiği standartların belirsizliğine bağlıdır.

Fischer XRF cihazları için radyasyon koruması?

XRF cihazlarımızın büyük çoğunluğu, Alman Radyasyondan Korunma Yönetmeliğine göre tip onaylı tam koruma cihazlarıdır.

"Veri dışa aktarma" maskesi ne anlama geliyor?

Dışa aktarma maskesinin tanımı, hangi parametrelerin dışa aktarılacağını belirlemek için kullanılabilir. Dışa aktarma ayarı, verilerin ne zaman ve nereye gönderileceğini tanımlar. Ölçüm verileri daha sonra bir metin dosyası olarak kullanılabilir.

XRF cihazı "Scatt" istediğinde ne ölçülür?

Burada bir saçılma spektrumu istenir. Saçılma spektrumunun ölçülmesi gerekmez, ancak menüden yüklenebilir: Genel ► Spektrum yükle ve değerlendir...

Neden yeni ölçüm görevleri oluşturamıyorum?

Süper yazılım etkin değil.

XRF cihazı, sorulmadan tüm ölçüm değerlerini yazdırır.

Muhtemelen Dosya► menüsünde Tek değerleri yazdır etkinleştirilmiştir. Bu durumda, her bir değer yazıcı arabelleğine gönderilir ve bir sayfa dolduğunda otomatik olarak yazdırılır."Tek değerleri yazdır" seçeneğini devre dışı bırakın ve yazıcı arabelleğini temizleyin.

Ölçülen değerler yanlışlıkla silindi. Onları geri yükleyebilir miyim?

Bir blok içinde tekli değerler silinmişse, ölçüm değerlerinin numaralandırılmasında bir çizgi görünür. Bu ölçüm değerleri, Değerlendirme ► Ölçüm değerini geri yükle menüsünden tekrar görünür hale getirilebilir. Ancak bir bloğun veya bir öğenin tüm ölçüm değerleri silinmişse, verileri geri yüklemek mümkün değildir.

Fischer kaplama kalınlığı ölçüm cihazlarının ölçüm doğruluğunda hangi faktörler rol oynar?

Kaplama kalınlığı göstergelerinin ölçüm doğruluğu, kaplama kalınlığı, yüzey durumu, kullanılan prob vb. gibi faktörlere bağlıdır. İdeal koşullar altında doğruluk ve tekrarlanabilirlik hakkında bilgi, probların teknik veri sayfalarında bulunabilir.

Faz duyarlı girdap akımı yöntemi: Hangi katman-temel malzeme kombinasyonlarını ölçebilirim?

Burada çeşitli ölçüm seçenekleri vardır: Örneğin, mıknatıslanabilir metal üzerinde mıknatıslanamayan metali ölçmek için faza duyarlı girdap akımı yöntemini kullanabilirim. Bunun bir örneği demir üzerindeki çinkodur. Ancak elektriksel olarak iletken olmayan plastik üzerinde mıknatıslanamayan metal de düşünülebilir, örneğin Iso üzerinde bakır gibi. Bir başka ölçüm örneği de bakır üzerine nikeldir (mıknatıslanamayan metal üzerine mıknatıslanabilen metal).

Genliğe duyarlı girdap akımı yöntemi: Hangi katman-temel malzeme kombinasyonlarını ölçebilirim?

Genliğe duyarlı girdap akımı yöntemi, alüminyum üzerine eloksal veya boya, bakır üzerine boya veya titanyum üzerine seramik gibi elektriksel olarak iletken, mıknatıslanamayan temel malzemeler üzerindeki elektriksel olarak iletken olmayan kaplamaları ölçmek için kullanılır.

Manyetik indüksiyon yöntemi: Hangi katman-taban malzeme kombinasyonlarını ölçebilirim?

Manyetik indüksiyon yöntemiyle, demir üzerine çinko veya demir üzerine boya gibi mıknatıslanması kolay temel malzemeler üzerindeki manyetik olmayan kaplamaları ölçersiniz.

