FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB
即使測量時間很短
與最小的 光斑尺寸 10 µm (FWHM)
用於可靠測量小型結構
¹ DDP+ 與 DPP 相比性能提升高達 50%,顯著提高了標準差,從而提高了測量能力或顯著縮短了測量時間.
² Fischer 製造的高階毛細管光學元件-世界上唯一擁有自己的多毛細管生產能力的 X 射線螢光測量儀器製造商. 提供三種不同的高階多毛細管-適合您每種應用的正確解決方案: 10 µm 無光暈、20 µm 無光暈或 20 µm 一般.
PCB 的自動化 XRF 品質控制.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB 是利用 X 光螢光對 PCB 進行可靠品質控制的真正專家. 由於強大的矽漂移偵測器、Ultra 微聚焦管和多毛細管光學元件,XRF 儀器能夠以非常小的測量點以非常高的強度進行測量. 這使您能夠可靠地確定最薄的層. 該裝置也符合 ENIG 和 ENEPIG 的 IPC 要求 4552 和 4556,以及 4553A(Silver)和 4554(Tin).
迎接所有挑戰.
為艱鉅的測量任務提供可靠、快速的結果
全自動化.
讓您的儀器為您服務
PCB 專家.
印刷電路板專業測量解決方案,符合IPC標準
市場上最先進的多毛細管光學技術.
我們內部製造的多毛細管光學元件可在短時間內提供出色的測量結果
準確和精準.
透過自動影像辨識在小型結構上定位測量點
調試.
極為快速且簡單
DPP+ 數位脈衝處理器.
縮短測量時間或改善標準差*
*與DPP 相比
特色
具有鎢陽極的 Ultra 微聚焦管, 的最小點上實現更高的性能; 可選鉬陽極
4 個可變過濾器
樣品高度可達 10 毫米
多毛細管光學元件可在高強度下達到特別小的測量點、短測量時間
測量點大約.: Ø 10 或 20 µm(半高寬)
高精度、可程式測量台,適用於最大 610 x 610 mm 的 PCB,可選配真空夾具
20 或 50 mm² 矽漂移偵測器可在薄膜層上實現極高精度
即使測量時間很短,DPP+ 也能達到極高精度
應用實例
- 測量 PCB 上尺寸最大為 610 x 610 毫米(24 x 24 英吋)的最小扁平元件和結構)
- 分析非常薄的塗層,例如 ≤ 3 nm 或 10 nm 的金/鈀鍍層
- 品質控制等自動化測量
- 使用 10 μm 選項: 結合大型矽漂移偵測器以最小測量點進行測量
- 使用真空工作台選購: 測量柔性 PCB
- 完全符合 IPC 標準 4552 和 4556(ENIG、ENEPIG)、4553A(銀)和 4554(錫)
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應用筆記
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications 0.72 MB AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition 0.67 MB AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards 2.40 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN105 μ-spot measurements of tin and tin alloy coatings on PCBs 0.82 MB教學
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