FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL
新增
以實現最大吞吐量
在同類產品中穩定性出眾
實現完美的樣品處理
專為要求苛刻的PCB而打造。旨在實現最大吞吐量。
快速、精準、可靠——這就是我們的 FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL！作為備受信賴的FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB 的放大版，這款強大的儀器可協助您高效應對大規模 PCB 應用，並提供業界領先的測量精度。 該儀器配備同類產品中最大的測量區域、自主研發的多毛細管光學系統、大型矽漂移探測器以及微聚焦電子管 Ultra，具備您所需的一切功能，即使是對最精細的結構和最薄的鍍層（如 ENIG、ENEPIG、浸銀或浸錫表面），也能實現高通量的品質控制。 探索專為標準系統無法處理的PCB規格而設計的測量解決方案！
僅需一套系統即可測量大型PCB。
同類產品中最大的測量區域，610 × 610 毫米（24 × 24 英吋），支援一次性定位
真空吸盤 確保樣品處理完美無缺。
即使是最薄的PCB也能被牢固地固定在原位，無需重新定位（可選配）
免手動工作台回縮－不僅方便更高效。
透過腳踏開關，在 XRF 測量過程中有效率且安全地處理大型 PCB
為智慧工廠做好準備。
可無縫整合到自動化生產線中—或作為獨立設備使用
自動確定正確的測量位置。
智慧圖案識別可加快測量流程，並最大限度地減少人工干預
業界領先的測量精度。
長期保持準確且可重複的測量結果
卓越的機架設計。
堅固耐用的工業級組件和久經考驗的耐用設計，確保卓越的穩定性
符合 IPC 標準的可靠結果。
符合PCB塗層的相關IPC標準，確保最高程度的製程可靠性和品質保證
使用全新的 FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL，可快速、精確且可靠地測量塗層厚度。
專為大型PCB設計。旨在實現最大吞吐量。
該設備採用單次定位技術，測量面積在同類產品中最大，達610 × 610毫米（24 × 24英寸），使您能夠僅憑一套系統即可測量要求苛刻的PCB。真空吸盤可將最薄的PCB牢固地固定到位（可選配）。
透過腳踏開關，可實現免手動操作的檯面收回，從而在進行X射線螢光（XRF）測量時，能夠安全、高效地處理大型PCB。
智慧圖案辨識功能可自動找到正確的測量位置，從而加快流程速度，並將人工干預降至最低。
採用堅固耐用的工業級組件，確保卓越的穩定性，並採用久經考驗的耐用設計。
功能
配備鎢陽極的微聚焦管 Ultra，可在最小光斑下實現更卓越的性能；可選配鉬陽極
4種可更換濾片
樣品高度最大可達10毫米
多毛細管光學系統可在高激發強度下實現特別小的測量光斑，並縮短測量時間
測量光斑直徑約 10 µm 或 17 µm（全寬半高）
高精度、可程式測量台，適用於最大尺寸為 610 x 610 毫米的 PCB，可選配真空吸盤
20 mm² 或 50 mm² 的矽漂移探測器，可在薄膜上達到最高精度
DPP+ 即使在測量時間較短的情況下也能達到最高精度
用於啟動載台彈出功能的腳踏開關
應用範例
- 可對尺寸最小的平面元件以及最大尺寸達 610 x 610 毫米（24 x 24 吋）的 PCB 上的結構進行測量
- 可分析極薄鍍層，例如厚度≤3 nm或10 nm的金/鈀層
- 自動化測量，例如在品質控制中
- 配備 10 μm 多毛細管光學組件選購：結合大型矽漂移偵測器，實現最小測量光斑的測量
- 選擇配備真空吸盤：可對柔性PCB進行測量
- 完全符合 IPC 標準 4552 和 4556（ENIG、ENEPIG）、4553A（銀）以及 4554（錫）
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