菲希爾常見問題

計算平均值的最簡單方法是將所有數值相加，然後用總和除以數值的個數。這就是算術平均數。還有其他計算平均數的方法，但很少使用。

範圍 R 顯示最小和最大測量值之間的差距。要計算範圍，需要從最大測量值中減去最小測量值。範圍可能會被異常值嚴重扭曲，因此只有在測量值較少的情況下才有用。對於大量資料，標準差更有意義。

標準差 σ 表示測量值圍繞平均值的散佈程度。標準差越大，說明測量值之間的差異越大。如果數值都接近平均值，則標準差較小。平均值和標準差對現實的描述程度取決於測量值的數量等因素。測量點越多，比率就越有意義。

標準差的大小不僅取決於測量值的離散程度，還取決於測量值的大小--平均值越大，標準差就越大。為了解決這個問題，通常用百分比來表示相對標準差，即變異係數 V。在這裡，標準差除以算術平均數。與標準差一樣，這裡的高值也表示測量值的高分散性。

塗層測厚儀的測量精度取決於塗層厚度、表面狀況、所用探頭等因素。有關理想條件下的精度和重複性資訊，請參見探頭的技術資料表。

這裡有多種測量選擇：例如，我可以使用相敏渦流法測量可磁化金屬上的不可磁化金屬。鐵上的鋅就是一個例子。但也可以在不導電的塑膠上測量不可磁化的金屬，例如磯上的銅。另一個測量實例是銅上的鎳（可磁化金屬與不可磁化金屬）。

振幅敏感渦流法用於測量導電、不可磁化基體材料上的非導電塗層，例如鋁的陽極氧化或塗料、銅的塗料或鈦的陶瓷。

使用磁感應法，可以測量易磁化基體材料上的非磁性塗層，如鐵上的鋅或鐵上的油漆。

在每種情況下，都必須使用實際鍍鎳零件及其已知塗層厚度進行校準。鎳塗層的磁性可能會有很大差異，因此待測部件上的磁性可能與校準部件上的大不相同。這可能會導致測量誤差，從而造成問題，尤其是在進貨檢驗時。

首先查看操作說明書，看其中是否說明了錯誤及其糾正方法。如果沒有，請將序號、測量設備的確切名稱、測量探頭、Fischer 程式的版本號、錯誤編號（錯誤代碼）、錯誤資訊的確切措辭以及導致錯誤的情況發送給我們。在這裡您可以找到您的連絡人。

採用相敏渦流法（參見 DIN 50994 標準草案和 DIN EN 2004-1 標準）。

MS/m 表示兆西門子/米，相當於 1,000,000 西門子/米。該單位是比電阻率測量單位歐姆 x 平方毫米/米的倒數（逆數）。因此，1 西門子相當於 1 歐姆。

IACS 指 "國際退火銅標準"。英美國家通常使用這一計量單位。以下內容適用：100 %IACS 的比導電率相當於 58 MS/m。根據這一關係，任何導電率值都可以從一種測量單位轉換為另一種測量單位。

導電率直接取決於溫度。溫度越高，導電率越低。為確保測量值的可比性，導電率總是以 20°C 為基準。因此，菲希爾公司的導電率標準也給出了 20°C 的數值。

要使 SIGMASCOPE® 能夠將實際導電率的測量值轉換為 20°C，必須滿足以下條件：

• 儀器必須在測量時的相同溫度下進行校準。
• 或者在測量和校準過程中使用溫度感測器（內部/外部）記錄被測物體的溫度。

如果不滿足這些條件，可能會出現系統測量誤差。

使用 FDX10 和 FDX13H 雙工測量探頭。這些探頭要求熱浸鋅的最小塗層厚度為 70 µm，以便正確測量。

對於薄鋅層，可使用 ESG2 和 ESG20 探頭。只有當鋅和鋼之間沒有擴散層時，才能使用這些探頭。電鍍和極薄的熱浸鋅鍍層（如汽車工程）通常就是這種情況。用於重防腐的熱浸鋅鍍層厚度通常超過 70 µm，通常會在鋼和鋅之間形成明顯的擴散層。在這種情況下，不能使用 ESG2 和 ESG20 探頭。

