Jump to the content of the page
Fischer Marketing Team | 24. Nisan 2020

Helmut Fischer Pazarlama Uzmanı Grace Chua, bir dizi eğitim aracılığıyla FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ kullanmanın ne kadar kolay olduğunu gösteriyor. XDV®-µ, çok küçük bileşenler ve yapılardaki ölçümler için Polikapiller X-Ray Optikli bir X-Işını Floresan ölçüm cihazıdır. Tüm cihazlar X-ışını huzmesini odaklayan ve 10 ila 60 µm arasında çaplara sahip ölçüm noktaları (fwhm) sağlayan polikapiller optiklerle donatılmıştır. Odaklanmış radyasyonun yüksek yoğunluğu, kısa bir ölçüm süresinda yapılır. Üniversal olarak uygulanabilir XDV-µ'nin yanı sıra, elektronik ve yarı iletken endüstrileri için özel cihazlar da mevcuttur. Örneğin, XDV-µ LD baskılı devre kartlarında (PCB) ölçüm için optimize edilirken, XDV-µ Wafer temiz odalarda kullanılmak üzere tasarlanmıştır.

Bize yorumunuzu bırakın
Bu formu göndererek Gizlilik Politikası'yi okuduğumu ve anladığımı onaylıyorum.
Jump to the top of the page