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FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

Röntgenfluoreszenz-Analyse für höhere Ansprüche

Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® ist der hochwertige XRF-Spektrometer der XDL-Reihe. Wie seine kleinen Brüder misst er von oben nach unten, was die bequeme Analyse von komplex geformten Proben erlaubt. Um die Messbedingungen optimal für Ihre Aufgabe zu gestalten, ist das FISCHERSCOPE X-RAY XDAL serienmäßig mit wechselbaren Blenden und Filtern ausgestattet.

Je anspruchsvoller die Messaufgabe wird, desto wichtiger wird auch die Wahl des Detektortyps. Das FISCHERSCOPE X-RAY XDAL bietet deswegen 3 Varianten von Halbleiterdetektoren.

Die Silizium-PIN-Diode ist ein Mittelklasse-Detektor und eignet sich gut für Messungen mit mehreren Elementen bei relativ großer Messfläche. In der PIN-Ausführung wird das XDAL häufig für die Kontrolle von Hartstoffbeschichtungen verwendet.

Der hochwertige Silizium-Drift-Detektor (SDD) bietet eine bessere Energie-Auflösung als die Silizium-PIN-Diode. So ausgestattete XDAL-Geräte werden benutzt, um komplexe Messaufgaben in der Elektronikindustrie zu lösen: zum Beispiel die XRF-Messung von dünnen Legierungsschichten oder die Materialanalyse sehr ähnlicher Elemente wie Gold und Platin.

Für besonders hohe Ansprüche bietet Fischer auch einen SDD mit einer extra-großen Detektorfläche. Die Stärke dieses Detektors liegt in der zuverlässigen Messung von Schichten bis in den Bereich weniger Nanometer und in der Spurenanalyse im Promille-Bereich. Mit solchen XDAL-Geräten können Sie zum Beispiel den Blei-Gehalt in Loten für high-reliability Anwendungen prüfen.

Merkmale

  • Universelles XRF-Spektrometer für automatisierte Messungen von Schichten < 0,05 μm und für Materialanalyse im ppm-Bereich gemäß DIN ISO 3497 und ASTM B 568
  • 3 verschiedene Detektor-Optionen (Si-PIN-Diode; SDD 20 mm²; SDD 50 mm²)
  • 3-fach wechselbarer Primärfilter
  • 4-fach wechselbare Blenden
  • Kleinster Messfleck ca. 0,15 mm
  • Proben bis zu 14 cm Höhe möglich
  • Programmierbarer XY-Tisch mit 10 µm Anfahrgenauigkeit
  • Geschlitztes Gehäuse für die Messung an Leiterplatten
  • Bauartzugelassenes Vollschutzgerät

Anwendungen

  • Materialanalyse von Schichten und Legierungen (auch dünne Beschichtungen und geringe Konzentrationen)
  • Elektronikindustrie
  • Stecker und Kontakte
  • Gold-, Schmuck- und Uhrenindustrie
  • Messung dünner Gold- und Palladium-Schichten von nur wenigen Nanometern in der Leiterplattenfertigung
  • Spurenanalyse
  • Bestimmung von Blei (Pb) bei „high reliability“-Anwendungen 
  • Analyse von Hartstoffbeschichtungen

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