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比較測量值時應考慮哪些統計參數?

以下參數對於比較測量值很重要:算術平均值、標準差、單個測量值的數量。

如果沒有相關的標準差和測量的數量,則無法以有意義的方式相互比較平均值。

為什麼需要校正?

每種物理測量方法都受塗層和基體參數的影響。這些參數是:工件的幾何形狀、導電率、磁化率、鍍層密度、測量表面等。

每次塗層或基材的這些參數發生變化時,都需要重新校正測量儀器。

 

我正在一塊平板上校正我的測量儀器。現在我想測量一個小直徑的曲面樣品。在不進行任何進一步校正的情況下,是否可以繼續?

不行,在平板上的校正會在曲面上引起系統上的測量誤差。這意味著測量值將過大。這是因為儀器對樣品(這裡是曲面物體)的測量信號進行了評估,但是以平面樣品進行的評估。

為什麼雙方會得到不同的測量結果?原因是什麼?

計量器具的精度由校正片保證。校正必須在真實、無塗層的樣品上進行。此外,必須注意在相同的測量位置進行測量。為了得到一個有效的平均值,進行足夠多次的測量也是很重要的。

如何驗證乾膜測厚儀測試的校正效果?

透過把校正箔放在樣品基材上進行測量來檢查校正效果。這個測量位置必須要與你之後要測量的位置相同。Fischer隨機配備的基材校正板並不適用於此目的。

何時對FISCHER X射線儀器進行正常化?

正常化會對當前測量任務的設置和基材設定進行調整。如果主濾波器或陽極電流以及準直器的設置被調整過了,則必須進行正常化。如被測樣品的合金成分或基材成分發生了變化,也需進行正常化。

我的FISCHER X射線儀器測出了看上去不合理的數值。我如何確定我測的是對的?

接下來您應該進行設備管控。您可以透過重新測試標準片來檢查儀器。如未得到正確的數值,則需要進行調整。

 

對於FISCHER X射線儀器而言,基準測量意味著什麼?

基準測量是對能量軸的一次新的校正。在不同溫度的影響下,與比例接收器的校正有關。

如何在FISCHER X射線儀器上驗證校正結果是否準確?

為了驗證校正結果,您需要在選單位置“產品”,“測量CAL”中重新測量校正標準。如果你發現存在差值,則儀器需要再次校正。

FISCHER X射線標準片的重新認證週期是多少?

這取決於使用頻率,客戶可自行決定。一般為1-3年一次。

 

在校正時能否疊加X射線標準箔?

是可以的。有一個簡單的使用準則:對於配備比例接收器的儀器,可以疊加2-3片標準箔。對於帶有PIN/SDD探測器的儀器,只可以疊加一片標準箔。

 

是否需要為FISCHER X射線儀器的純元素片進行重新認證?

不是必要的。你不需要重新認證純元素塊,因為元素的厚度是飽和的,所以非常穩定。

 

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