FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ
錫凸塊？ 電路板？ 導線架？ 只需使用一台儀器即可測量所有這一切！
FISCHERSCOPE® XDV®-μ光譜儀是Fischer的高階X射線螢光系列，專為在最小的結構上進行精確的鍍層厚度測量和材料分析而開發。所有儀器都配備了一個多毛細管光學元件，可將X射線束聚焦到10μm（FWHM）。與採用準直器的光學元件相比，多毛細管光學元件可以產生高輻射強度，從而大大縮短了測量時間。
所有FischerXRF儀器均配有功能眾多的WinFTM軟體，可在較高的精確度下測量各種應用。WinFTM還有一個整合的報表生成工具，您只需按一下一下就可以創建單個報表。此外，WinFTM軟體還提供了嚮導性的校正。
XDV-μ設備透過濾波器，電壓和電流設定的系列組合，允許您為多達24個元素的複雜應用創造最佳的激勵條件。此外，XDV-μ配備了一個可程式設計的XY工作臺和模式辨識軟體，很容易自動測量多個樣品。
標準版本XDV-μ配備了鎢X射線管，用於常規應用的高精度測試。也可根據需要選擇鉬和鉻射線管。
XDV-μ儀器配備了一個大面積矽漂移探測器（有效面積50 mm²）和新型的數位脈衝處理器（DPP+）。這些元件一起使用時，可以實現很高的計數率，這有助於最小化測量時間，同時優化重複性。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ / XDV-μ LD
為了能以最少的時間測量最微小結構的樣品，我們開發了FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 系列儀器。大面積矽漂移探測器及多毛細管透鏡確保了在測量諸如鍵合面、表面貼裝器件及細線等樣品時的高準確性和高重複性。這樣就能對印刷線路板上的鍍層厚度進行長時間且高精度的監控。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD 型儀器是您測量大尺寸樣品的理想儀器。由於測量距離可達12mm，即使是裝配了元件的PCB也可輕鬆測量。
- 配鎢鈀的微聚焦透鏡；鉬靶可選
- 4個可靈活切換的初級濾波器
- 專為以短時間測量小尺寸點而設計的多毛細管透鏡 (10 – 60 µm FWHM)
- 20或50 mm² 有效面積的矽漂移探測器
- 3種放大倍數視頻顯示，用於精確樣品對位
- 高精度可編程測量平台，適用於全自動測量
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ LEAD FRAME
導線架測量可信賴的專家。借助FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LEAD FRAME，您可以在平面樣品上，在奈米範圍內高精度測量超薄鍍層的厚度。典型應用包括CuFe基體上的Au 、Pd和Ni厚度測量。同時，這一X射線螢光儀器也十分適合用來測量NiP層中的P含量。
XDV-µ LEAD FRAME 配備了專為優化低能量段信號而開發的可切換初級濾波器和多毛細管透鏡。從而為相應的測量需求提供了理想的激發條件。
- 氦氣充填，可測量從Na開始的輕元素
- 多毛細管透鏡
- 高性能Cr靶射線管
- 4個可自動切換的濾波器
- 高解析CCD彩色攝像頭，帶校準標尺的十字線，可調節的LED亮度及用於樣品定位的雷射標記(class 1)
- 矽漂移探測器
- 快速、可編程XY平台，帶有彈出功能和馬達驅動Z軸，可用於自動化測量
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