金屬、塑膠或陶瓷上的導電金屬層。瞭解更多

必須滿足以下條件：塗層表面清潔，支架夾具與待測物體接觸良好。此外，還應選擇與塗層厚度相應的剝離速度。更多資訊

這些因素包括：塗層厚度、表面狀況、使用的測量單元密封、脫離速度和塗層純度。

將傳輸電纜連線至電腦和測量設備。在電腦上安裝相應的驅動軟體。在使用的評估程式中選擇正確的儀器連接介面。要分隔測量值組，請在測量設備中設置組分隔符號。

原因可能是是否以管理員許可權載入了正確的驅動程式？電腦上的軟體是否選擇了正確的介面？ 另請參閱 "裝置管理員"）。

對於我們的觸覺設備，您可以在媒體庫中找到最新版本的軟體。

當您購買 FISCHER 測量設備時，您將通過 QR Code方便地收到所有進一步的信息。

粗糙表面的零點總是無法可靠確定。因此，在可能的情況下，應打磨表面。氣流和外部振動也會導致測量值波動較大，甚至測量錯誤。因此，應將儀器安裝在受保護的位置。在測量非常小的力時，封閉的測量箱和避震臺有助於避免外部影響。

可能是壓頭髒了或磨損了。WIN-HCU® 提供了清潔程式，應定期執行。還要檢查是否選擇了正確的力-時間機制。不同的測試參數會導致偏差。

如果這些措施都無濟於事，還可以在壓頭磨損的情況下進行形狀校正。形狀修正只能由 Fischer 專家進行。

可能在顯微鏡上設置了錯誤的物鏡。請嘗試不同的物鏡，並確保在WIN-HCU® 軟體中為沒有自動物鏡識別功能的儀器選擇了正確的物鏡。

如果仍然看不到壓痕，則可能是選擇的檢測力過小。在這種情況下，可以使用原子力顯微鏡 (AFM) 等設備來觀察壓痕。另一個原因可能是顯微鏡位置和實際測量位置之間的偏移太大。偏移設置可在測量表 ►顯微鏡設置中找到。

測量橫截面塗層時，建議使用 Fischer 提供的合適的顯微截面樣品支架。如果在沒有合適支架的情況下對橫截面進行測量，由於安裝過程的原因，每次測量的測量位置與顯微鏡位置之間都會存在系統偏移。

可能沒有記錄卸載曲線。請檢查您的設置。此外，非常軟的樣品在載荷作用下會繼續變形（蠕變），這就是為什麼不能在所有情況下都確定壓痕硬度的原因。使用蠕變設置來確定壓痕蠕變_(CIT)。使用編輯 ►應用設置 ►參數 ►直線，根據 ISO 14577 確定壓痕模量_EIT 和壓痕硬度_HIT。

在測量過程中，試樣在載荷作用下發生了屈服。檢查試樣是否固定良好。根據部件的幾何形狀，使用我們合適的附件：HM 通用試樣夾具或菲希爾 HM 薄膜夾具。

對於塗層厚度而言，所選的測試載荷過高。因此，基底材料會影響測量結果。

您只能以管理員身份啟動動態測量模式。如果只有管理員許可權而無法啟動，通常是由於客戶特定的安全相關軟體阻止了啟動。一種可能的辦法是使用軟體安全性較低的電腦。

形狀校正需要管理員許可權。請登錄WIN-HCU®。形狀校正只能由 Fischer 專家或合格人員執行。測量中止，無法開始新的測量。此外，壓頭位置值超過 400 µm。

