FISIQ® X
新增
簡潔現代的
使用者介面
使用者介面
引導式且高效的
工作流程
工作流程
多種
使用者角色
使用者角色
旨在提升您的生產力。
更智慧、更快速、更易用——這就是 FISIQ® X，市場上最直觀、最現代的XRF軟體！使用 FISIQ® X，您的鍍層厚度測量速度可提升最高達6倍*，材料分析速度可提升最高達13倍*——得益於改進的演算法和AI輔助的光譜分析，旨在滿足現代需求。FISIQ® X 適用於 FISCHERSCOPE® XDAL® 和 FISCHERSCOPE® XDV® 設備，使您的品質控制面向未來！
* WinFTM® 6 與 FISIQ® X 之間的計算時間比較。
現代化的使用者介面。
中央操作功能和資訊一目了然
智慧工作流程。
測量過程高效，操作簡便
改進的演算法引擎。
即使是最具挑戰性的測量任務，也能實現出色的穩定性、準確性和最高的重複性
支持人工智能的光譜模式。
比以往任何時候都更方便地分析和比較光譜
可溯源的測量結果。
簡單、有指導的校準工作流程和帶有 DAkkS 證書的 FISCHER 校準標準
校準。
標準庫，可對校準標準進行清晰管理
有了 FISIQ® X，您可以透過簡化和高效的工作流程來提高生產力。
不僅在 AI 支援的光譜模式下，比較與分析光譜變得更快速、更簡單。
FISIQ® X 也支援快速批量分析，幫助您高效識別未知材料組成。
利用簡單而有指導性的校準工作流程測量標準物質，並從即用型標準物質庫中獲益。
利用拖放功能輕鬆預設測量程序，提高製程安全性，確保結果的一致性和可重複性。
放入樣品並啟動測量程序。即時影像和所有相關資訊都會清晰顯示，讓您一目了然。
只需點擊幾下，就能立即識別元素、一目了然地查看所有結果並產生報告。
FISIQ® X 與我們的 FISCHERSCOPE® XDAL® 和 FISCHERSCOPE® XDV® 相容 - 讓您的品質控制更上一層樓！
工作流程--簡單高效。
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