COULOSCOPE® CMS2 and CMS2 STEP
預定義的測量任務
對於不同層系統
對於不同層系統
測量
全層結構
全層結構
簡單的
校準
為一個
最大程度 準確性
最大程度 準確性
用於品質控制的庫侖塗層厚度測量.
超過一定的塗層厚度,使用 X 光螢光無損測量塗層厚度將達到其極限. 這就是 COULOSCOPE® CMS2 發揮作用的地方. 使用庫侖法透過電解層剝離來精確可靠地測量幾乎所有金屬鍍層的鍍層厚度. 這種易於使用的桌上型設備提供了最大的靈活性,因為它可用於各種塗層-基材組合.
最佳測量理念.
不同塗層系統的預定義測量任務
輕鬆校正.
達到最高水準的準確度
可單獨擴充.
豐富的配件可實現實際工作和安全存儲
直覺式操作.
彩色顯示器和圖形支援的使用者指南
最大的靈活性.
幾乎任何塗層-基材組合的精確塗層厚度測量
特色
測量單元電壓曲線的圖形表示
近 100 個針對不同塗層系統的預定義測量任務(例如鐵上的鋅或黃銅上的鎳)
依照 DIN EN ISO 2177 去除塗層
透過USB介面進行簡單的資料傳輸
測量範圍: 取決於塗層-基材組合和去除速度 0.02 - 50 µm
測量記憶值: 50 個應用程式中的 3,000 個值
符合 ASTM B764 - 04 和 DIN EN 16866 標準的 STEP 測試測量功能
簡單選擇分離速度 (0.1 - 50 µm/min) 和分離面積 (0.6 - 3.2 mm Ø)
測量方法: 陽極剝離庫侖法
應用實例
- 測量幾乎所有基材上幾乎所有金屬單層和多層塗層的塗層厚度
- 電鍍層的品質控制
- 監測 PCB 上的殘留錫層厚度
- STEP測試測量: 測量銅、鐵、鋁或塑膠基材 (ABS) 上多個鎳層的單層厚度和電位差
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