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분석실 및 제조 공장을 위한 X-선 형광

귀금속의 분석 센터와 제조 공장의 경우, 재료 분석 장비는 정확한 요구 사항을 충족하여야 합니다. 단지 정확한 금 함량을 분석하는 것만이 아니라 백금 또는 은과 같은 원소를 포함한 합금의 완전한 구성을 확인하는 것이 중요합니다. 게다가 정확성과 반복성이 중요시되며 비파괴 검사로 빠르고 사용하기 쉬워야 합니다.

불꽃분석(회분법)은 금괴, 동전 또는 다양한 귀금속에 대한 금 함량을 결정하는 전통적인 방식입니다.이 분석법은 높은 정확성을 가지고 있지만 시간이 오래 걸리는 단점이 있습니다. 또한, 공정 중에 산을 사용하여 제품을 손상시키는 심각한 문제가 있습니다.

이러한 문제의 대안으로 제품을 손상시키지 않고 귀금속 성분을 분석할 수 있는 X-선 형광법(XRF)가 있습니다. FISCHER의 XRF 기기인 GOLDSCOPE SD® 550은 귀금속 성분 분석을 위하여 설계되었습니다. GOLDSCOPE SD® 550은 0.3µm 이상의 정밀도를 제공하며 회분법의 수를 줄여 시간과 재료를 절약할 수 있습니다.

GOLDSCOPE SD® 550은 한번의 측정으로 두께와 성분을 측정하며 좋은 반복성을 가지고 있습니다: 표1은 측정기의 반복성과 정밀도를 확인하기 위해서 400nm의 로듐으로 코팅된 14캐럿의 금을 10회 측정하여 나타난 결과입니다.

기본 재료 성분 및 코팅 두께의 반복 측정


Rh [µm] Au [‰] Ag [‰]

평균 0.402 583.3 31.02

표준 편차 0.001 0.150 0.188

변동 계수[%] 0.24 0.03 0.61

범위 0.003 0.518 0.55

동시에 백금의 정확한 함량이나 Ni, Cd 등의 금지 원소가 존재 여부를 측정할 수 있습니다.

SD 550의 새로운 Silicon Drift Detector는 첨단 기기와 Fischer의 우수한 분석 소프트웨어인 WIinFTM가 결합하여 우수한 성능을 제공합니다.

그리고 어떠한 제품을 측정하는지에 따라 필터와 콜리메이터(다양한 크기의 측정 지점)를 교체할 수 있습니다.

GOLDSCOPE SD 550은 빠르고 비파괴적인 귀금속 분석을 위한 최첨단 측정 장비입니다. SD 550의 측정은 회분법처럼 뛰어난 정확도와 반복성을 가지며 빠르고 쉽게 결과를 얻을 수 있습니다. 고객의 지역 Fischer 담당자가 자세한 추가 정보를 제공할 것입니다.

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