FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600
高達
50%
¹ 提升
表現歸功於DPP+
表現歸功於DPP+
手動的
可調樣品平台
用於快速、簡單的探測定位
用於快速、簡單的探測定位
透過調整測量距離
專利 DCM 方法
專利 DCM 方法
¹ 顯示更多
顯示較少
¹ 與 DPP 相比,DPP+ 標準差明顯較好,因此測量能力或測量時間顯著縮短.
適用於極薄層的通用 X 射線螢光分析.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 是 Fischer 的通用 XRF 分析儀,用於測定薄層、微量元素和合金. 透過自上而下的測量,只需將樣品放置在手動操作的剪切台上. 雷射筆用作定位輔助工具. 這意味著即使是具有複雜幾何形狀的樣品也可以精確、輕鬆地進行分析.
多功能的.
電子和半導體產業的理想選擇
RoHS 分析.
可靠的測定有害物質
快速測量設計.
只需幾個步驟即可放置樣品並準備進行測量
均衡.
最佳成本效益比
DPP+ 數位脈衝處理器.
縮短測量時間或改善標準差*
*與 DPP 相比