FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®
透過調整測量距離
專利 DCM 方法
專利 DCM 方法
型式核准
完善的保護裝置
完善的保護裝置
在市場上
最大的
測量視窗 PC 偵測器
測量視窗 PC 偵測器
適合入門的 XRF 自動化.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 系列儀器專門用於品質保證、進貨檢驗和生產監控中的測量. 它們與XULM®系列,有一個顯著差異: 測量方向自上而下! 這意味著您可以方便地分析不均勻的樣品以及自動測量的可能性.
同樣適用於大樣品.
含有 C 型槽的護罩
持久耐用.
用於測量批量生產零件的穩健設計
多測量點的測定.
即使對於大型樣品,也可以在整個樣品表面上進行測量點
調試.
極為快速且簡單
量身訂製.
不同的型號為您的應用提供最佳解決方案
快速量測設計.
只需幾個步驟即可放置樣品並準備進行測量
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards
0.48 MB
AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates
0.21 MB
AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions
0.64 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages
0.36 MB
應用筆記
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