İnce film güneş panelleri veya folyoların imalatında (örn. CIS / CIGS, CdTe), panelin verimliliğini doğrudan etkilediği için belirtilen kalınlık ve kompozisyon sınırlarını tam olarak korumak çok önemlidir. Sadece hassas, hızlı ve güvenilir online ölçüm sistemi ile üretim parametreleri sürekli olarak izlenebilir ve böylece kaplama işlemlerinin kalitesi sağlanır.
Tipik bir ince film fotovoltaik (PV) sistemi, cam veya folyolar gibi bazar üzerine kaplanmış oldukça karmaşık bir katman istifinden oluşur. Üreticiler daha düşük maliyetli, güvenilir CdTe / CIS / CIGS ürünleri geliştirmeye çalıştıklarından, en kritik konuların bazıları aşağıdaki gibidir:
Burası, X-ışını floresans (XRF) gibi olgun, tahribatsız ölçüm teknolojisinin, tekdüzelik ve stokiyometriyi ve böylece hücre verimliliğini ve üretim verimini artırmaya yardımcı olduğu yerdir. FISCHERSCOPE® X-RAY 5400, üretim sırasında çeşitli aşamalarda sürekli online kalite kontrolü için karmaşık CIS / CIGS / CdTe sistemlerinde katman kalınlıklarının ve bileşiminin doğru ve hassas bir şekilde ölçülmesini sağlar.
- Her zamankinden daha yüksek modül verimliliği.
- 1µm'den daha düşük ince emici katmanlar.
- Tutarlı soğurucu film stokiyometrisi ve geniş alanlarda tekdüzelik.
Bu, X-ışını floresansı (XRF) gibi olgun, tahribatsız ölçüm teknolojisinin homojenliği ve stokiyometriyi ve dolayısıyla hücre verimliliğini ve üretim verimini iyileştirmeye yardımcı olduğu yerdir. FISCHERSCOPE® X-RAY 5400, üretim sırasında çeşitli aşamalarda sürekli online kalite kontrolü için karmaşık CIS/CIGS/CdTe sistemlerinde katman kalınlıklarının ve bileşimin doğru ve hassas ölçümünü sağlar.
X ışını kafaları, vakum odası sistemine soğutulmuş standart arayüzler yoluyla monte edildiğinden, alt tabaka sıcaklıklarının 500 ° C'ye yaklaştığı koşullar altında üretim makinelerinde bile kullanılabilirler.
Üretim işlemi sırasında ürünün hareketi ve şişmesi meydana gelebilir, bu da numune ve ölçüm kafası arasındaki mesafenin dalgalanmasına neden olur. Efektlerin yanıltmasını önlemek için FISCHER’in WinFTM® Yazılımı, ölçülen XRF spektrumlarında bulunan bilgileri kullanır, hareketli parça olmadan güvenilir mesafe kompanzasyonu sağlar ve böylece ikincil mesafe sensörlerine olan ihtiyacı ortadan kaldırır.
Mesafe kompanzasyonu özelliği etkinleştirildiğinde, ölçüm mesafesi, ölçüm değerlerini önemli ölçüde etkilemeden +/- 5 mm'ye kadar değiştirilebilir.
İnce film güneş pillerinin üretim kalitesi, XRF teknolojisi kullanılarak doğru ve hassas bir şekilde izlenebilir. FISCHER’in özel olarak tasarlanmışonline X-ray ölçüm başlığı FISCHERSCOPE® X-RAY 5400, ayrıca canlı prodüksiyon ortamlarının tüm sağlamlık gereksinimlerini karşılar. Daha fazla bilgi için lütfen yerel FISCHER temsilcinize başvurun.