FISCHERSCOPE® X-RAY 5000

產品可能因型號或功能而有所不同

 

最高精度的薄膜線上測量.

堅固耐用的 XRF 儀器,用於測量和分析運行過程中的薄膜和膜層系統,並連接到生產控制系統.

高達 50% ¹ 效能增加
得益於DPP+
堅固耐用且維護成本低
透過不可移動的零件
真空 ²
或在 空氣中測量
¹ ² 顯示更多
顯示較少

¹ DPP+ 與 DPP 相比,顯著提高了標準偏差,從而提高了測量能力或顯著縮短了測量時間.

² 僅適用於 FISCHERSCOPE® X-RAY 5400.

 

持續的智慧型品質控制.

FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 系列專為最大化正常運行時間而設計,具有高度客製化和卓越的測量性能 - 非接觸、非破壞性和精確性。此系列的設備樣式為模組化單元,,這就是為什麼它們可以作為純組件輕鬆安裝在現有工廠中.

量身訂做.

輕鬆集成,可單獨適應您的應用

不會凝水.

透過水冷卻,樣品溫度最高可達 250 °C (482 °F)

DPP+ 數位脈衝處理器.

縮短測量時間或改善標準差*

*與DPP 相比

堅固可靠.

無活動部件

緊湊型設計.

測量頭將所有必要組件整合在一個單元中

與真空相容.

可安裝在真空室中

  • 特色

      帶有鎢陽極的微聚焦管; 可選鉬陽極

      固定孔徑(可配置最大直徑 11 毫米)

      用於真空或空氣中測量

      可選擇水冷,樣品溫度高達 250 °C

      矽漂移偵測器 50 mm² 可實現最高精度

      固定過濾器 (可設定)

      帕爾帖冷卻

      得益於 DPP+,計數率更高並顯著縮短了測量時間

      任意安裝位置均可

      透過TCP/IP介面進行遠端控制和資料導出

  • 應用實例

      • 測量大面積產品和基材(例如燃料電池、玻璃面板和非常熱的表面)上的薄塗層和低負載
      • 監測光伏電池中各層的成分和厚度,例如 CIGS、CIS、CdTe 和 CdS
      • 測量金屬帶、金屬箔和塑膠薄膜上幾微米的薄層
      • 濺鍍、電鍍設備的製程監控

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