Medição de revestimentos Cr/Ni/Cu de um chuveiro
Um chuveiro geralmente tem uma aparência prateada brilhante, podendo ser de metal sólido. No entanto, o substrato é muitas vezes plástico. A composição típica da camada é cromo / níquel / cobre em um substrato de plástico.
Os revestimentos decorativos de cromo têm cerca de 0,5 μm ou até menos, o revestimento de níquel é de 5 - 10 μm, a camada de cobre é de até 30 μm ou até mais espessa. O método de fluorescência de raios X (XRF) é um método de medição não destrutivo a ser usado.
A Figura 1 mostra a configuração de medição em um FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®. Uma aplicação de medição determinando os revestimentos de cromo, níquel e cobre em um componente de plástico foi usada para realizar a medição.
Os seguintes pontos na Figura 2 devem ser considerados nesta medição: alinhamento da amostra com o detector (tubo de contagem proporcional) . </ p>
A medição deve ser sempre feita no ponto mais alto. Além disso, é importante saber como o detector está alinhado no dispositivo de medição. Se o chuveiro estiver disposto longitudinalmente ao detector, deslocamentos menores da posição de medição não têm grandes efeitos no resultado.
Evite inclinar
A amostra não deve ser inclinada, ou seja, o ponto a ser medido deve ser absolutamente horizontal. Deve-se prestar atenção especial a este requisito, pois muitas vezes não há superfícies planas na amostra.
Vídeo correto com foco no ponto de medição
Se o foco não estiver correto no ponto de medição, o software analítico assumirá uma distância de medição incorreta. Isso pode levar a medições incorretas.
Espessura de saturação XRF
Existem limites físicos para a medição de XRF. Se a espessura do revestimento for muito grande, existe o risco de saturação. Este limite pode ser estimado em dispositivos com software WinFTM® para uma aplicação de medição existente.
Na Figura 3 , o limite da faixa de medição foi determinado para o revestimento de cobre, supondo que os revestimentos de acabamento de cromo e níquel tenham 0,2 μm e 7,5 μm de espessura, respectivamente. A faixa de medição para o revestimento de cromo abaixo deles é de aproximadamente 1 a 25 μm.
Existe também a opção alternativa de determinar as espessuras das camadas de revestimentos de Cr / Ni / Cu coulometricamente. Neste método, os revestimentos são removidos sucessivamente na área de medição e a espessura do revestimento determinada no COULOSCOPE® CMS por meio do tempo de remoção.
A Tabela 1 mostra as espessuras de revestimento medidas: no método XRF, quatro locais foram medidos em torno de cada área de medição coulométrica. Cada um dos resultados coulométricos consiste em uma medição para cada elemento de revestimento. Os valores medidos para os dois métodos são muito próximos um do outro, mas um observador experiente notaria que os métodos não chegam exatamente aos mesmos resultados.
As razões para as diferenças podem ser encontradas no posicionamento da amostra na medição de XRF; a não homogeneidade nos revestimentos também pode desempenhar um papel. No caso do cobre, também é verdade que a amostra está próxima da espessura de saturação XRF e que a imprecisão da medição aumenta fortemente como consequência.
