X-RAY XAN®500, strumento di misura portatile XRF per analisi rapide e non distruttive
Se il campione non può andare allo strumento, lo strumento deve andare al campione! Con FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500, Fischer offre uno strumento portatile a fluorescenza da raggi X (XRF) ottimizzato per la misura dello spessore del rivestimento e l'analisi dei materiali delle leghe.
Nonostante le sue piccole dimensioni, XAN500 è uguale a qualsiasi strumento XRF disponibile in laboratorio. Il suo moderno rilevatore Silicon Drift Detector (SDD) garantisce risultati di misura corretti in pochi secondi e affidabilità nelle misurazioni complesse che coinvolgono più strati e varie leghe.
Soprattutto per le misure degli spessori del rivestimento, è molto importante garantire che la distanza tra lo strumento e il campione rimanga costante e il percorso del raggio sia diritto. Il supporto a 3 punti di XAN500 consente di impostare lo strumento in modo sicuro e stabile ed eseguire una misura accurata dei rivestimenti. Il risultato viene mostrato direttamente sul display dello strumento. Per un'ulteriore valutazione dei dati, XAN500 è dotato del software completo WinFTM®.
La misura dello spessore del rivestimento e l'analisi del materiale con WinFTM si basano entrambe sull'analisi dei parametri fondamentali. Ciò rende possibile misurazioni precise senza bisogno di calibrazione preventiva, ovvero senza standard. E nel caso in cui sia sufficiente ottenere il massimo grado di precisione, offriamo anche standard certificati DAkkS che rendono la calibrazione dello strumento per la tua specifica attività di misura rapida e semplice.
Per saperne di più guarda il video qui sotto oppure contattaci per ulteriori informazioni!
