FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

產品可能因型號或功能而有所不同

 

最小的測量點,最大的測量距離.

使用多毛細管完成高要求的測量任務: 具有多毛細管 X 射線光學元件的高階 XRF 測量設備,用於以最小的測量點和最大的測量距離測量最小的零件.

高達 50% ¹性能提升
表現得益於DPP+
60微米
最小光斑尺寸
12毫米
最大測量距離 - 同級最佳!
¹ 顯示更多
顯示較少

¹ DPP 與 DPP+ 相比,顯著提高了標準偏差,從而提高了測量能力或顯著縮短了測量時間.

 

性能處於最佳狀態.

複雜形狀小型測試零件的亮點. 無與倫比的測量距離與最小的測量點和 Ultra 微焦管相結合,以最小的測量運動實現更高的性能,使 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD 成為業界領先的 XRF 儀器.

迎接所有挑戰.

為雄心勃勃的測量提供可靠、快速的結果

市場上最先進的多毛細管光學技術.

我們內部製造的多毛細管光學元件可在較短的測量時間內提供出色的測量結果

準確和精準.

透過自動影像辨識在小型結構上定位測量點

全自動化.

只需一鍵點擊即可讓您的儀器為您服務

DPP+ 數位脈衝處理器.

縮短測量時間或改善標準差*

*與DPP 相比

  • 特色

      具有鎢陽極的 Ultra 微聚焦管, 的最小點上實現更高的性能; 可選鉬陽極

      可變換過濾器

      由於 DPP+,計數率更高並顯著縮短了測量時間.

      多毛細管光學元件可實現特別小的測量點、短測量時間和高強度

      測量點大約.: Ø 60 微米

      電鍍液中金屬含量的測定及相應附件

      矽漂移偵測器具有 20 或 50 mm² 有效面積,可實現薄層的最高精度

      樣品高度可達 135 毫米

  • 應用實例

      • 測量最小的元件和結構,如組裝和複雜形狀的 PCB、插頭觸點、接合區域、SMD 元件或細線
      • 電子和半導體產業功能層的測量
      • 複雜多層系統的測定
      • 自動測量,例如品質控制

      您有進一步的應用嗎?? 那就聯繫我們!

應用筆記
產品影片
教學
網路研討會
宣傳冊
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
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