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Análise de fluorescência de raios-X: o método ideal para controle de qualidade em galvanoplastia (Parte 1)

Fischer Marketing Team | 24. abril 2020

Análise de fluorescência de raios-X: o método ideal para controle de qualidade em galvanoplastia (Parte 1)

A galvanoplastia é um processo comum de acabamento ou melhoria de metal usado em inúmeras aplicações industriais. O objetivo principal da galvanoplastia é fornecer ao material de base propriedades decorativas e funcionais. Certos compostos, incluindo zinco, cromo e níquel e suas ligas, conferem benefícios decorativos e funcionais ao substrato, que atendem aos requisitos do fabricante e do usuário final.

A variação da espessura é um desafio significativo na indústria de galvanização. A geometria dos componentes varia de superfícies planas simples a superfícies desiguais complexas. Recursos como recessos, cavidades e orifícios terão uma quantidade menor de depósito de revestimento em comparação com cantos externos, bordas e áreas planas. Embora as especificações de acabamento geralmente indiquem um mínimo de espessura de revestimento, o revestimento externo resultaria em custos adicionais, enquanto o revestimento inferior resultaria em um produto menos ideal. Com essas considerações em mente, ser capaz de medir a espessura do revestimento com rapidez e precisão é importante e afeta a qualidade do produto e o controle de processo e custo.

A análise de fluorescência de raios-X é um método rápido e preciso para medir a espessura do revestimento

A análise de fluorescência de raios X (XRF) é um método rápido e não destrutivo para medir a espessura do revestimento e a composição dos depósitos de revestimento de uma ampla variedade de materiais com alta precisão. Uma grande vantagem da análise de XRF é que a espessura e a composição de revestimentos simples e múltiplos podem ser medidas simultaneamente. Além disso, o equipamento é fácil de operar e uma medição geralmente leva apenas alguns segundos.

XRF é uma espectroscopia atômica. A análise de fluorescência de raios-X tem como base o fenômeno de que, quando os átomos de uma amostra de material são excitados pela radiação-X primária, eles geram radiação fluorescente (Fig. 2). O comprimento de onda ou energia dessas emissões fluorescentes é característico da composição elementar do material da amostra. O número de fótons emitidos nessas energias específicas representa o número de átomos (massa) do elemento emissor que está presente no material. Além disso, a espessura do revestimento pode ser determinada pela força do sinal dos materiais de revestimento ou pela atenuação da radiação do material da base.

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