Jump to the content of the page

High-end technologie voor uitdagende meettaken

De PICODENTORยฎ HM 500 combineert high-end technologie met eenvoudige bediening. Het apparaat is ontworpen voor uiterst fijne nanoindentatietests en dynamische mechanische analyse. Het maakt diepte-afhankelijke bepaling mogelijk van materiaalparameters zoals Martens of Vickers hardheid en de penetratiemodulus.

De uitstekende kracht en verplaatsingsresolutie van de HM500 maken het mogelijk om coatings in het nanometerbereik te analyseren. Dit zorgt voor een nauwkeurigheid die gewoonlijk alleen wordt gevonden in zeer complexe, en veel duurdere meetinstrumenten.

Fischer gelooft in het zo eenvoudig mogelijk maken van uw werk. Het maakt niet uit of de stukken die je moet testen donkere oppervlakken, complexe geometrieรซn hebben of erg klein zijn, begin gewoon met meten, geen monstervoorbereiding vereist! En met de geautomatiseerde meettafel en krachtige microscoop u met slechts een paar klikken geautomatiseerde tests programmeren.

Functies

  • Meting en berekening van materiaalparameters volgens DIN EN ISO 14577-1 Annex A en ASTM E 2546
  • Bepaling van talrijke plastische en elastische eigenschappen zoals Vickers-hardheid, indentatiemodulus en krimp
  • Dynamische meetmodus (dynamische mechanische analyse)
  • Geschikt voor het testen van vaste materialen en coatings in het nanometerbereik, testkrachtbereik 0,005 โ€“ 500 mN 
  • Modulair ontwerp zorgt voor een eenvoudige aanpassing aan uw behoeften
  • Nulpunt bepaald in minder dan een minuut, waardoor snelle metingen mogelijk zijn
  • Programmeerbare XY-tafel met positioneringsnauwkeurigheid van 0,5ฮผm maakt meten op kleine gebieden zoals binddraden mogelijk
  • Samples tot 13 cm hoog kunnen worden gemeten
  • Hoogwaardige wetenschappelijke microscoop
  • Thermisch stabiel: meet enkele uren bij constante temperaturen
  • Krachtige WIN-HCU-software voor intuรฏtieve bediening en evaluatie 
  • Indenters : Vickers, Berkovich of carbidbal, evenals speciale indenters op verzoek

Toepassingen

  • Metingen op extreem kleine testgebieden, zoals bijvoorbeeld bond pads in de halfgeleiderindustrie
  • Analyse van ion-geรฏmplanteerde oppervlakken
  • Testen van nanolagen met sensoren
  • Metingen op biologische materialen
  • Dynamisch-mechanische analyse van kleine monsters
  • Meting van de hardheid en elasticiteit van PVD, CVD-coatings zoals DLC (diamantachtige koolstof), evenals chemische nikkellagen
  • geautomatiseerde metingen op meerdere monsters
  • Bepaling van de mechanische eigenschappen van structurele componenten in materialografie

Accessoires voor de beste meetomstandigheden

  • Geluidsisolerende kap met trillingsdempingssysteem om omgevingsinvloeden te verminderen
  • Dezelfde monstertafel voor materiaaltesten bij verhoogde temperaturen
  • Atomic Force Microscope (AFM) voor het meten van ruwheidsparameters
  • Samplehouder voor verschillende soorten monsters, zoals dwarsdoorsnedes en folies
Jump to the top of the page