Jump to the content of the page

滿足複雜需求的X射線螢光分析

FISCHERSCOPE®X射線 XDAL®是 XDL系列中最好的X射線螢光測量儀器。 和它的“小兄弟”一樣,它是從上到下方向測量的,這使得測試形狀奇怪的樣品也變得輕鬆便捷,為了優化您的任務的測量條件,配有可互換的準直器和過濾器作為標準配置。

對測量任務的要求越高,探測器的類型就越重要!因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導體探測器。

矽PIN二極體是一種中階檢測器,非常適合在相對較大的測量區域內測量多個元素。配備PIN的XDAL通常用於檢查硬質材料塗層。

與矽PIN二極體相比,高品質的矽漂移檢測器(SDD)具備更好的能量解析度。如此配備的XDAL光譜儀可用於解決電子行業中的複雜測量任務:例如,測量薄合金層,或非常相似的元素(如金和鉑)的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用於ENIG和ENEPIG應用的品質控制

對於特別棘手的挑戰,Fischer還提供含有超大探測器表面的SDD。該探測器的優勢在於它能夠可靠地測量奈米級的鍍層,並進行微量分析。使用這些XDAL設備,您可以測試用於高可靠性應用的焊料中的鉛含量,從而避免錫鬚。

特點

  • 採用DIN ISO 3497和ASTM B 568標準,用於自動測量達到0.05μm的鍍層和用於ppm級含量的材料分析的通用X射線螢光光譜儀
  • 3種不同的探測器可選(Si-PIN二極體;SDD 20 mm²;SDD 50 mm²)
  • 3種可切換基本濾片
  • 4種可切換準直器
  • 最小測量點約為0.15mm
  • 樣品最高高度可達14cm
  • 可程式設計XY工作臺,定位精度為10µm
  • 開槽箱體設計用於測量大的印刷電路板
  • 經過認證的全面保護設備

應用

  • 鍍層和合金(也包括薄塗層和低濃度)的材料分析
  • 電子行業,ENIG,ENEPIG
  • 連接器和接點
  • 黃金,珠寶和製表業
  • PCB製造薄金(幾奈米)和鈀鍍層的測量
  • 微量元素分析
  • 高可靠性應用的鉛( Pb)的測定(避免錫晶鬚)
  • 對硬質材料塗層的分析

下載

名稱 類型 大小 下載
Jump to the top of the page