Jump to the content of the page

Röntgenfluorescentieanalyse: De ideale methode voor kwaliteitscontrole bij galvanisatie (deel 1)

Fischer Marketing Team | 24. april 2020

Röntgenfluorescentieanalyse: De ideale methode voor kwaliteitscontrole bij galvanisatie (deel 1)

Elektroplating is een veelvoorkomend proces voor de afwerking of verbetering van metaal dat in tal van industriële toepassingen wordt gebruikt. Het belangrijkste doel van electroplating is om het basismateriaal te voorzien van decoratieve en functionele eigenschappen. Bepaalde verbindingen, waaronder zink, chroom en nikkel en hun legeringen, bieden zowel decoratieve als functionele voordelen voor het substraat, die voldoen aan de eisen van zowel de fabrikant als de eindgebruiker.

Diktevariatie is een belangrijke uitdaging in de beplatingsindustrie. De geometrie van de componenten varieert van eenvoudige vlakke oppervlakken tot complexe, ongelijke oppervlakken. Eigenschappen zoals uitsparingen, holtes en gaten zullen een lagere hoeveelheid coatingafzetting hebben in vergelijking met buitenhoeken, randen en vlakke oppervlakken. Hoewel in de afwerkingsspecificaties over het algemeen een minimum aan plaatdikte wordt vermeld, zou overplating leiden tot extra kosten, terwijl onderplating resulteert in een minder ideaal product. Met deze overwegingen in het achterhoofd is het snel en nauwkeurig kunnen meten van de coatingdikte belangrijk en beïnvloedt dit de kwaliteit van het product en de proces- en kostenbeheersing.

Röntgenfluorescentieanalyse is een snelle en nauwkeurige methode om de laagdikte te meten.

X-ray fluorescentie (XRF) analyse is een snelle en niet-destructieve methode voor het meten van de laagdikte en de samenstelling van de afzettingen van een breed scala aan materialen met een hoge nauwkeurigheid. Een groot voordeel van XRF-analyse is dat dikte en samenstelling van zowel enkele als meerdere coatings tegelijkertijd kunnen worden gemeten. Bovendien is de apparatuur eenvoudig te bedienen en duurt een meting meestal slechts enkele seconden.

XRF is een atomaire spectroscopie. Röntgenfluorescentieanalyse heeft zijn basis in het fenomeen dat, wanneer atomen in een materiaalmonster worden geëxciteerd door de primaire röntgenstraling, ze fluorescerende straling genereren (Fig. 2). De golflengte of de energie van die fluorescerende emissies is kenmerkend voor de elementaire samenstelling van het materiaal van het monster. Het aantal uitgezonden fotonen bij die specifieke energieën vertegenwoordigt het aantal atomen (massa) van het uitzendende element dat in het materiaal aanwezig is. Bovendien kan de coatingdikte worden bepaald door de sterkte van het signaal van de coatingmaterialen of door de verzwakking van de materiaalstraling van de basis.

X-ray fluorescentie (XRF) analyse is een snelle en niet-destructieve methode voor het meten van de laagdikte en de samenstelling van de afzettingen van een breed scala aan materialen met een hoge nauwkeurigheid. Een groot voordeel van XRF-analyse is dat dikte en samenstelling van zowel enkele als meerdere coatings tegelijkertijd kunnen worden gemeten. Bovendien is de apparatuur eenvoudig te bedienen en duurt een meting meestal slechts enkele seconden.

Click hier voor Deel 2!

Leave us your comment
By submitting this form, I confirm that I have read and understood the privacy policy.
Jump to the top of the page