FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®

產品可能因型號或功能而有所不同

 

適用於薄鍍層的最佳偵測器.

用於自動測量 < 0.05 μm 的薄層和極薄層以及 ppm 範圍內的材料分析的通用儀器.

透過調整測量距離
專利 DCM 方法
型式核准
完善的保護裝置
完全地
自動化

X射線螢光分析符合更高要求.

薄,更薄,XDAL®: 憑藉微焦點管和各種半導體偵測器,FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 系列非常適合 < 0.05 μm 的薄塗層和極薄塗層領域的應用以及 ppm 範圍內的材料分析. 配備 50 mm² 矽漂移偵測器的儀器版本也適用於 RoHS 測量. 靈活且通用的 XDAL® 憑藉多種配置選項(工作台、孔徑、過濾器和偵測器)實現可靠、精確的測量,並代表 100% 的安全性.

調試.

極為快速且簡單

一台裝置,多種可能.

塗層厚度測量、材料分析和微量分析

測試多個測量點.

即使對於大型樣品,也可以在整個樣品表面上進行測量點

同樣適用於大樣品.

含有 C 型槽的護罩

全自動化.

只需一鍵點擊即可讓您的儀器為您服務

緊湊型設計.

性能和空間要求之間的很好的折衷

  • 特色

      帶有鎢陽極的微聚焦管

      測量點大約.: Ø0.15毫米

      Si PIN 和矽漂移偵測器具有非常好的偵測精度和高解析度

      3 個可變過濾器

      型式認可的全保護裝置

      電鍍液中金屬含量的測定及相應附件

      4 個可變孔徑

      樣品高度可達 140 毫米

      多種測量台選項

  • 應用實例

      • 分析 ≤ 0.05 μm 的薄塗層和極薄塗層
      • 測量電子和半導體產業的功能塗層,例如引線框架、插頭觸點或 PCB 上的塗層
      • 複雜多層系統的測定
      • 自動化測量,例如品質控制
      • 焊料中鉛含量的測定
      • 對於 SDD 版本(20 mm² 或 50 mm²):
        • NiP層中磷含量的測定
        • 符合 ENIG/ENEPIG 要求

      您還有進一步的應用嗎? 那就聯繫我們!

應用筆記
產品影片
教學
網路研討會
宣傳冊
技術文章
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation

菲希爾見解.

測量方法.

了解並發現 X 光螢光分析的工作原理.

了解更多
服務.

我們為您提供獲得可靠測量結果所需的一切.

了解更多
為什麼是菲希爾.

體驗許多我們公司很不錯的理由.

了解更多

發現更多產品.