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我正在一塊平板上校正我的測量儀器。現在我想測量一個小直徑的曲面樣品。在不進行任何進一步校正的情況下,是否可以繼續?

不行,在平板上的校正會在曲面上引起系統上的測量誤差。這意味著測量值將過大。這是因為儀器對樣品(這裡是曲面物體)的測量信號進行了評估,但是以平面樣品進行的評估。

為什麼我的資料傳輸無法進行?

有些原因可能是:我是否選擇了具有相關管理員權限的正確驅動單元?在電腦上的軟體中選擇了正確的介面嗎?(另請參閱裝置管理員)

 

為什麼雙方會得到不同的測量結果?原因是什麼?

計量器具的精度由校正片保證。校正必須在真實、無塗層的樣品上進行。此外,必須注意在相同的測量位置進行測量。為了得到一個有效的平均值,進行足夠多次的測量也是很重要的。

如何驗證乾膜測厚儀測試的校正效果?

透過把校正箔放在樣品基材上進行測量來檢查校正效果。這個測量位置必須要與你之後要測量的位置相同。Fischer隨機配備的基材校正板並不適用於此目的。

相敏渦電流法:可以測量哪些塗層-基材組合?

在這裡可以有各種不同組合的測量:用相敏渦電流法可以測量鐵磁性金屬上的非鐵磁金屬層,例如:鋼上的鋅。也可以測量非導電塑膠上的非鐵磁金屬層,例如:非導電材料上的銅。另一個可用的應用是銅基體上的鎳層,這是非鐵磁金屬上的鐵磁金屬層。

振幅敏感渦電流法:可以測量哪些塗層-基材組合?

振幅敏感渦電流法可測量導電基材和非磁性基材上的非導電塗覆層,例如:鋁上的陽極氧化塗層、銅上的油漆層、鋁上的油漆層和鈦上的陶瓷層。

磁感應法:能測量哪些塗層-基材組合?

磁感應法可測量可磁化基體上的非可磁化塗覆層,例如:鐵上的鋅層或鐵上的漆層。

 

哪些因素在FISCHER 乾膜測厚儀的精確測量中起作用?

FISCHER 乾膜測厚儀的測量精度取決於塗層厚度、表面狀況、所用探頭等因素。理想條件下的精度和重複性詳情可從探頭技術資料表中獲取。

 

用相敏渦電流探頭和磁感應探頭測量鎳鍍層需要考慮哪些因素?

必須在已確定塗層厚度的相關零件上進行校正。鎳鍍層的磁化能力可能存在很大差異,即被測零件的磁化能力與校正零件的磁化能力可能存在很大差異。這可能導致測量誤差。尤其是在進貨檢驗領域,可能會出現問題。

 

測量裝置或Fischer程式顯示未知錯誤資訊。我該怎麼辦?

首先,檢查操作手冊,看看是否描述了相關錯誤及其糾正方法。如沒有,請向負責的Fischer服務團隊發送電子郵件,詳細說明序號、測試儀器的確切名稱、探頭、Fischer程式的版本號、錯誤號(錯誤代碼)、錯誤消息的確切文字以及導致錯誤的情況。

我該如何操作才能把資料傳輸到我的電腦裡?

將資料線連接到電腦和測試裝置。在電腦上安裝相應的驅動程式軟體。在您使用的統計程式中,選擇正確的儀器連接介面。要分開測量值組,請在測試裝置中設置組分隔符號。

如何正確校正?

請看以下教學

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