FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB

產品可能因型號或功能而有所不同

 

高階全能產品.

用於測量小型結構、多層塗層、功能塗層和 < 0.1 µm 的薄塗層的通用儀器. 

最小測量點
約. Ø0.2微米
4個 可變孔徑
3個 可變過濾器
大的 矽漂移偵測器
具有非常好的檢測精度和高解析度

XRF PCB 專業測試。.

強大的矽漂移偵測器、多孔徑和可變過濾器的組合使得 FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB 儀器專門用於測量 PCB 上的小型結構.

PCB  專家.

印刷電路板專業測量解決方案,符合IPC標準

迎接所有挑戰.

為艱鉅的測量任務提供可靠、快速的結果

全自動化.

讓您的儀器為您服務

準確和精準.

透過自動影像辨識在小型結構上定位測量點

調試.

極為快速且簡單

  • 特色

      帶有鎢陽極的微聚焦管

      固定式寬測量台,適用於最大 610 × 610 mm 的 PCB,可選配測量台擴展 1200 x 900 mm 或自動化版本,具體取決於設備

      測量點大約.: Ø0.2毫米

      4個可變孔徑與3個可變過濾器

      樣品高度可達 10 毫米

      大型矽漂移探測器可在薄層上達到最高精度

  • 應用實例

      • 測量 PCB 上尺寸最大為 610 x 610 毫米(24 x 24 英吋)的最小元件和結構)
      • 測量電子和半導體產業的功能塗層
      • 分析 ≤ 0.1 μm 的極薄塗層
      • 焊料中鉛含量的測定
      • 複雜多層系統的測定
      • NiP 塗層的直接磷測定
      • 符合 ENIG/ENEPIG 要求

      您還有進一步的應用嗎? 那就聯繫我們!

應用筆記
教學
網路研討會
宣傳冊
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
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