FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

Características

Equipamento de Raio-X universal premium para medições automáticas de revestimentos muito finos (< 0,05 μm) e para análise de material fino na gama sub por mil, de acordo com a ISO 3497 e ASTM B 568
Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio
4x abertura variável para condições de medição optimizadas
6x filtro variável para condições óptimas de excitação para tarefas mais complexas
Detector de desvio de silício (SDD) extremamente potente com área efectiva extra-grande de 50 mm².
Processador de pulso digital DPP+ para maiores taxas de contagem, tempos de medição reduzidos ou melhor repetibilidade dos seus resultados de medição
Análise de elementos de Al(13) a U(92)
Altura das amostras até 14 cm
Mesa XY de alta precisão, programável com precisão de posicionamento de < 5 µm para medições automatizadas em estruturas pequenas
Método DCM para o ajuste simples e rápido da distância de medição
Instrumento totalmente protegido com aprovação de tipo de acordo com a atual legislação de protecção contra radiações

Campos típicos de aplicações

Medição de revestimentos funcionais na indústria eletrônica e de semicondutores, por exemplo, medição da espessura do revestimento de ouro até 2 nm
Análise de revestimentos finos e muito finos na indústria eletrônica e de semicondutores, por exemplo, revestimentos de ouro/paládio de ≤ 0,1 µm
Determinação de sistemas complexos multicamadas
Medição de revestimentos de materiais duros
Medição da espessura do revestimento na indústria fotovoltaica
Análise de vestígios de substâncias perigosas tais como chumbo e cádmio de acordo com RoHS, WEEE, CPSIA e outras directivas para a eletrônica, embalagem e bens de consumo
Análise e teste de autenticidade de ouro e outros metais preciosos, bem como das suas ligas
Determinação direta do teor de fósforo em revestimentos funcionais de NiP

Todo terreno de alto calibre

O FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDDD é um dos instrumentos de fluorescência de raios X mais potentes do portfólio da Fischer. Este equipamento de Raio-X está equipado com um detector de desvio de silício (SDD) de alta resolução e potente, com uma área efectiva de 50 mm². Isto permite medir mesmo as camadas mais finas de forma precisa e não destrutiva - por exemplo, revestimentos de ouro com cerca de 2 nm de espessura em armações de chumbo.

Em combinação com o novo processador de pulso digital DPP+ desenvolvido internamente, você pode aumentar o seu desempenho de medição para um novo nível. Taxas de contagem ainda mais elevadas podem agora ser processadas, resultando em tempos de medição mais curtos ou numa melhor repetibilidade dos seus resultados de medição. Ao mesmo tempo, o XDV-SDD é perfeitamente adequado para a análise não destrutiva de materiais. Por exemplo, a sua sensibilidade de detecção de vestígios de chumbo em plástico é de cerca de 2 ppm - várias ordens de magnitude inferiores aos valores exigidos pela RoHS ou CPSIA.

Para criar condições ideais para cada medição de espessura de revestimento XRF, o XDV-SDD tem colimadores e filtros primários variáveis, o que permite trabalhar a um nível científico. O dispositivo extremamente robusto, com o seu painel de controle intuitivo, é fácil de operar através de um joystick e botões, e foi concebido especificamente para testes em série em uso industrial.