Nikel katmanları faza duyarlı girdap akımı problarının yanı sıra manyetik endüktif problarla ölçerken nelere dikkat etmeliyim?

Her durumda, gerçek nikel kaplama parçalar ve bunların bilinen kaplama kalınlıkları ile kalibre edilmelidir. Nikel kaplamaların manyetizması büyük ölçüde değişebilir, bu nedenle ölçülecek parçalarda kalibrasyon parçalarından oldukça farklı olabilir. Bu durum ölçüm hatalarına yol açabilir ve özellikle gelen malların kontrolünde sorun yaratabilir.

Ölçüm cihazı veya Fischer programı tarafından bilinmeyen bir hata mesajı görüntülenir. Nasıl devam edebilirim?

Öncelikle, hatanın ve düzeltilmesinin orada açıklanıp açıklanmadığını görmek için kullanım talimatlarına bakın. Değilse, lütfen bize seri numarasını, ölçüm cihazının tam tanımını, ölçüm probunu, Fischer programının sürüm numarasını, hata numarasını (hata kodu), hata mesajının tam ifadesini ve hataya neden olan koşulları gönderin. Burada irtibat kişilerinizi bulacaksınız.

SIGMASCOPE® spesifik elektrik iletkenliğini ölçmek için hangi yöntemi kullanır?

Faza duyarlı girdap akımı yöntemi ile (bkz. taslak standart DIN 50994 ve standart DIN EN 2004-1).

SIGMASCOPE® için MS/m ölçüm birimi ne anlama gelmektedir?

MS/m, 1.000.000 Siemens/m'ye karşılık gelen m başına Mega-Siemens anlamına gelir. Bu birim, Ohm x mm²/m spesifik elektrik özdirenci için kullanılan ölçüm biriminin tersidir. Dolayısıyla 1 Siemens, 1/Ohm'a karşılık gelir.

SIGMASCOPE® için %IACS ölçüm birimi ne anlama gelir?

IACS, "Uluslararası Tavlı Bakır Standardı" anlamına gelir. Bu ölçü birimi genellikle Anglo-Amerikan ülkelerinde kullanılır. Aşağıdakiler geçerlidir: 100'lük IACS'nin spesifik elektrik iletkenliği 58 MS/m'ye karşılık gelir. Bu ilişki ile herhangi bir elektriksel iletkenlik değeri bir ölçü biriminden diğerine dönüştürülebilir.

SIGMASCOPE® ile elektrik iletkenliğini ölçerken neden ölçülecek nesnelerin sıcaklığına dikkat etmem gerekiyor?

Spesifik elektrik iletkenliği doğrudan sıcaklığa bağlıdır. Sıcaklık ne kadar yüksek olursa iletkenlik o kadar düşük olur. Ölçülen değerlerin karşılaştırılabilir olmasını sağlamak için iletkenlik her zaman 20°C referans alınarak belirtilir. Bu nedenle, Fischer'in iletkenlik standartları da 20°C için değerler verir.

SIGMASCOPE®'un fiziksel olarak gerçek iletkenliğin ölçülen bir değerini 20°C'ye dönüştürebilmesi için aşağıdaki koşulların karşılanması gerekir:

• Ya cihaz ölçüm sırasında mevcut olan aynı sıcaklıkta kalibre edilmelidir.
• Ya da ölçülecek nesnenin sıcaklığı, ölçüm ve kalibrasyon sırasında bir sıcaklık sensörü (dahili/harici) ile kaydedilmelidir.

Bu koşullar sağlanmadığı takdirde sistematik ölçüm hataları oluşabilir.

Ağır korozyon korumasında "çelik üzerine sıcak daldırma çinko üzerine boya" dubleks kaplama sistemlerinin kaplama kalınlıklarını ölçmek için hangi problar kullanılabilir?

