Jump to the content of the page

FISCHERSCOPE X-RAY PCB serisi

FISCHERSCOPE X-RAY PCB serisi

Baskılı devre kartlarını test etmek için profesyonel seri

Günümüzün baskılı devre kartlarında çok sayıda kaplanmış temas noktası bulunmaktadır. Lehimli derzlerin güvenilirliğini, korozyon direncini ve raf ömrünü garanti etmek için çeşitli malzemelerin ilgili kalınlıkları doğru ilişki içerisinde olmalıdır. Bu sıkı spesifikasyonları kontrol etmek için, enerji dispersive X-ışını floresans seçilen yöntemdir.

Fischer'ın özel olarak geliştirilmiş X-ışını floresan cihazları PCB üreticilerinin gereksinimlerini mükemmel bir şekilde karşılar: Sadece hızlı ve kullanımı kolay olmakla kalmaz, aynı zamanda tüm cihazlar 610 x 610 mm boyutuna kadar PCB'leri alacak kadar geniştir.  

Gereksinimlerinize bağlı olarak çeşitli modeller mevcuttur. Bizi arayın! Sizin için buradayız.

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

Basit ölçümler ve nokta kontrolleri için FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB idealdir. Kısa ölçüm süreleri sağlayan proportional detektörü ile donatılmıştır. Bu X-ışını floresans cihazı 0,1 um'den daha kalın kaplamalar için önerilir .

  • Standart uygulamalar için tungsten mikrofokus tüpü
  • Potasyumdan (19) uranyuma (92) kadar elementleri analiz etmek için proportional dedektör
  • 610 x 610 mm'ye kadar devre kartları (24 ”x 24”)
  • Maksimum numune yüksekliği: 90 mm
  • En küçük ölçüm noktası Ø yakl. 0,2 mm
  • Sertifikalı tam koruyucu cihaz  

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB proportional dedektör ile donatılmıştır. Bununla birlikte, bu X-ışını floresan cihazı çeşitli kolimatörlere ve filtrelere sahiptir, böylece göreviniz için en uygun ölçüm koşullarını oluşturabilirsiniz. Temel konfigürasyonda PCB'nin konumlandırılmasını kolaylaştıran bir dışarı çekilebilir numune tablası vardır. Talep üzerine otomatik ölçümler için programlanabilir bir XY tablası da mevcuttur.

  • Standart uygulamalar için tungsten mikrofokus tüpü
  • Daha karmaşık işler için daha iyi uyarma (excitation) koşulları için isteğe bağlı 3x değiştirilebilir filtre
  • Potasyumdan (19) Uranyuma (92) kadar elementleri analiz etmek için proportinal dedektörü
  • 610 x 610 mm'ye (24 ”x 24”) kadar baskılı devre kartları için manuel olarak çıkarılabilir veya programlanabilir bir ölçüm tablası
  • Maksimum örnek yüksekliği: 5mm < / li>
  • 4x değiştirilebilir kolimatör, en küçük ölçüm noktası Ø yakl. 0,2 mm
  • Tam koruma cihazı olarak bireysel onay  

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

Yüksek güvenilirlikli uygulamalarda, baskılı devre kartları kalite açısından kritik bileşenlerdir. Bu gibi durumlarda, ENIG ve ENEPIG işlemlerine göre üst düzey kaplamalar kullanılır. Bu işlemlerde en ince katman kalınlıkları 40 ile 100 nm arasındadır. Proportional dedektörlerin doğruluğu artık süreci izlemek için yeterli değildir.Burada FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB doğru seçimdir. boyutu 50 µm'den küçük yapılarda hassas ölçümler yapılmasını sağlar.

Özellikle çok küçük yapılarla uğraşırken, çok sayıda rastgele örnek incelenecekse, her bir ölçüm pozisyonunun ayrı ayrı seçilmesi çok zaman alabilir. Ancak Fischer tarafından uygulanan görüntü tanıma yazılımı ile bu çabayı kendinizden kurtarabilirsiniz. Görüntünün bir bölümünü saklamanız yeterlidir; XDV®-µ PCB karşılık gelen yapıları arar ve otomatik olarak ölçer.

  • Tungsten veya molibden mikrofokus tüpü
  • Daha karmaşık işler için optimum uyarma koşulları için4x değiştirilebilir filtre,
  • Alüminyum analizi için silikon drift dedektörü (13) to uranium (92)
  • Programlanabilir ölçüm tablası, isteğe bağlı olarak FLEX PCB'ler için vakum tutucu ile
  • Çok küçük ölçüm noktaları (10 veya 20 µm FWHM) için polikapiller optikler  
  • Maksimum örnek boyutu: 610 x 610 mm ve 10 mm boyunda
  • Tam koruma cihazı olarak bireysel onay  
Jump to the top of the page