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Die Galvanik stellt ebenso hohe wie vielschichtige Anforderungen an die Qualitätssicherung. Ganz gleich, ob es um die Bestimmung der Metallionen-Konzentrationen in galvanischen Bädern oder um die Zusammensetzung, Dicke oder Mikrohärte metallischer Schichten geht: Helmut Fischer bietet langlebige Messinstrumente für die Schichtdickenmessung, XRF-Materialanalyse, Nanoindentation, Scratch-Tests und Werkstoffprüfung, die mit robustem Design überzeugen und speziell auf die Bedürfnisse der Galvanik abgestimmt sind.

XRF-Analysegeräte und Handmessgeräte für Messaufgaben in der klassischen Galvanik

So vielfältig die Anforderungen an galvanischen Oberflächen sind, so vielfältig sind die Messaufgaben in der klassischen Galvanik. Durch das umfassende Portfolio an Messgeräten ist Helmut Fischer Ihr zuverlässiger Partner zur Lösung der Messaufgaben. So sind mit dem FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD sowohl die Schichtdickenmessung als auch die Analyse des Phosphor-Gehalts einer Chemisch-Nickel-Schicht bei unterschiedlichsten Grundwerkstoffen problemlos durchführbar. Handmessgeräte wie das intuitiv bedienbare DUALSCOPE® FMP100 sind prädestiniert für Schichtdickenmessungen im Rahmen der Qualitätskontrolle in der Gestellgalvanik.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD DUALSCOPE® FMP100

Automatisierte Messtechnik für Beschichtungslinien in der Galvanik

Auch in der Galvanik lassen sich automatisierte Messinstrumente in die Beschichtungslinie integrieren. Das FISCHERSCOPE® X-RAY 4000 ist die Lösung für Inline-Messungen an galvanisch-beschichteten Bändern – präzise, zuverlässig, zerstörungsfrei. Die taktile Alternative für automatisierte Schichtdickenmessungen in einer Produktionsanlage ist das FISCHERSCOPE® MMS® PC2. Dieses wird über moderne Kommunikationsschnittstellen mit der PLC-Steuerung verbunden. Es lassen sich bis zu 8 Sonden ansteuern.

FISCHERSCOPE® X-RAY 4000 FISCHERSCOPE® MMS® PC2

XRF-Messtechnik und Zubehör für die Analyse von Galvanikbädern

Galvanikbetriebe müssen die Zusammensetzung der Beschichtungsbäder sehr eng überwachen, um einen kontinuierlich homogenen Beschichtungsprozess zu gewährleisten. Hierzu bietet Helmut Fischer das Lösungspaket: Sämtliche industriell angewendeten Fischer XRF Röntgenfluoreszenz-Spektrometer können zur Lösungsanalyse nahezu aller in der Industrie gängigen Elektrolyte eingesetzt werden. Sie benötigen nur entsprechendes Zubehör, welches in dem Lösungsanalyse-Kit enthalten ist.

Fischer XRF spectrometers

Messtechnik zur Qualitätsüberwachung von Eloxalschichten auf Aluminium

Eloxieren dient der Erhöhung der Widerstandsfähigkeit von Aluminium oder Aluminium-Legierungen sowie der optischen Akzentuierung. Mit dem FISCHERSCOPE® HM2000 bestimmen Sie nicht nur die mechanischen Eigenschaften dünner Eloxalschichten, sondern auch weitere plastische und elastische Materialparameter. Zur Vermeidung von Farbunterschieden bei dekorativen Eloxalschichten stellt die Überprüfung der elektrischen Leitfähigkeit des Ausgangsmaterials mit dem SIGMASCOPE® SMP350 und der Sonde FS40 eine geeignete Qualitätssicherungsmaßnahme dar.

FISCHERSCOPE® HM2000 SIGMASCOPE® SMP350

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