FDX10 ve FDX13H dubleks ölçüm probları ile. Bu probların doğru ölçüm yapabilmesi için sıcak daldırma çinko için minimum 70 µm kaplama kalınlığı gerekir.

Dubleks kaplama sistemi "zayıf galvanizli çelik üzerine boya" için kaplama kalınlıklarını ölçmek için hangi problar kullanılabilir?

İnce çinko tabakaları için ESG2 ve ESG20 probları kullanılır. Bu problar sadece çinko ve çelik arasında difüzyon tabakası yoksa uygulanabilir. Bu durum genellikle elektrokaplama ve çok ince sıcak daldırma çinko kaplamalarda (otomotiv mühendisliğinde olduğu gibi) geçerlidir. Ağır korozyon korumasında kullanılan ve genellikle 70 µm'den daha kalın olan sıcak daldırma çinko kaplamalar genellikle çelik ve çinko arasında belirgin bir difüzyon tabakası oluşturur. Bu gibi durumlarda ESG2 ve ESG20 probları kullanılamaz.

Kulometrik yöntemle hangi katman-temel malzeme kombinasyonları ölçülebilir?

Metaller, plastikler veya seramikler üzerindeki elektriksel olarak iletken metal katmanlar. Daha fazla bilgi

Kulometrik ölçüm için gereklilikler nelerdir?

Aşağıdakiler yerine getirilmelidir: temiz bir kaplama yüzeyi, stand kelepçesinin ölçülecek nesneye iyi teması. Ayrıca, kaplama kalınlığına karşılık gelen bir ayırma hızı seçilmelidir. Buna ek olarak, uygun elektrolit kullanılmalıdır. Daha fazla bilgi edinin

Kulometrik ölçüm yönteminin doğruluğunda hangi faktörler rol oynar?

Bu faktörler şunlardır: kaplama kalınlığı, yüzey durumu, kullanılan ölçüm hücresi contası, ayırma hızı ve kaplamanın saflığı.

Verileri bilgisayarıma aktarmak için ne yapmalıyım?

Aktarım kablosunu bilgisayara ve ölçüm cihazına bağlayın. Bilgisayarınıza uygun sürücü yazılımını yükleyin. Kullandığınız değerlendirme programında bir cihazın bağlı olduğu doğru arayüzü seçin. Ölçülen değer gruplarını ayırmak için lütfen ölçüm cihazında bir grup ayırıcı ayarlayın.

Veri aktarımım neden çalışmıyor?

Nedeni şu olabilir: Doğru sürücü yönetici haklarıyla mı yüklendi? Bilgisayardaki yazılımda doğru arayüz seçildi mi? (ayrıca bkz. Aygıt Yöneticisi)

Okumalarım büyük farklılıklar gösteriyor. Bunun nedeni ne olabilir?

Sıfır noktası pürüzlü yüzeyler için her zaman güvenilir bir şekilde belirlenemez. Bu nedenle, mümkünse yüzey parlatılmalıdır. Hava akımları ve harici titreşimler de ölçüm değerlerinde yüksek dalgalanmalara ve hatta yanlış ölçümlere yol açabilir. Bu nedenle, cihazlar korunaklı bir yere kurulmalıdır. Çok düşük kuvvetlerle ölçüm yaparken, kapalı ölçüm kutuları ve sönümleme masaları dış etkilerden kaçınmaya yardımcı olur.

Ölçülen değerlerim yanlış. Bunun nedeni ne olabilir?

Muhtemelen indentör kirli veya aşınmış. WIN-HCU® düzenli olarak gerçekleştirilmesi gereken bir temizleme prosedürü sunar. Ayrıca uygulamanız için doğru kuvvet-zaman rejimini seçip seçmediğinizi kontrol edin. Farklı test parametreleri sapmalara yol açabilir.

Bu önlemler yardımcı olmazsa, indenter aşınmışsa bir şekil düzeltmesi de yapılabilir. Şekil düzeltmesi sadece Fischer uzmanları tarafından yapılmalıdır.

