FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
透過調整測量距離
專利 DCM 方法
專利 DCM 方法
型式核准
完善的保護裝置
完善的保護裝置
完全地
自動化
自動化
X射線螢光分析符合更高要求.
薄,更薄,XDAL®: 憑藉微焦點管和各種半導體偵測器,FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 系列非常適合 < 0.05 μm 的薄塗層和極薄塗層領域的應用以及 ppm 範圍內的材料分析. 配備 50 mm² 矽漂移偵測器的儀器版本也適用於 RoHS 測量. 靈活且通用的 XDAL® 憑藉多種配置選項(工作台、孔徑、過濾器和偵測器)實現可靠、精確的測量,並代表 100% 的安全性.
調試.
極為快速且簡單
一台裝置,多種可能.
塗層厚度測量、材料分析和微量分析
測試多個測量點.
即使對於大型樣品,也可以在整個樣品表面上進行測量點
同樣適用於大樣品.
含有 C 型槽的護罩
全自動化.
只需一鍵點擊即可讓您的儀器為您服務
緊湊型設計.
性能和空間要求之間的很好的折衷
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards
0.48 MB
AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications
0.67 MB
AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools
0.50 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging
0.75 MB
AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background
0.41 MB
應用筆記
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