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For decades, Fischer has stood for measuring instruments of the highest quality and accuracy. We use the accumulated know-how in the field of measurement technology not only in the manufacture of the measuring instruments, but also for relevant services such as measuring instrument calibration. With regard to the correct calibration, we have summarized important questions and answers for you in the following.

In the following, you see important questions about the calibration of coating thickness gauges and the calibration of xrf spectrometers.

Quais parâmetros estatísticos devem ser levados em consideração para uma comparação dos valores de medição?

Os parâmetros a seguir são importantes para uma comparação de valores de medição: valor médio aritmético, desvio padrão, quantidade de medições individuais.

Sem o desvio padrão relevante e o número de medições individuais, os valores médios não podem ser comparados entre si em uma forma significativa.

Por que preciso calibrar?

Cada método de medição física é influenciado pelos parâmetros dos revestimentos e do substrato. Esses parâmetros são: geometria das peças, condutividade elétrica, magnetizabilidade, densidade do revestimento, superfície de medição etc.

Cada vez que esses parâmetros de revestimento ou substrato mudam, é necessário recalibrar o instrumento de medição . 

Estou calibrando meu instrumento de medição em uma placa plana. Agora quero medir em uma peça torneada com diâmetro pequeno. Será que pode continuar, sem qualquer calibração adicional?

Não, a calibração na placa plana causa um erro sistemático de medição em uma superfície curva. Isso significa que os valores de medição ser muito grande. Isso ocorre porque o instrumento avalia os sinais de medição da amostra (aqui: o objeto curvo) de tal maneira, como se fossem de uma amostra plana.

Por que duas partes podem receber resultados de medição diferentes? Quais seriam as razões disso?

A precisão dos instrumentos de medição é garantida pelos padrões de calibração. A calibração deve ser realizada em amostras reais não revestidas. Além disso, deve-se tomar cuidado para medir nas mesmas posições de medição. É importante fazer medições suficientes para receber um valor médio significativo.

Como verificar uma calibração para medições DFT?

Um verifica a calibração medindo novamente a folha de calibração na amostra não revestida. Tem que ser esta posição de medição, onde você mede a parte posterior também. As placas de calibração Fischer Base não são úteis para este propósito.

Quando usar uma normalização com um instrumento de raio-X FISCHER?

A normalização causa um ajuste da tarefa de medição para as configurações atuais ou para novos substratos atuais. Isso deve ser realizado no caso de modificações de filtros primários ou correntes anódicas ou colimadores. Também é necessário se as composições de liga ou substratos da amostra mudaram.

Meu instrumento de raio-X FISCHER parece medir valores implausíveis. Como posso garantir que estou medindo corretamente?

Você deve então escolher o monitoramento do equipamento de medição. Você verificará o instrumento de medição medindo novamente os padrões de calibração. Caso os valores corretos não sejam atendidos, ajustes são necessários.

O que significa uma medição de referência, com um instrumento de raio-X FISCHER?

Uma medição de referência é uma nova calibração do eixo de energia. Isso é importante para a correção de instrumentos de contagem proporcional, sobre a influência da temperatura.

Como verificar uma calibração no instrumento de raio-X FISCHER?

Para verificar a calibração, é necessário medir novamente os padrões de calibração na posição do menu 'Produto', 'Medir CAL. padrões'. Se você achar que há um desvio, o instrumento precisa ser recalibrado.

Com que frequência é necessário recertificar os padrões de calibração de raios-X FISCHER?

Isso depende do uso e o cliente pode determinar por si mesmo. Um valor típico seria a cada 1-3 anos.

É possível empilhar as folhas de calibração de Raios-X durante a calibração?

Sim, é possível. Existe uma regra geral para o uso: para instrumentos de contagem proporcional, pode-se usar 2-3 folhas. Para instrumentos com detector PIN / SDD, é possível usar uma folha.

É necessário recertificar a placa para elementos puros, para os instrumentos de raio-X FISCHER?

Isso não é necessário. Você não precisa certificar novamente a placa, porque os elementos são espessos de saturação e, portanto, muito estáveis.

O que deve ser feito se o instrumento solicitar "Material base de cal. std. definir 'e' material de base do produto 'durante a normalização ou calibração?

Aqui, o WinFTM está solicitando o material do substrato. Coloque e meça o material de base não revestido do conjunto de padrões de calibração e o material de base não revestido dos objetos sendo medidos. Cuidado: se as peças erradas forem colocadas no instrumento, isso pode afetar seriamente a exatidão dos resultados!

Qual é a diferença entre o certificado do fabricante e um certificado ISO 17025 para padrões de calibração?

Os padrões de calibração com o certificado ISO 17025 são medidos de acordo com um procedimento rígido definido pelos organismos de acreditação; eles têm menos incerteza de medição do que os padrões de calibração com um certificado do fabricante.

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