은도금 또는 광택처리 된 은 / 구리 합금의 은 함량을 정확하게 결정하는 유일한 방법은 기본 재료를 연마하거나 톱질하여 직접 테스트하는 것입니다. -X선 형광 (XRF)은 표면의 농도 증가로 인해 은 함량이 높게 나타날 수 있습니다.
은 / 구리 합금 위에 은 코팅을 찾는 측정 응용 프로그램을 사용하는 FISCHER X-ray 형광 기기는은 코팅의 두께와 기본 재료의 순도를 비파괴적으로 측정 할 수 있습니다. 이것은 도금의 은 함량이 일관 적이기 때문에 은 도금 품목에 대해 정확하게 작동합니다. 그러나 광택처리를 하면 표면으로부터의 거리가 멀어짐에 따라 은 함량이 꾸준히 감소하여 정확한 측정이 훨씬 더 어려워집니다.
그림 1에 표시된 표면처리된 은화는 625 은 합금으로 만들어졌습니다 (즉, 62.5 % 공칭은 함량).
XRF를 사용한 간단한 재료 분석은 85 %의은 함량을 나타내며 이는 공칭은 함량보다 훨씬 큰 값입니다.
그림 2는 은 농도가 100 %에 가까워지는 동전 표면에 가까워짐에 따라 은 함량이 어떻게 증가하는지 보여줍니다.
FISCHERSCOPE X-RAY XAN® 220으로 표면 처리된 은, "은 / 구리, 은 합금"측정을 위해 특별히 제작 된 응용 프로그램을 사용하여 61.4 %의 농도를 얻었으며 이는 공칭은 함량에 매우 가깝습니다. 결과를 확인하기 위해 이 동전을 반으로 자르고 광학 장치로 인해 측정 스팟의 크기가 매우 작은 XDV-µ 기기를 사용하여 단면을 직접 측정 할 수 있습니다.
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220과 함께 특수 애플리케이션을 사용하면 은도금 및 희게 처리 된 둘 다 코팅층의 두께와 기판의 섬세함을 확인할 수 있습니다. 은 제품 – 빠르고 정확하며 비파괴적입니다. FISCHER 담당자가 추가 질문에 기꺼이 답변 해 드릴 것입니다.