X 射线

何时使用 FISCHER X 射线仪器的标准化?

标准化将导致针对当前设置或新基质的测量任务调整。修改主滤光镜、阳极电流或准直器时必须执行该操作。如果合金成分或样品的基质已改变,也需要执行该操作。

我的 FISCHER X 射线仪器似乎测量出了不太合理的值。我如何确定我的测量是正确的?

您应该选择测量设备监控。您将通过重新测量校准标准对测量仪器进行检查。如果与正确值不匹配,则需要进行调整。

对于 FISCHER X 射线仪器而言,参考测量代表什么?

参考测量是能量轴的新校准值。这与正比计数器的校正有关,并受温度的影响。

如何检查 FISCHER X 射线仪器上的校准?

为了检查校准,有必要在菜单位置“产品”,“测量校准标准”中重新测量校准标准。如果发现任何偏差,则需要对仪器进行重新校准。

X 射线测量的测量点有多大?

测量点取决于准直器与测量距离。典型值为:30 µm - 3mm。

FISCHER X 射线仪器是否具有辐射保护?

我们的大多数仪器均为保护措施齐全的仪器,其设计符合德国 X 射线条例。

使用 X 射线法可以测量什么?

可以测量最小原子数为 11 的元素以及约 0.005 µm 到 60 µm 的涂层厚度。这取决于环境介质(空气、氦、真空)、探测器、测量点大小以及原子数,当然还有应用。 

掩码“数据导出”代表什么?

通过导出掩码可以定义将导出哪些参数以及发送数据的时间和目的地。然后测量数据将导出为文本文件。

在校准期间是否能够堆叠 X 射线校准箔?

是的,可以。有一个大致的使用原则:对于正比计数器,可以使用 2-3 个箔。对于配有 PIN/SDD 探测器的仪器,可使用 1 个箔。

是否需要为 FISCHER X 射线仪器重新认证板的纯元素?

不需要。您无需重新认证板,因为元素具有饱和厚度,因此非常稳定。

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