FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ Tutorials
Grace Chua, marketingspecialist bij Helmut Fischer, laat aan de hand van een serie tutorials zien hoe gebruiksvriendelijk het is om de FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ te gebruiken. De XDV®-µ is een röntgenfluorescentiemeetinstrument met een Polycapillaire röntgenoptiek voor metingen aan zeer kleine componenten en structuren. Alle apparaten zijn uitgerust met polycapillaire optieken die de röntgenstraal scherpstellen, waardoor meetspots (fwhm) met een diameter tussen 10 en 60 μm mogelijk zijn. De hoge intensiteit van de gefocuste straling resulteert in een korte meetduur. Naast de universeel toepasbare XDV-μ zijn er ook gespecialiseerde apparaten beschikbaar voor de elektronica- en halfgeleiderindustrie. Zo is de XDV-μ LD geoptimaliseerd voor het meten op printplaten, terwijl de XDV-μ Wafer bedoeld is voor gebruik in cleanrooms.