Ölçümden sonra yüzeyde Indentor izi görülmez. Neden?

Muhtemelen mikroskopta yanlış objektif ayarlanmıştır. Farklı bir objektif deneyin ve otomatik objektif tanıma özelliği olmayan cihazlar için WIN-HCU® yazılımında doğru objektifi seçtiğinizden emin olun.

Baskı hala görünmüyorsa, çok düşük bir inceleme kuvveti seçmiş olabilirsiniz. Bu gibi durumlarda, örneğin bir atomik kuvvet mikroskobu (AFM) ile izlenim görülebilir. Başka bir neden de mikroskop konumu ile gerçek ölçüm konumu arasında çok büyük bir ofset olabilir. Ayarlanan ofset ayarları Ölçüm tablosu ► Mikroskop ayarları altında bulunabilir.

Kaplamaları enine kesitte ölçerken, Fischer'in uygun bir mikro kesit numune tutucusunun kullanılması önerilir. Ölçümler uygun bir tutucu olmadan enine kesitlerde gerçekleştirilirse, montaj işlemi nedeniyle her ölçüm için ölçüm konumundan mikroskop konumuna sistematik bir kayma olacaktır.

Neden indentasyon sertliği ve indentasyon modülü için herhangi bir ölçüm değeri alamıyorum?

Muhtemelen boşaltma eğrisi kaydedilmemiştir. Lütfen ayarlarınızı kontrol edin. Ayrıca, çok yumuşak numuneler yük altında deforme olmaya devam edebilir (sürünme), bu nedenle girinti sertliği her durumda belirlenemez. Girinti sürünmesini_(CIT) belirlemek için sürünme ayarını kullanın. ISO 14577'ye göre indentasyon modülü _EIT ve indentasyon sertliği _HIT 'yi belirlemek için Düzenle ► Uygulama ayarları ► Parametreler ► Düz seçeneğini kullanın.

Yükleme ve boşaltma eğrileri sırasıyla "deforme olmuş" ve "güçlü bir şekilde bükülmüş". Bunun nedeni ne olabilir?

Numune, ölçüm sırasında yük altında akmıştır. Test numunesinin iyi sabitlenip sabitlenmediğini kontrol edin. Bileşen geometrisine bağlı olarak, uygun aksesuarlarımızı kullanın: HM üniversal numune tutamakları veya Fischer'den HM folyo sıkıştırma fikstürü.

Yükleme eğrisinde bir bükülme var. Bunun nedeni ne olabilir?

Seçilen test yükü kaplama kalınlığı için çok yüksektir. Alt tabaka malzemesi bu nedenle ölçümü etkiler.

"Dinamik ölçüm modunu" neden etkinleştiremiyorum?

Dinamik ölçüm modunu yalnızca yönetici olarak etkinleştirebilirsiniz. Yönetici haklarına rağmen etkinleştirme mümkün değilse, bunun nedeni genellikle bunu engelleyen müşteriye özel güvenlikle ilgili yazılımdır. Buradaki bir olasılık, yazılımla ilgili daha düşük güvenlik önlemlerine sahip bir bilgisayar kullanmaktır.

"Şekil düzeltme" menü öğesi neden gri ve seçilebilir değil?

Şekil düzeltme yönetici hakları gerektirir. Lütfen WIN-HCU® 'da uygun şekilde oturum açın. Şekil düzeltme işlemi yalnızca Fischer uzmanları veya kalifiye personel tarafından gerçekleştirilmelidir. Ölçüm iptal edildi ve yeni bir ölçüm başlatılamaz. Ayrıca, indentör konumu 400 µm'nin üzerinde bir değerdedir.

'Değerlendirme' ► 'Özel dışa aktarma' seçeneğine tıkladığımda neden bir hata mesajı alıyorum?

