Jump to the content of the page

Fotovoltaikler için otomatik XRF sistemi

FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 sistemi, örneğin fotovoltaik gibi geniş alanlı yüzeylerde ince kaplamaların kalınlığını sürekli olarak ölçer. Bu serideki cihazlar üretim hatlarına kolayca monte edilebilen modüler birimler oluşturur. -RAY 5000 normal atmosferde veya vakum altında çalıştırılabilir.Ayrıca cihazın bakımı kolay olacak şekilde tasarlanmıştır: Ölçüm kafasına vakumu bırakmadan bakım yapılabilir.

Ürün imalat sırasında hareket ederse veya şişerse, ölçüm sonuçlarını değiştirebilir. Bu nedenle Fischer’in WinFTM yazılımı, mesafe kompanzasyonu için ek bir mesafe sensörü gerektirmeden 1 cm'ye kadar dalgalanmaları kompanze edebilen yerleşik bir işleve de sahiptir.

 

Özellikler

  • Üretim kontrol sistemlerine bağlı çalışan işlemlerde sürekli ölçüm
  • Esnek kullanım: vakumda veya havada ölçümler için; 400 ° C'ye kadar numune sıcaklıkları için
  • İsteğe bağlı olarak su soğutmalı olarak temin edilebilir
  • Zorlu koşullar altında sürdürülebilir hassas ölçümler için özellikle sağlam tasarım ve yapı
  • Olağanüstü derecede uygun geniş yüzeyli ürünler üzerinde kaplama kalınlığı ölçümü ve malzeme analizine kadar
  • X-ışını kaynağı, dedektör ve birincil filtre müşteri tarafından seçilebilir
  • Sistemler DIN ISO 3497 ve ASTM'ye uygundur B 568

Uygulamalar

  • Güneş enerjisi endüstrisinde CIGS, CIS, CdTe ve CdS katmanlarının kalınlığı
  • Metal şeritler, metalik folyolar ve plastik folyolar üzerinde sadece birkaç µm kalınlığında ince tabakalar
  • Fotovoltaiklerde CIGS, CIS, CdTe ve CdS katmanlarının bileşimi
  • Sürekli üretimde kaplama kalınlığı kontrolü
  • Püskürtme ve elektrokaplama tesislerinde proses izleme

İndirmeler

Jump to the top of the page