您必須首先在設置 ► 選項 ► 使用者自訂匯出下定義用戶自訂匯出，然後才能執行匯出。

選擇? ►關於 WIN-HCU 的資訊。例如，測量設備的序號和WIN-HCU® 的版本。

在比較測量值時，至少應使用以下特徵值：算術平均值、標準差和單個測量值的數量。如果沒有相應的標準差和測量值個數，就無法對平均值進行有意義的認真比較。

根據 DIN EN ISO 9001 標準，如果要求可追溯性，則必須對測量設備進行校準。每種物理測量方法都會受到塗層和基體材料特性的影響。這些屬性包括：工件幾何形狀、導電性、磁性、塗層密度甚至測量表面。因此，每當塗層或基體材料的屬性發生變化時，就很可能需要重新校準測量設備。

在平面上進行校準會在曲面上產生系統測量誤差。因此，測量值會過高。這是因為測量設備將來自曲面物體的信號當作來自平面部件的信號進行評估。因此，當部件或測量表面的形狀或幾何形狀發生變化時，必須進行定期校準。

可能的原因是使用了兩個校準（特性曲線）不同的測量設備，或者使用了相同的測量設備但在不同的測量表面上進行了測量。測量設備測量值的正確性始終由校準標準來保證。對於磁感應和渦流測量設備，校準必須在未塗層的真實待測物體的測量表面上進行，塗層部件的塗層厚度也必須在該表面上測量。此外，還必須確保在同一測量點或同一測量面上進行測量，並記錄足夠數量的測量值，以獲得有意義的平均值和有意義的標準差。只有這樣才能獲得具有可比性的測量結果。

在未塗層工件上測量一個校準箔片，並測量幾個測量值（通常為 5 至 10 個），然後在稍後進行測量的位置進行測量。費舍爾基底校準板對這種校準沒有用處。隨後，用戶必須決定允許薄膜設定值與測量平均值之間存在哪些偏差，這樣才能認為測量設備已充分校準。例如，DIN EN ISO 2178：2016 標準 "磁性基底金屬上的非磁性塗層--膜厚測量--磁性方法"（第 8 章）和 DIN EN ISO 2360：2017 標準 "非磁性金屬基底材料上的非導電塗層--膜厚測量--渦流法"（第 8 章）提供了在統計資料和測量膜厚的不確定性方面對測量設備校準的評估。

這些雙工探頭有兩個測量通道。磁感應通道測量油漆和鋅的總塗層厚度。振幅敏感渦流通道測量鋅上的塗料層厚度。校準時，需要一個與原部件相對應的完全無塗層的鋼部件和一個鋅層厚度至少為 70 µm 的鍍鋅部件。探頭的磁感應通道在未塗層鋼件上進行校準。所使用的校準膜片應符合預期的總塗層厚度範圍（油漆和鋅）。鍍鋅部分用於校準振幅敏感渦流通道。使用的校準箔片應能確定預期的塗料層厚度範圍。

這些雙工探頭有兩個測量通道。磁感應通道測量油漆和鋅的總塗層厚度。相敏渦流通道測量油漆下的鋅塗層厚度。校準時，需要一個與原部件相對應的完全無塗層的鋼部件和一個具有典型鋅塗層的鍍鋅部件。探頭的磁感應通道在未塗層鋼件上進行校準。所使用的校準箔片應符合預期的總塗層厚度範圍（油漆和鋅）。在鍍鋅部件上，對探頭的相敏渦流通道進行校準。此處不應使用校準箔，因為鋅層本身就是校準層。在這一校準步驟中，只需對鍍鋅部分進行測量。無需在校準前測量鋅層厚度作為參考層厚度。鋅層的校準參考值由第一步校準的磁感應通道提供。

是的，確實如此。例如，如果測量設備是在塗層密度為 2 g/cm³ 的工件上校準的，而現在要在密度為 1 g/cm³ 的工件上進行測量，就會出現系統性測量誤差。測量值會過低。出現這種情況的原因是，測量設備在評估來自新物體的信號時，將其視為密度為 2 g/cm³ 的塗層。

在測量技術中，正常化是指根據當前設置或新的基礎材料調整測量任務。在更換初級濾波器、陽極電流、准直器或使用新的基底材料合金時，必須執行此操作。它可確保測量結果的一致性和準確性。