Dışa aktarma işlemini gerçekleştirebilmeniz için önce Ayar ► Seçenekler ► Kullanıcı tanım lı dışa aktarma altında kullanıcı tanımlı dışa aktarma işlemini tanımlamanız gerekir.

Ölçüm cihazımın seri numarasını ve diğer önemli bilgileri nerede bulabilirim?

Seçiniz ? WIN-HCU hakkında bilgi öğesini seçin. Burada örneğin ölçüm cihazının seri numarasını ve WIN-HCU® sürümünü bulabilirsiniz.

Ölçülen değerler kullanılırken asgari olarak hangi istatistiksel karakteristik değerler kullanılmalıdır?

Ölçülen değerlerin karşılaştırılması için en azından aşağıdaki karakteristik değerler kullanılmalıdır: Aritmetik ortalama, standart sapma ve bireysel ölçüm değerlerinin sayısı. İlgili standart sapma ve ölçülen değer sayısı olmadan, ortalama değerler birbirleriyle anlamlı ve ciddi bir şekilde karşılaştırılamaz.

Ölçüm cihazımı neden kalibre etmem gerekiyor?

DIN EN ISO 9001 standardına göre, izlenebilirlik gerekiyorsa ölçüm ekipmanı kalibre edilmelidir. Her fiziksel ölçüm yöntemi, kaplama ve ana malzemenin özelliklerinden etkilenir. Bu özelliklere örnek olarak parça geometrisi, elektrik iletkenliği, manyetizma, kaplamanın yoğunluğu ve hatta ölçüm yüzeyi verilebilir. Bu nedenle, katmanın veya temel malzemenin özellikleri her değiştiğinde, büyük olasılıkla ölçüm ekipmanının yeniden kalibre edilmesi gerekir.

Manyetik endüktif veya girdap akımı ölçüm cihazımı düz bir tabaka üzerinde kalibre ediyorum ve şimdi örneğin küçük çaplı tornalanmış bir parça üzerinde ölçüm yapmak istiyorum. Bunu başka bir ayarlı kalibrasyon olmadan yapmak mümkün mü?

Düz levha üzerinde yapılan kalibrasyon, kavisli yüzey üzerinde sistematik bir ölçüm hatası oluşturur. Sonuç olarak, ölçülen değerler çok yüksek olacaktır. Bunun nedeni, ölçüm cihazının kavisli nesneden gelen sinyalleri düz bir parçadan geliyormuş gibi değerlendirmesidir. Bu nedenle, parçaların veya ölçüm yüzeyinin şekli veya geometrisi değiştiğinde düzenli kalibrasyonlar gereklidir.

İki kişi farklı ölçüm sonuçlarına ulaşıyor. Bunun nedeni ne olabilir ve bu konuda ne yapılabilir?

Olası nedenler, farklı kalibrasyonlara (karakteristik eğriler) sahip iki ölçüm cihazının kullanılması veya ölçümlerin aynı ölçüm cihazıyla ancak farklı ölçüm yüzeylerinde yapılması olabilir. Ölçüm cihazları ile elde edilen ölçüm değerlerinin doğruluğu her zaman kalibrasyon standartları ile sağlanır. Manyetik indüksiyon ve girdap akımı ölçüm cihazları söz konusu olduğunda, kalibrasyon, kaplanmış parçalar için kaplama kalınlığının da ölçülmesi gereken, ölçülecek gerçek, kaplanmamış nesnelerin ölçüm yüzeyinde yapılmalıdır. Ayrıca, ölçümlerin aynı noktada veya aynı ölçüm yüzeyinde yapıldığından ve anlamlı bir ortalama değerin yanı sıra anlamlı bir standart sapma için yeterli sayıda ölçüm değerinin kaydedildiğinden emin olunmalıdır. Ancak bu şekilde karşılaştırılabilir ölçüm sonuçları elde edilebilir.

Dokunsal kaplama kalınlığı ölçerler için bir kalibrasyonu nasıl kontrol edersiniz?

