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特點

  • 高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)
  • 根據DIN EN ISO 2177進行測量
  • 透過彩色顯示螢幕和圖形支援的使用者指南直觀地操作
  • 可輕鬆選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)
  • 針對不同鍍層系統(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預先設定了近100種測量應用
  • 測量單元上電壓曲線的圖形顯示
  • 圖形和統計評估
  • 帶支撐架的部分自動化測量,適用於各種樣品尺寸
  • 全面的配件組合,以適應特定的要求

COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能

  • 同時測量鍍層厚度和電位差
  • 根據ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進行電位差測試
  • 銀參比電極測量前的準備工作(產生必要的AgCl層)
  • 電解電流可調整
  • 可直接在測厚儀顯示器上評估電位曲線

應用

  • 電鍍生產過程中的監控和成品的進廠檢驗
  • 可以精確測量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據材料不同)
  • 金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測量
  • 多鍍層體系:例如在鐵或塑膠基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層
  • 雙鍍層體系:例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳
  • 單鍍層如鐵上鍍鋅

COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應用

  • STEP測試:在銅、鐵、鋁或塑膠襯底(ABS)上的多層鎳層系統

用於品質控制的庫侖法鍍層厚度測量

在一定的厚度以上,X射線螢光對鍍層的非破壞測量達到了極限,這就是COULOSCOPE®CMS2發揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度,這是做相當簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準確地測量許多常見的單層和多層鍍層。

庫侖法的成本效益高,可精確地替代X射線螢光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了最大的靈活性,因為它可以用於廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度,特別是在電鍍鍍層的品質控制中,以及用於監測印刷電路板上的殘餘純錫厚度。

STEP測試:庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳的電化學電位測量

如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時測量電化學電勢,那麼COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度,非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。

 

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