Jump to the content of the page

X-RAY XAN®500, Hızlı ve Tahribatsız Analiz için Mobil XRF Ölçüm Cihazı

Numune cihaza gidemezse, cihaz numuneye gelmelidir! FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500 ile Fischer, kaplama kalınlığı için optimize edilmiş bir mobil X-ışını floresans (XRF) cihazı sunar. Alaşımların ölçümü, kaplama kalınlığı ve malzeme analizi.

Küçük boyutuna rağmen, XAN500, bir laboratuarda bulabileceğiniz herhangi bir XRF cihazına eşittir. Modern silikon drift detektörü doğru ölçüm sonuçlarını garanti eder. Ve birden fazla katmanı ve çeşitli alaşımları içeren karmaşık ölçüm görevleri bile güvenilir bir şekilde çözülür.

Özellikle kaplama kalınlıklarını ölçerken, cihaz ile numune arasındaki mesafenin sabit kalmasını ve ışın yolunun düz olmasını sağlamak büyük önem taşımaktadır. XAN500’ün 3 nokta desteği, kaplamaların doğru ölçümü için cihazı güvenli ve dengeli bir şekilde ayarlamanızı sağlar. Sonuç doğrudan cihazın ekranında gösterilir. Daha fazla veri değerlendirmesi için XAN500, tam WinFTM® yazılım paketiyle donatılmıştır.

Kaplama kalınlığı ölçümü ve WinFTM ile malzeme analizi fundamental parametre analizine dayanmaktadır. Bu, önceden kalibrasyon yapmadan, yani standartsız olarak doğru ölçüm yapılmasını mümkün kılar. Ve yalnızca en yüksek hassasiyetin yeterli olacağı durumlar için, cihazı özel ölçüm göreviniz için kalibre etmeyi hızlı ve kolay hale getiren DAkkS sertifikalı standartlar da sunuyoruz.

Daha fazla bilgi edinmek için aşağıdaki videoyu izleyin veya daha fazla bilgi için bize ulaşın!

Bize yorumunuzu bırakın
Bu formu göndererek Gizlilik Politikası'yi okuduğumu ve anladığımı onaylıyorum.
Jump to the top of the page