Jump to the content of the page

O dispositivo certo para cada aplicativo

Como a série XUL , os instrumentos FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® são ideais para analisar amostras de formato simples. No entanto, uma grande vantagem da série XAN está em seus detectores de semicondutores de alta qualidade. E a fluorescência de raios-X te permite não apenas medir a espessura dos revestimentos, mas também analisar a composição das ligas (por exemplo, cobre). 

No total, a série XAN compreende 5 espectrômetros XRF de bancada que cobrem uma ampla gama de aplicações. O XAN 215 tem um detector de PIN econômico. É ideal para tarefas simples de espessura de revestimento, por ex. zinco sobre ferro ou Au / Ni / Cu. Para aplicações mais complexas com ligas ou metais preciosos, recomendamos nossos dispositivos com um detector de desvio de silício (por exemplo, o XAN 220): Devido à sua resolução muito maior, ele pode distinguir entre ouro e platina de forma confiável. E quando você precisar detectar traços de metais pesados ​​e outras substâncias perigosas, o XAN 250 é a sua solução.

Com o XAN 220, XAN 222, XAN 250 e XAN 252, agora você pode medir com ainda mais precisão e rapidez. Como o GOLDSCOPE SD 520 e SD 550, os instrumentos são equipados com o mais recente processador de pulso digital DPP + - totalmente desenvolvido internamente pela Fischer. Usando o novo processador em conjunto com o detector de desvio de silício também disponível recentemente, maior (área efetiva de 50 mm²), ainda mais sinais da amostra podem ser processados. Isso resulta em uma excelente resolução de energia. Seu benefício: Encurte o tempo de medição em até 3 vezes ou reduza o desvio padrão absoluto da repetibilidade em até 45%.

Características

  • Espectrômetros universais de fluorescência de raios-X para análise de metais e metais preciosos, medição de espessura de revestimento e triagem RoHS de acordo com DIN ISO 3497 e ASTM B 568
  • Detectores de semicondutores premium (PIN e SDD) garantem excelente precisão de detecção e alta resolução
  • XAN 250 e 252: para medir elementos leves como alumínio, silício ou enxofre 
  • Colimador: fixo ou 4x mutável, menor ponto de medição aprox. 0,3 mm
  • Filtro primário: fixo ou alterável 6x
  • Suporte de amostra fixo ou um estágio XY manual
  • Câmera de vídeo para fácil localização do melhor local de medição
  • Amostra de até 17 cm de altura 

Aplicações

  • Análise não destrutiva de ligas dentárias, teste de prata
  • Revestimentos multicamadas
  • Análise de revestimentos funcionais de pelo menos 10 nm de espessura na indústria de eletrônicos e semicondutores
  • Análise de traços em proteção ao consumidor, por exemplo teste de presença de chumbo em brinquedos
  • Determinações de ligas metálicas de acordo com os requisitos de maior precisão na indústria de joias e em refinarias

Downloads

Nome Tipo Tamanho Baixar
Jump to the top of the page