FISCHERSCOPE® XDAL®
新增
6x
¹ ²
更快定位
更快定位
14x
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更快的自動對焦
更快的自動對焦
10x
¹
更高的攝影機分辨率
更高的攝影機分辨率
¹ ² 顯示更多
顯示更少
¹ 與 FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237 相比。
² 取決於樣品表面。
操作簡便，速度最快，精度最高。
FISCHERSCOPE® XDAL® 是薄塗層和極薄塗層 < 0.05 μm 領域以及 ppm 範圍內材料分析的理想之選。該設備版本配備了最新一代功能強大的偵測器，即 50 mm² 矽漂移偵測器。 直觀的狀態指示燈和自動測量罩以及現代化的FISIQ® XRF 軟體確保了測量過程的順利進行，從而實現了更大的便利性、安全性和最高產量。
高速 Z 軸。
用於快速定位樣品
2 秒內自動對焦。
快速採集與聚焦測量對象，實現更有效率的測量過程
高解析度概覽相機。
透過更清晰、更細膩的影像，更好地縱覽全局
多區域 LED 照明。
無論表面如何，始終保持完美照明
自動測量罩。
手動或自動操作，實現最大彈性
優化的測量幾何形狀。
X 射線管、樣品和探測器之間的間距加大，測量精度無與倫比
直覺的狀態指示燈。
設備狀態一目了然
具有多區 LED 照明的細節照相機：對所有樣品表面（霧面、亮光、反光）進行最佳照明。
只需按下按鈕或透過軟體控制即可開啟和關閉的電動罩。實現平穩高效的流程。
改進後的 X 射線管、樣品和探測器之間的距離可確保最大強度，並確保無與倫比的測量精度，從而獲得最可靠和高品質的結果。
LED 燈帶可顯示設備的狀態，一目了然。藍光表示待機模式，綠光表示設備已準備好進行測量，橙色脈動表示正在進行測量。
FISIQ® X：首款支援人工智能光譜模式的現代 XRF 軟體。透過簡化高效率的工作流程來提高您的工作效率。
特色
具有鎢陽極的微聚焦管，可根據要求提供其他陽極
用於自動測量較大樣品的 C 型槽外殼
矽漂移檢測器 20 mm² 或 50 mm²，用於檢測薄層的最高精度
4 個可變準直孔和 6 個可變濾片
型式認可的全保護裝置
軟體 FISIQ® X 具有人工智能支援的頻譜模式，可實現更智慧的測量過程
自上而下無階段測量距離
樣品高度可達 140 mm
用於自動測量的可程式測量台
應用實例
- 分析 ≤ 0.1 μm (0.004 mils) 的極薄塗層
- 測量電子和半導體產業中的功能塗層，例如引線框架、連接器或印刷電路板上的塗層
- 確定複雜的多塗層系統
- 自動測量，例如在品質控制中
- 確定焊料中的鉛含量
- 測定鎳磷塗層中的磷含量
- 確定印刷電路板的表面處理
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FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®
