Lesen Sie hier den Beitrag aus der Galvanotechnik (06/2021, S. 751 – 754, Eugen G. Leuze Verlag) über die Eigenschaften von Sn-Schichten auf Cu-Legierungen – und wie man die Schichten optimal misst. Durch XRF Röntgenfluoreszenz-Messung in Kombination mit dem coulometrischen Verfahren können je nach Schichtsystem und Substrat die Schichtdicke und intermetallische Phase (IMP) bestimmt werden. Dank seiner umfassenden Expertise und dem vielfältigen Messgeräte-Portfolio bietet Helmut Fischer die hierfür maßgeschneiderte Messtechnik: das FISCHERSCOPE® X-RAY 4000 für Inline-Messungen in Echtzeit sowie das COULOSCOPE® CMS2.
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Wir sind Ihr zuverlässiger Partner im Bereich der Oberflächenprüfung. Seit 1953 entwickeln wir Lösungen für die Schichtdickenmessung, Materialanalyse, Nanoindentation und Werkstoffprüfung. Ob Sie ein Handgerät für die mobile Messung, ein zuverlässiges Tischgerät oder eine vollautomatische Messlösung für die Qualitätskontrolle in Ihrer Produktion benötigen: Als führender Hersteller von Messinstrumenten finden Sie bei uns für jede Anwendung die richtige Lösung.
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Das Rundum-Sorglos-Paket für Sie.
Einfach eine runde Sache: Wir bieten Ihnen von Anfang bis Ende alles, was Sie für eine sichere Messung benötigen. Von der Beratung über die Inbetriebnahme und Schulung bis zum After Sales.
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