看看我們最新的 FISCHERSCOPE® XDAL® 和 XDV®,以及最先進的 FISIQ® X 軟體。 瞭解更多!

FISIQ® X

新增
FISIQ® X

首款採用人工智慧技術的 XRF 軟體。

市面上最新、最準確、最聰明的 XRF 塗層厚度測量和材料分析軟體。

塗層厚度測量:最多
快 6 倍 ¹
材料分析:最多
快 13 倍 ²
基於工作流程
的使用者介面
¹ ² 顯示更多
顯示更少

¹ 金/鈀/鎳/銅鐵塗層系統的測量。比較WinFTM® 6和FISIQ® X 的計算時間。
² 含有 9 種不同元素的金合金層的材料分析。比較WinFTM® 6和FISIQ® X 的計算時間。

透過簡化高效的工作流程提高生產力。

最大限度地減少用戶影響,最大限度地簡化測量:這就是FISIQ®X 這款最直觀、最現代的 XRF 軟體所要實現的目標。透過適合使用者的選單,軟體將手把手地引導您完成基於工作流程的測量流程。改進後的演算法具有出色的穩定性、準確性和最大的可重複性,從而大大縮短了測量時間。FISIQ®X 目前可用於FISCHERSCOPE® XDAL®FISCHERSCOPE® XDV®設備。

現代化的使用者介面。

中央操作功能和資訊一目了然

智慧工作流程。

測量過程高效,操作簡便

改進的演算法引擎。

即使是最具挑戰性的測量任務,也能實現出色的穩定性、準確性和最高的重複性

支持人工智能的光譜模式。

比以往任何時候都更方便地分析和比較光譜

可溯源的測量結果。

簡單、有指導的校準工作流程和帶有 DAkkS 證書的 Fischer 校準標準

校準。

標準庫,可對校準標準進行清晰管理

工作流程--簡單高效。

校準
測量
分析
報告

 

  1. 輕鬆建立校準
  2. 從標準庫中選擇標準
  3. 測量標準
  4. 校準成功
校准工作流程 FISIQ X

 

  1. 從任務欄中選擇程序
  2. 放置樣品
  3. 啟動測量程序
  4. 輕鬆查看結果
测量工作流程 FISIQ X

 

  1. 放置樣品
  2. 測量光譜
  3. 即時辨識元素
  4. 查看光譜顯示的濃度
分析工作流程 FISIQ X

 

  1. 選擇結果區塊
  2. 選擇報告模板
  3. 一鍵匯出
  4. 自動產生 PDF
报告工作流程 FISIQ X
  • 校準

       

      1. 輕鬆建立校準
      2. 從標準庫中選擇標準
      3. 測量標準
      4. 校準成功
      校准工作流程 FISIQ X
  • 測量

       

      1. 從任務欄中選擇程序
      2. 放置樣品
      3. 啟動測量程序
      4. 輕鬆查看結果
      测量工作流程 FISIQ X
  • 分析

       

      1. 放置樣品
      2. 測量光譜
      3. 即時辨識元素
      4. 查看光譜顯示的濃度
      分析工作流程 FISIQ X
  • 報告

       

      1. 選擇結果區塊
      2. 選擇報告模板
      3. 一鍵匯出
      4. 自動產生 PDF
      报告工作流程 FISIQ X
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