FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD

產品可能因型號或功能而有所不同

 

高階全能型產品.

用於檢測極薄或複雜層的通用型高階機型, 以極低的檢測極限進行 RoHS 篩選.

高達 50% ¹性能提升
表現得益於DPP+
4個
可變孔徑
6個
可變過濾器
¹顯示更多
顯示較少

¹ DPP 與 DPP+ 相比,顯著提高了標準偏差,從而提高了測量能力或顯著縮短了測量時間.

 

X 射線螢光分析符合普遍的最高要求.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD 是 Fischer 產品組合中最強大的 X 光螢光儀器之一. 透過這款高階型號將您的測量性能提升到一個新的水平: 與內部開發的數位脈衝處理器 DPP+ 結合,現在可以處理更高的計數率,從而減少測量時間或提高測量結果的可重複性.

經久耐用.

堅固耐用的設計可滿足特別高的要求

全自動化.

只需一鍵點擊即可讓您的裝置為您服務

快速量測設計.

只需幾個簡單的步驟,即可放置樣品並準備進行測量. 可以自動測量許多零件

快速.

由於測量時間短,您可以節省寶貴的時間

RoHS 分析.

污染物測定檢測精度高、性能突出

DPP+ 數位脈衝處理器.

縮短測量時間或改善標準差*

*與DPP 相比

  • 特色

      帶有鎢陽極的微聚焦管

      矽漂移偵測器 50 mm²,超大有效面積 50 mm²

      電鍍液中金屬含量的測定及相應附件

      測量點大約.: Ø0.25毫米

      由於 DPP+,計數率更高並顯著縮短了測量時間.

      型式認可的全保護裝置

      樣品高度可達 140 毫米

      4個可變孔徑與6個可變過濾器

  • 應用實例

      • 測量電子和半導體產業的功能塗層,例如確定低至 2 nm 的金塗層厚度
      • 分析電子和半導體產業中的薄塗層和極薄塗層,例如 ≤ 0.1 μm 的金/鈀層
      • 複雜多層系統的測定
      • 光伏、燃料電池和電池應用的塗層厚度測量
      • 根據 RoHS、WEEE、CPSIA 和其他電子、包裝和消費品指令對鉛和鎘等有害物質進行微量分析
      • 黃金及其他貴金屬和貴金屬合金的分析和真偽檢查
      • 直接測定 NiP 功能層中的磷含量
      • 電鍍液金屬含量的測定

      您還有進一步的應用嗎? 那就聯繫我們!

應用筆記
產品影片
教學
網路研討會
宣傳冊
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
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菲希爾見解.

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