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O multifuncional de última geração

O XDV®-SDD é um dos analisadores de fluorescência de raios-X mais poderosos do portfólio Fischer. Este espectrômetro XRF é equipado com um detector de desvio de silício (SDD) particularmente sensível. Isso permite que você meça até mesmo as camadas mais finas de forma não destrutiva - por exemplo, revestimentos de ouro com cerca de 2 nm de espessura em armações de chumbo. 

Ao mesmo tempo, o XDV-SDD é perfeitamente adequado para análises não destrutivas de materiais. Por exemplo, sua sensibilidade de detecção para vestígios de chumbo em plástico é de cerca de 2 ppm - várias ordens de magnitude abaixo dos valores exigidos por RoHS ou CPSIA.

Para que você tenha as condições ideais para cada medição, o XDV-SDD possui colimadores trocáveis ​​e filtros primários, o que permite trabalhar em nível científico. O dispositivo extremamente robusto é fácil de operar e foi projetado especificamente para testes em série em uso industrial. Recursos como o estágio de medição que se estende automaticamente e a imagem ao vivo do local de medição facilitam seu trabalho diário.

Características

  • Analisador de fluorescência de raios-X universal premium para medições automatizadas de revestimentos muito finos (& lt; 0,05 μm) e para análise de materiais finos na faixa inferior por mil de acordo com ISO 3497 e ASTM B 568
  • Detector de desvio de silício extremamente poderoso da Fischer com área efetiva extragrande (SDD 50 mm²)
  • Filtro primário trocável 6x e colimadores trocáveis 4x para otimizar as condições de medição
  • Análise de luz elementos como alumínio, silício e fósforo
  • Amostras com alturas de até 14 cm
  • Alta precisão, estágio XY programável com precisão de posicionamento de & lt; 5 µm para medições automatizadas em pequenas estruturas 
  • Construção extremamente robusta para testes em série, com excelente estabilidade de longo prazo
  • Dispositivo totalmente de proteção certificado

Aplicações

  • Teste de revestimentos muito finos nas indústrias de eletrônicos e semicondutores, por exemplo, camadas de ouro e paládio com espessura inferior a 50 nm 
  • Medição de revestimentos de materiais duros na fabricação automotiva
  • Medição de espessura de revestimento na indústria fotovoltaica
  • Análise de traços de produtos perigosos substâncias como chumbo e cádmio de acordo com RoHS, WEEE, CPSIA e outras diretivas para produtos eletrônicos, embalagens e bens de consumo
  • Análise e teste de autenticidade de ouro e outros metais preciosos, bem como ligas destes
  • Determinação direta do teor de fósforo em revestimentos NiP funcionais

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