FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

XDV®-SDD是Fischer產品組合中功能最強大的X射線螢光分析儀之一。該XRF光譜儀配備了特別靈敏的矽漂移檢測器（SDD）。這使您能夠非破壞性的測量最薄的鍍層，例如導線架上約2nm厚的金塗層。

同時，XDV-SDD非常適合非破壞分析材料。例如，它對塑膠中微量鉛的檢測靈敏度約為2 ppm，比RoHS或CPSIA要求的值低幾個數量級。

為了使您可以為每次測量創建理想的條件，XDV-SDD具有可切換的準直器和基本濾片，這樣就可以科學地進行工作。此外，這種耐用的設備易於操作，而且是專為工業用途的系列測試而設計。自動擴充的測量平臺和測量現場的即時圖像等功能使您的日常工作更加輕鬆。