FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®
patentierte DCM-Methode
Vollschutzgerät
Messfenster auf dem Markt
XRF-Automation für Einsteiger.
Die Geräte der FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® Serie sind prädestiniert für die Messung in der Qualitätssicherung, Eingangskontrolle und Fertigungsüberwachung. Sie sind eng mit der XUL® Serie verwandt, mit einem bedeutenden Unterschied: der Messrichtung von oben nach unten! Das bedeutet für Sie eine bequeme Analyse von unebenen Proben sowie die Möglichkeit einer automatisierten Messung.
Auch für große Proben.
Haube mit C-Schlitz
Built to last.
Robuste Bauweise für die Messung an Massenteilen
Prüfung mehrerer Messpunkte.
Selbst bei großflächigen Mustern sind Messpunkte auf der ganzen Musterfläche möglich
Inbetriebnahme.
Extrem schnell und einfach
Maßgeschneidert.
Verschiedene Modelle bieten die optimale Lösung für Ihre Applikation
Quick-Measure-Design.
Mit wenigen Handgriffen ist das Muster platziert und bereit für die Messung
Ausgestattet mit WinFTM®, der leistungsstärksten Software auf dem Markt für die Schichtdickenmessung und Materialanalyse mittels Röntgenfluoreszenzanalyse.
Die Haube mit C-Schlitz erlaubt zusätzlich Messungen von großen und flachen Mustern.
Von planer Messgutauflage bis zum programmierbaren XY-Tisch: Die XDL® Serie lässt keine Wünsche offen.
Bei den Modellen mit XY-Tisch unterstützt ein Laser-Pointer als Positionierhilfe das schnelle Ausrichten der zu messenden Probe.
Das integrierte Videomikroskop mit Zoom und Fadenkreuz macht die schnelle Ausrichtung der Probe und die präzise Festlegung der Messstelle extrem einfach.
Merkmale
Standard-Röntgenröhre
Blende: fest oder 4-fach wechselbar*
Primärfilter: fest oder 6-fach wechselbar*
*je nach Gerät
Bis zu 155/140/90/25 mm Probenhöhe möglich, je nach Gerät
Kleinster Messfleck ca.: Ø 0,2 mm
Bestimmung des Metallgehalts in galvanischen Bädern mit entsprechendem Zubehör
Verschiedene Messtischoptionen
Bauartzugelassenes Vollschutzgerät
Proportionalzählrohr-Detektor für kurze Messzeiten und kleine Messflecke
Anwendungsbeispiele
- Galvanische Beschichtungen wie z. B. Zink auf Eisen als Korrosionsschutz
- Serielle Prüfung von Masseteilen
- Dekorative Chrom-Beschichtungen, z. B. Cr/Ni/Cu/ABS
- Alle typischen Chrombeschichtungen, Cr(VI) und neue wie Cr(III)
- Messung von funktionalen Gold-Beschichtungen auf Leiterplatten wie z. B. Au/Ni/Cu/PCB oder Sn/Cu/PCB
- Beschichtungen von Steckern und Kontakten in der Elektronikindustrie wie Au/Ni/Cu und Sn/Ni/Cu
- Bestimmung des Metallgehalts von galvanischen Bädern
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Application Notes
Produktvideos
Tutorials
Webinare
Broschüren
Application Notes
AN001 Au/Pd-Schichten im nm-Bereich auf Leiterplatten 0.48 MB AN016 Messung von Cr/Ni/Cu-Schichten auf Kunststoff 0.21 MB AN042 Analyse des Metallgehalts von galvanischen Bädern 0.64 MB AN092 Worauf bei der Wahl eines Röntgenfluoreszenzanalyse Geräts zu achten ist 1.25 MB AN094 Röntgenfluoreszenzanalyse mit Proportionalzählrohr – das sind die Vorteile 0.36 MBProduktvideos
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