Tutoriais FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
A Grace Chua, especialista em marketing da Helmut Fischer, demonstra como é fácil usar o FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ por meio de uma série de tutoriais. O XDV®-µ é um instrumento de medição de fluorescência de raios-X com uma ótica de raios-X polcapilar para medições em componentes e estruturas muito pequenos. Todos os aparelhos são equipados com ótica polcapilar que focaliza o feixe de raios X, possibilitando pontos de medição (fwhm) com diâmetros entre 10 e 60 μm. A alta intensidade da radiação focalizada resulta em uma curta duração de medição. Além do XDV-μ universalmente aplicável, dispositivos especializados também estão disponíveis para as indústrias de eletrônicos e semicondutores. Por exemplo, o XDV-μ LD é otimizado para medição em placas de circuito impresso, enquanto o XDV-μ Wafer se destina ao uso em salas limpas.
