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特點

  • 通用掌上型X射線螢光分析儀,即使材料組合困難複雜的情況下,也可以進行精確的鍍層厚度測量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標準
  • 重量1.9 kg
  • 一次電池充電可持續運作6個小時
  • 測量點:3毫米Ø
  • 高解析度矽漂移檢測器
  • 用於戶外的IP54等級
  • 用作桌上型設備的可選測量箱;
  • 使用完整版WinFTM®軟體進行資料統計

應用

  • 測試大型樣件,裝配測量箱後也可以測試小樣件
  • 一次測試同時測定鍍層的厚度和成份(例如,Fe上的ZnNi合金)
  • 未知合金的無標準片測量
  • 大型鍍層零件(例如機器部件和外殼)的測量
  • 電鍍層的測試
  • 電鍍液金屬含量的分析

不只是現場工作專家

FISCHERSCOPE®X射線XAN®500是目前最通用的X射線螢光系統。作為一款掌上型XRF分析儀,它非常適合在生產線上檢查大型零件(如飛機零件,管道或渦輪葉片)上的鍍層;

與市場上其他可擕式X射線螢光設備相比,FISCHERSCOPE XAN500可以非常精確地確定鍍層厚度。它的三點支撐設計使其易於正確放置,並在整個測量過程中保持穩定。高品質的矽漂移檢測器(SDD)確保了分析合金層(如鋅鎳合金)所需的精度。

但是,XAN 500不僅僅是一個用於大型零件的測量系統。借助可選的測量箱,只需幾個簡單的步驟即可將其轉換為桌上型儀器。 這樣您就可以快速、輕鬆地檢查小零件,如螺母和螺栓。

下載

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