X射線螢光光譜
觸覺
奈米壓痕
自動化
為您的 XRF 測量設備選擇 *配件 :
*相容性取決於相應的測量設備
- 用於原電池溶液分析的測量池（圖 1. )
- 樣品台零背景，用於支撐非常薄的元件和箔片（用光束陷阱以抑制測量台的訊號）（圖 2. )
- 定位輔助裝置用於測試零件的精確定位和對準（圖 3. )
- 用於精確定位具有複雜幾何形狀的測試零件的通用虎鉗（圖 4. )
- 用於校準標準的支架（也是磁性的），將基材和多個校準箔相互堆疊
- 用於樣品製備的晶片壓制工具，例如貴金屬晶片
- 減震功能可降低震動的影響
- 620 毫米 x 530 毫米的支撐板，用於測量最大 24 吋的大型 PCB".
- 以及更多
為您的觸覺測量設備選擇 *配件 :
*相容性取決於相應的測量設備
- 具電動或手動探頭下降功能的測量台（圖 1. )
- 儀器支架只需一隻手即可達到最佳儀器操作（圖 2. )
- 適用於現有 Fischer 探頭的 DMP F-Sample 轉接器（圖 3. )
- 螺絲測量裝置（圖4. )
- 樣品支架更容易將探頭應用到表面
- 用於精確定位任何幾何形狀的小測試件的通用虎鉗
- 用於角度探頭的導引裝置，可方便到達孔和凹槽中的測量點
- 觸控筆，方便觸控螢幕操作
- 連接環和棱鏡轉接器
- 電解質、插管或校正溶液等消耗品
- 用於溫度補償的溫度感測器
- 以及更多
為您的硬度測量設備選擇 *配件 :
*相容性取決於相應的測量設備
- 箔片夾緊裝置，用於夾緊薄箔片或電線（圖 1. )
- 用於橫向顯微照片樣本的顯微照片樣本架（圖 2. )
- 通用樣品架（圖 3. )
- 用於在高達 200 °C 的溫度下分析機械性能的加熱台（圖 4. )
- 隔音罩，減少外在聲音影響
- 用於夾持不同幾何形狀的待測物體的通用虎鉗
- 原子力顯微鏡（AFM)
- 以及更多
為您的自動化解決方案選擇 *配件 :
*相容性取決於相應的測量設備
- 用於實心和穿孔捲尺的導帶器，用於精確引導測量產品（FISCHERSCOPE® X-RAY® 4000 系列）（圖 1. 和 2.)
- 樣品測量裝置（圖 3. )
- 用於電鍍槽溶液分析的測量池 （圖 4. )
- 拖曳電纜長達 30 m（FISCHERSCOPE® MMS® Automation)
- 用於自動校準序列的校準夾具
- 沖孔網格校準裝置 (FISCHERSCOPE® X-RAY® 4100)
- 顯示器和鍵盤支架
- 了解需求後的進一步特殊要求
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- 用於原電池溶液分析的測量池（圖 1. )
- 樣品台零背景，用於支撐非常薄的元件和箔片（用光束陷阱以抑制測量台的訊號）（圖 2. )
- 定位輔助裝置用於測試零件的精確定位和對準（圖 3. )
- 用於精確定位具有複雜幾何形狀的測試零件的通用虎鉗（圖 4. )
- 用於校準標準的支架（也是磁性的），將基材和多個校準箔相互堆疊
- 用於樣品製備的晶片壓制工具，例如貴金屬晶片
- 減震功能可降低震動的影響
- 620 毫米 x 530 毫米的支撐板，用於測量最大 24 吋的大型 PCB".
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- 儀器支架只需一隻手即可達到最佳儀器操作（圖 2. )
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- 螺絲測量裝置（圖4. )
- 樣品支架更容易將探頭應用到表面
- 用於精確定位任何幾何形狀的小測試件的通用虎鉗
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- 連接環和棱鏡轉接器
- 電解質、插管或校正溶液等消耗品
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- 通用樣品架（圖 3. )
- 用於在高達 200 °C 的溫度下分析機械性能的加熱台（圖 4. )
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- 樣品測量裝置（圖 3. )
- 用於電鍍槽溶液分析的測量池 （圖 4. )
- 拖曳電纜長達 30 m（FISCHERSCOPE® MMS® Automation)
- 用於自動校準序列的校準夾具
- 沖孔網格校準裝置 (FISCHERSCOPE® X-RAY® 4100)
- 顯示器和鍵盤支架
- 了解需求後的進一步特殊要求
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