通過測量設備監控，您可以檢查 XRF 設備是否正常運行，並評估測量結果是否真正反映了樣品或設備缺陷。在測量設備監控中，在相同的條件下定期測量特定的參考樣品（FISCHER 標準或客戶參考部件）。如果測量結果符合之前根據應用設定的公差和干預限制，則可以認為 XRF 設備處於正常工作狀態。

定位測量用於校準能量軸。操作員可以輕鬆快捷地完成這項工作。參考測量對於配備比例計數器的 XRF 設備尤為重要，建議定期進行參考測量。它可以校正帶有比例計數器的 XRF 設備的溫度影響。

校準標準可在WinFTM® 軟體 的功能表項目 "項目►校準標準 "下進行測量。這樣可以確保之前的校準是正確的，設備仍然處於最佳狀態，或者有必要重新校準。

重新認證的時間間隔取決於使用情況，可由使用者自行決定。為確保較高的測量精度，通常間隔約為 1 至 3 年。

原則上，菲希爾校準箔片可以疊放。根據經驗，比例計數器可使用 2 - 3 片，帶 PIN 或矽漂移探測器的測量設備可使用 1 片。

不需要。純元素板含有用於 XRF 飽和厚度的純元素，只要小心使用就能保持穩定，可以長期使用。
唯一需要避免的是機械損傷和污染。

WinFTM® 軟體可以測量基礎材料成分相似但仍存在顯著差異的樣品系統。例如，銅合金就經常出現這種情況。在這種情況下，標準化或校準過程會要求提供標準片底材和樣品底材。前者指的是成分已知並用於進一步校準的基礎材料，後者指的是被測客戶部件的基礎材料。在此必須注意避免混淆，否則會校準出系統誤差。

獲得 ISO 17025 認證的校準標準是根據認證機構規定的程式進行測量的，其不確定度低於獲得出廠證書的校準標準。

校準標準是成分已知並經過驗證的材料，用於調整和檢查 XRF 設備。它們可確保測量結果的準確性和可重複性。

校準標準應盡可能與待測材料和塗層成分相似。這樣才能確保校準結果真實準確。

FISCHER 提供 500 多種認證標準。這些標準包括

- 單層和多層、合金層、純元素和合金的固體標準

- 用於單層和多層以及合金層的薄膜標準，或用於特定行業和應用的預製成套標準。

- 全球公認的可追溯性

- 500 多種認證標準

- 最高精度得益於 DAkkS 認證，連結：https://www.helmut-fischer.com/why-fischer/dakks-calibration-laboratory

- 全球認可的校準實驗室

- 可為客戶提供客製化標準

- 全面的專家建議

我們菲希爾公司沒有規定特定的維護間隔。使用條件、環境和存儲因素，以及貴公司對特定標準的依賴和/或內部檢測設備的要求，都會對是否需要將標準送去重新校準產生重大影響。因此，您或您的檢測設備監控團隊最有能力評估和確定送檢標準的適當間隔。典型值大約為每 1-3 年一次。

您需要單獨諮詢嗎？請隨時與我們聯繫。

沒有，證書沒有固定的有效期。使用條件、環境和存儲因素，以及貴公司對特定標準和/或內部檢測設備要求的依賴程度，都會對是否需要將標準送去重新校準產生重大影響。因此，您或您的檢測設備監控團隊最有能力評估和確定何時需要重新校準。

您需要單獨諮詢嗎？請隨時與我們聯繫。

是的，我們提供定制的特殊解決方案。一方面，如果技術上可行，我們可以將產品目錄中的層厚組合起來，以滿足您的特殊要求。另一方面，如果技術上可行，我們可以根據您自己的材料制定標準。請隨時與您的菲希爾代表討論您的需求。

