Onverslaanbaar in geautomatiseerde terahertz metingen
Geautomatiseerde meetoplossing voor de diktemeting van organische en dielektrische enkel- en meervoudige lagen en materiaalanalyse met terahertzgolven
Beschikbaarheid afhankelijk van regio en land
Voordelen
- Toonaangevende meetprestaties: Tot 6 THz bandbreedte* voor hoogste precisie en herhaalbaarheid
- Gepatenteerde Clean-Trace-technologie: Continu droge lucht spoelen voor onvervalste meetresultaten
- 3D-scanner: Hoge precisie positionering zelfs op ronde oppervlakken en complexe geometrieën
- Sneller dan elke vibratie. Nauwkeurige meetresultaten zelfs in ruwe omgevingen dankzij uniek hoge bemonsteringssnelheid van 1,6 kHz*
- Eenvoudige integratie: Hardware en software ontworpen voor robot- en controlesystemen
- Hoge betrouwbaarheid: Robuust, weinig onderhoud, ontwikkeld voor 24/7 werking
- Weinig onderhoud. Minder slijtage door elektro-optische meting
*Afhankelijk van de configuratie
Kenmerken
- Spotgrootte: ⌀ 1 mm
- Bandbreedte: Tot 6 THz*
- Monsterfrequentie: 1,6 kHz*
- Meet tijd: ⌀ 1 s
- Integratie, afstandsbediening en gegevensexport via veldbussysteem
- Dikte van de la(a)g(en): 10 μm tot enkele millimeters
- Aantal lagen: Tot 7 (afhankelijk van het materiaal)
- Meetafstand: 7 cm
- Meetnauwkeurigheid: Tot 1 μm, vanaf 100 μm laagdikte tot 1% (afhankelijk van de toepassing)
- Herhaalbaarheid: < 0,1 μm
*Afhankelijk van de configuratie
Toepassingen
Nauwkeuriger, preciezer en sneller. Ontworpen voor maximale bedrijfstijd, de robuuste TERASCOPE® biedt een bandbreedte tot 6 THz voor marktleidende meetprestaties. Specifiek ontworpen voor het meten van meerlagige systemen, kan het geautomatiseerde meetsysteem elke afzonderlijke laag detecteren en de eigenschappen ervan bepalen - contactloos, niet-destructief en nauwkeurig. En dit gebeurt volledig automatisch in slechts één werkgang.
Dankzij de extreem hoge samplingsnelheid meet de TERASCOPE® onafhankelijk van externe trillingen en levert meetresultaten binnen een superkorte tijd, ongeacht het basismateriaal, ongeacht de branche. Integreer de TERASCOPE® eenvoudig in uw kwaliteitsborgingsproces en werk met wereldwijd unieke precisie, nauwkeurigheid en snelheid.
1. Automotive
Laagdiktemeting van enkellaags of meerlaags systemen
- Verf en lak op elk substraat zoals metaal, kunststof, koolstof, enz., buitendelen zoals spoilers en bumpers, met kunststof/koolstof substraat, binnendelen zoals airbags, kunststof composietdelen, slushlagen, stof/organisch op kunststof composietdelen, accessoiredelen, bijv. accufolies, bipolaire platen van brandstofcellen, en andere
Laagdiktemeting incl. radartransmissie en -reflectie
- Kunststof buitendelen, bijv. bumpers
2. Ruimtevaart
Laagdiktemeting van enkellaags of meerlaags systemen
- Coatings op elk substraat op een grote verscheidenheid aan vliegtuigonderdelen
Detectie van onzichtbare defecten en verborgen corrosie
- Composietmaterialen, diverse metalen onderdelen en kritische componenten, vleugels, romp op koolstofvezelcomposieten, thermische barrièrecoatings in turbinebladen, en andere
3. Halfgeleiders
Testen van materiaaleigenschappen en kwaliteitscontrole
- Geleidingscoëfficiënt van de plaat, plaatweerstand, mobiliteit van vrije ladingsdragers (2DEG), ladingsdragerdichtheid, brekingsindex, diëlektrische parameters, ε' en ε'', geabsorbeerd vermogen, karakteristieken van één frequentie
4. Polymeren & Kunststofextrusie
Meten van coatings in systemen met enkele of meerdere lagen
- Batterijfolies, verpakkingen, functionele lagen zoals EVOH, co-extrusie, bijv. vloerbedekking en folies, bipolaire platen van brandstofcellen, en anderen
Onzichtbare fouten opsporen als onderdeel van kwaliteitscontroles
- Plastic onderdelen, polymeren en composieten voor functie- en veiligheidskritische componenten in alle industrieën
5. Milieu
Laagdiktemeting van enkellaags of meerlaags systemen
- Bipolaire platen van brandstofcellen, batterijfolies, fotovoltaïsche cellen, verpakkingen en andere systemen
Identificeren van verborgen gebreken en kwaliteitscontrole
- Windturbines, fotovoltaïsche cellen en andere
6. Materiaal
Diktemeting voor zowel enkellaags als meerlaags coatings
- Slijtagebescherming Diamant Like Carbon (DLC), verpakking, speciale inkt op papier, bijv. voor het bedrukken van geld, inkt en lak op papier en plaatmetaal, en anderen
Inspectie van materiaaleigenschappen en kwaliteitsbewaking
- Geleidingsvermogen van de plaat, plaatweerstand, mobiliteit van vrije ladingsdragers (2DEG), ladingsdragerdichtheid, brekingsindex, diëlektrische parameters, ε' en ε'', geabsorbeerd vermogen, enkelvoudige frequentiekarakteristieken
- voor toepassingen zoals
- 2D-materialen, bijv. halfgeleiders, grafeen, fotovoltaïsche toepassingen, speciale inkt op papier, verf en vernis op papier en plaatmetaal en andere
7. Keramiek
Meten van coatings in systemen met enkelvoudige of meervoudige lagen
- Keramiek op keramiek, bijv. email in de sanitairsector, keramiek op metaal, bijv. thermische barrièrecoatings in turbineschoepen
Detectie van onzichtbare defecten en kwaliteitscontrole
- Keramiek op keramiek, bijv. email in de sanitairsector, keramiek op metaal, bijv. thermische barrièrecoatings in turbineschoepen
Heeft u andere toepassingen? Neem dan contact met ons op!
Hoe werkt de terahertzmeting?
De TERASCOPE® maakt gebruik van terahertzgolven in een breed frequentiebereik tot 6 THz*. Met een golflengte van minder dan 1 mm zijn de terahertzgolven korter dan microgolven maar langer dan zichtbaar licht. Het bijzondere van THz-golven is dat ze talrijke organische en diëlektrische lagen kunnen doordringen. Elke afzonderlijke laag binnen een meerlaagsysteem kan afzonderlijk worden gedetecteerd.
De terahertzgolven worden in de meetkop gegenereerd door een opto-elektronische eenheid met een laser. Deze zendt ultrakorte terahertzpulsen uit die naar het monster worden gestuurd. Deze pulsen dringen door in de verschillende lagen. Bij overgangen tussen de lagen worden de golven gedeeltelijk gereflecteerd. Deze echo-pulsen bereiken de detector met kenmerkende tijdsverschillen. Aangezien elke laag en elk materiaal specifieke absorptiespectra hebben, kunnen individuele lagen en hun laagdikte nauwkeurig worden bepaald uit de signaalkenmerken, en andere parameters zoals homogeniteit en porositeit kunnen worden afgeleid.
*Afhankelijk van de configuratie
