FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

產品可能因型號或功能而有所不同

 

薄膜、微量元素和合金的測定.

用於測量最小結構、極薄多層塗層、功能塗層和 ≤ 0.1 µm 極薄塗層的通用儀器.

高達 50% ¹ 提升
表現歸功於DPP+
手動的 可調樣品平台
用於快速、簡單的探測定位
透過調整測量距離
專利 DCM 方法
¹ 顯示更多
顯示較少

¹ 與 DPP 相比,DPP+ 標準差明顯較好,因此測量能力或測量時間顯著縮短.

 

適用於極薄層的通用 X 射線螢光分析.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 是 Fischer 的通用 XRF 分析儀,用於測定薄層、微量元素和合金. 透過自上而下的測量,只需將樣品放置在手動操作的剪切台上. 雷射筆用作定位輔助工具. 這意味著即使是具有複雜幾何形狀的樣品也可以精確、輕鬆地進行分析.

多功能的.

電子和半導體產業的理想選擇

RoHS 分析.

可靠的測定有害物質

快速測量設計.

只需幾個步驟即可放置樣品並準備進行測量

均衡.

最佳成本效益比

DPP+ 數位脈衝處理器.

縮短測量時間或改善標準差*

*與 DPP 相比

  • 特色

      矽漂移偵測器 50 mm²,超大有效面積 50 mm²

      4個可變孔徑與3個可變過濾器

      由於 DPP+,計數率更高並顯著縮短了測量時間

      帶有鎢陽極的微聚焦管

      樣品高度可達 140 毫米

      測量點大約.: Ø0.15毫米

  • 應用實例

      • 分析 ≤ 0.1 µm 的薄塗層和極薄塗層
      • 測量電子和半導體產業的功能塗層,例如導線框架、插頭接點或 PCB 上的塗層
      • 複雜多層系統的測定
      • 焊料中鉛含量的測定
      • NiP鍍層中磷含量的測定

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應用筆記
教學
網路研討會
宣傳冊
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
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