切勿對標準物質進行機械或化學清洗！這樣做會造成損壞、不均勻和/或減少層厚度，從而可能改變校準結果。

鋁、銅、銀的褪色：對於這些金屬，金屬表面的氧化會形成一個氧化層，保護底層金屬不與氧氣發生進一步反應（鈍化）。根據金屬的不同，這可能會導致典型的變色，但不會對測量結果產生負面影響。

重要提示：請勿清潔標準件！通過磨損去除氧化層會導致校準結果失真。

鐵、鋅、鋅/鐵的變色：在鐵氧化（鐵銹）或鋅氧化（白鏽）的情況下，腐蝕會對標準物質產生破壞性影響。如果發生腐蝕，這些標準件必須送去更換。由於腐蝕性環境會加速銹蝕過程，因此請始終特別注意正確處理和儲存您的標準件（另見下面的問題）。

特殊情況下的 COULOSCOPE® 標準件：我們的 COULOSCOPE® 標準件在清潔方面是個例外。它們帶有一塊 "橡皮"，可讓您重新清除氧化鎳層。

請勿將標準件存放在冷凝或腐蝕性環境中。過高的濕度會損壞鍍層。

不，請不要去除包裝箱上的 DAkkS 標記。DAkkS 證書只有與包裝箱上相應的 DAkkS 標記一起使用時才有效。

根據要求，我們可以重新簽發 DAkkS 證書。但請注意，這需要較長的準備時間和額外的費用。為此，請直接聯繫您的 Fischer 個人代表，他將很樂意為您提供個性化的報價。

遺憾的是，目前還沒有，但我們正在努力。

您可以在这里找到条款和条件。

可以，但這取決於設備中安裝的多毛細管光學器件。根據多毛細管光學元件的不同，您可以測量大約 10-50 µm 範圍內的測量點。利用這些極小的測量點，您可以觀察到局部的不均勻性，如 "針孔"，或高粗糙度表面上的厚度差異。因此，對我們的校準標準進行單點測量（取決於材料）可能會導致較大的測量散差或校準結果失真。因此，對於使用FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 設備測量的標準件，應始終使用掃描模式。

由於標準是單獨的，不受規範化的約束，因此我們無法發佈符合性聲明。此外，我們還提供有關 RoHS 測量和特殊塗層的標準，其中一些標準要求使用不符合 RoHS 標準的材料。

我們的標準可能會出現與生產有關的變化，變化幅度為規定塗層厚度的 ±20%。這並不構成缺陷，而是在允許的公差範圍之內。我們始終為您提供盡可能接近指定報價值的標準產品。

所有測量值都會有一定程度的變化。因此，只要不超出規定的測量不確定度範圍，重新認證後證書上標注的數值可能會與標注值不同。對於根據 DIN EN ISO/IEC 17025:2017 認證的觸感箔，由於系統相關因素，箔上列印的數值也可能與證書中列出的數值不同。當前有效值始終是證書中列出的值。

是的，觸覺標準件通常會因接觸測量而自然磨損。一旦標記測量表面出現凹痕或裂紋等損壞，我們建議立即更換標準件。

用於觸覺測量儀的箔片會因使用而磨損，因此無法重新認證。

鋁箔厚度的偏差可能是測量設置造成的。我們假定是用平面印章測量鋁箔的。使用這種方法測量鋁箔厚度時，幾乎不會在鋁箔上留下印記。因此，測量的是鋁箔的實際厚度。使用這種方法測量的鋁箔厚度通常略高於菲希爾規定的鋁箔厚度。

我們測量的校準箔用於用相應的測量探頭校準我們的設備。

Fischer 的測量探頭有一個小球頭，放在校準箔上或待測表面上。當探頭放在塑膠薄膜上時，球頭會產生一個小的壓力痕跡，這主要取決於校準膜的厚度。在測量校準箔時，我們會將這一壓痕考慮在內。因此，Helmut Fischer 生產的校準膜的標稱值總是略低於校準膜的實際厚度。如果不考慮校準箔上的這一壓力痕跡，在使用這些箔校準我們的測量設備後，您實際上會在實際部件上測量出錯誤的塗層厚度。