Kaplanmamış iş parçası üzerinde birkaç ölçüm değeriyle (genellikle 5 ila 10) bir kalibrasyon folyosu ölçülür ve bu daha sonra ölçümlerin alınacağı noktada yapılır. Fischer taban kalibrasyon plakaları bu kalibrasyon için kullanışlı değildir. Daha sonra kullanıcı, film ayar noktasından ve ölçülen ortalama değerden hangi sapmalara izin vereceğine karar vermelidir, böylece ölçüm cihazının hala yeterince iyi kalibre edilmiş olduğu kabul edilir. Bir ölçüm cihazının kalibrasyonunun istatistik bağlamında ve ölçülen film kalınlığının belirsizliği açısından değerlendirilmesi, örneğin DIN EN ISO 2178: 2016 "Manyetik ana metaller üzerindeki manyetik olmayan kaplamalar - Film kalınlığının ölçümü - Manyetik yöntem" (Bölüm 8) ve DIN EN ISO 2360: 2017 "Manyetik olmayan metalik ana malzemeler üzerindeki iletken olmayan kaplamalar - Film kalınlığının ölçümü - Eddy akımı yöntemi" (Bölüm 8) standartları tarafından sağlanmaktadır.

FDX10 ve FDX13H dubleks probları kalibre ederken nelere dikkat edilmelidir?

Bu dubleks probların iki ölçüm kanalı vardır. Manyetik endüktif kanal, boya ve çinkonun toplam kaplama kalınlığını ölçer. Genliğe duyarlı girdap akımı kan alı, çinko üzerindeki boya tabakası kalınlığını ölçer. Kalibrasyon için, orijinal parçaya karşılık gelen tamamen kaplanmamış bir çelik parça ve en az 70 µm çinko içeren galvanizli bir parça gereklidir. Probların manyetik endüktif kanalı, kaplanmamış çelik parça üzerinde kalibre edilir. Kullanılan kalibrasyon folyoları beklenen toplam kaplama kalınlığı aralığını (boya ve çinko) çerçevelemelidir. Galvanizli parça, genliğe duyarlı girdap akımı kanalını kalibre etmek için kullanılır. Kullanılan kalibrasyon folyoları beklenen boya tabakası kalınlığı aralığını çerçevelemelidir.

ESG2 ve ESG20 dubleks probları kalibre ederken nelere dikkat edilmelidir?

Bu dubleks probların iki ölçüm kanalı vardır. Manyetik endüktif kanal, boya ve çinkonun toplam kaplama kalınlığını ölçer. Faza duyarlı girdap akımı kan alı, boyanın altındaki çinko kaplama kalınlığını ölçer. Kalibrasyon için, orijinal parçaya karşılık gelen tamamen kaplanmamış bir çelik parça ve tipik bir çinko kaplamaya sahip galvanizli bir parça gereklidir. Probların manyetik endüktif kanalı, kaplanmamış çelik parça üzerinde kalibre edilir. Kullanılan kalibrasyon folyoları beklenen toplam kaplama kalınlığı aralığını (boya ve çinko) çerçevelemelidir. Galvanizli parçada, probların faza duyarlı girdap akımı kanalı kalibre edilir. Çinko tabakanın kendisi kalibrasyon tabakası olduğu için burada kalibrasyon folyosu kullanılmamalıdır. Kalibrasyonun bu adımı sırasında sadece galvanizli parça üzerinde ölçüm yapmak gerekir. Çinko katman kalınlığının kalibrasyondan önce referans katman kalınlığı olarak ölçülmesine gerek yoktur. Çinko tabakasının kalibrasyon referans değeri, ilk adımda kalibre edilen manyetik endüktif kanal tarafından sağlanır.

Kaplamanın yoğunluğu kalibrasyonda bir rol oynar mı?

