Instrumentos de medición de mesa

Los instrumentos de mesa para el grosor de recubrimientos de Fischer, mediante fluorescencia de rayos X o tecnología de medición táctil con distintas sondas, ofrecen flexibilidad y rendimiento insuperable. Debido a la gran variedad de técnicas de medición utilizadas, ofrecen la solución perfecta para cualquier tarea. Los instrumentos de mesa se integran fácilmente en los sistemas de producción y gestión de calidad mediante interfaces de software y hardware.

XAN500

Un solo instrumento con tres opciones de trabajo diferentes: el XAN®500 no es solamente un dispositivo XRF portátil y flexible; también se puede convertir en una unidad de sobremesa o integrar en las líneas de producción.

MMS PC2

Sistema modular para distintas técnicas de medición: ideal para trabajos variables en conexión con medición del grosor de recubrimiento y comprobación de materiales.

BETASCOPE

Medición de grosor de recubrimiento mediante el método de retrodispersión de partículas beta: para capas finas incluso menos de 3 µm, así como capas blandas y recubrimientos de plástico.

CMS2

Instrumento de mesa para la medición del grosor de casi todos los recubrimientos metálicos, incluidos multicapas, en sustratos metálicos o no metálicos.

Series GOLDSCOPE

Los equipos de fluorescencia de rayos X de la serie GOLDSCOPE están diseñados, específicamente, para analizar aleaciones de oro y otros metales preciosos

Series XAN

Instrumentos de medición para un análisis rápido y rentable de joyas de oro y otros metales preciosos.

Series XUL

Instrumentos robustos basados en la fluorescencia de rayos X para una medición rápida y económica del grosor de recubrimiento, especialmente en la industria de galvanoplastia.

Serie XDL

El todoterreno: con múltiples opciones de configuración, los instrumentos XDL son ideales para mediciones manuales o comprobaciones en serie del grosor de recubrimiento y las composiciones de material.

XDV-µ Series

Instrumentos de fluorescencia de rayos X de alto rendimiento, incluyendo modelos adaptados especialmente a las necesidades de la industria electrónica y de los semiconductores

XUV

Instrumentos por fluorescencia de rayos X con cámara de vacío para el análisis de elementos livianos.

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