Evet, oynar. Örneğin, ölçüm cihazı, kaplaması 2 g/cm³ yoğunluğa sahip bir parça ile kalibre edilmişse ve ölçümler şimdi örneğin 1 g/cm³ yoğunluğa sahip bir parça üzerinde yapılacaksa, sistematik ölçüm hataları meydana gelecektir. Bu durumda ölçülen değerler çok düşük olur. Bunun nedeni, ölçüm cihazının yeni nesneden gelen sinyalleri, katmanı da 2 g/cm³ yoğunluğa sahipmiş gibi değerlendirmesidir.

Fischer XRF cihazında aday gösterme ne anlama gelir?

Ölçüm teknolojisinde aday gösterme, ölçüm görevinin mevcut ayarlara veya yeni temel malzemelere uyarlanmasıdır. Bu, birincil filtre, anot akımı veya kolimatör değiştirildiğinde yapılmalıdır. Ana malzemenin alaşım bileşimi değiştiğinde de standart olarak gereklidir.

Fischer XRF cihazım mantıksız değerler ölçüyor. Hala doğru ölçüm yaptığımdan nasıl emin olabilirim?

Burada ölçüm cihazının izlenmesi yoluna gidilir. Kalibrasyon standartlarını yeniden ölçerek XRF ölçüm cihazını kontrol eder. Standart buna "kalibrasyon" adını verir. Ölçülen değer ile standartların nominal değeri arasında önemli bir sapma varsa, bir ayarlama yapılması gerekir.

Fischer XRF cihazında referans ölçümü nedir?

Referans ölçümü, enerji ekseninin yeniden kalibrasyonudur. Sıcaklık etkisi için orantılı sayaç tüpüne sahip XRF cihazlarını düzeltir.

XRF cihazında bir kalibrasyon nasıl kontrol edilir?

Kalibrasyon standartları, Öğe ► Kalibrasyon standartlarını ölç menü öğesinden yeniden ölçülebilir. Bir sapma tespit edilirse, XRF cihazı yeniden kalibre edilmelidir.

X-ışını kalibrasyon standartları ne sıklıkla yeniden sertifikalandırılmalıdır?

Bu, ölçüm cihazlarının kalibrasyon standartlarında ne sıklıkla kullanıldığına bağlıdır. Dolayısıyla bu, müşteri tarafından belirlenebilir. Tipik bir değer yaklaşık her 1–3 yıldır.

Kalibrasyon işlemi sırasında X-ray kalibrasyon folyolarını istiflemek mümkün müdür?

Evet, bu mümkündür. Genel bir kural olarak, orantılı sayaç tüpü ölçüm cihazları için 2-3 folyo ve PIN veya silikon sapma dedektörlü ölçüm cihazları için 1 folyo kullanılabilir.

XRF cihazları için saf element plakasını yeniden sertifikalandırmalı mıyım?

Hayır, gerekli değildir. Saf element plakasını yeniden sertifikalandırmanıza gerek yoktur çünkü standartlar doygunluk kalınlıkları nedeniyle çok yüksek stabiliteye sahiptir.

XRF cihazı aday gösterme veya kalibrasyon sırasında "Temel malzeme kal. seti" ve "Temel malzeme ölçüm nesnesi" isterse ne yapmalı?

Burada WinFTM® temel malzemeyi sorar. Kalibrasyon setinin ve ölçülen nesnenin kaplanmamış temel malzemesi uygulanmalı ve ölçülmelidir. Dikkat! Buraya yanlış parçalar yerleştirilirse, bu sonucun doğruluğu üzerinde çok büyük bir etkiye sahip olabilir.

Kalibrasyon standartları için fabrika sertifikası ile ISO 17025 sertifikası arasındaki fark nedir?

ISO 17025 sertifikasına sahip kalibrasyon standartları, akreditasyon kuruluşları tarafından tanımlanan bir prosedüre göre ölçülür ve fabrika sertifikasına sahip kalibrasyon standartlarından daha düşük bir belirsizliğe sahiptir.