菲希爾常見問題解答

計算平均值最簡單的方法是將所有值相加，然後將總和除以值的數量. 這稱為算術平均值. 還有其他計算平均值的方法，但很少使用.

範圍R表示最小和最大測量值之間的距離. 若要計算範圍，請從最大測量值中減去最低測量值. 此範圍可能會因異常值而嚴重失真，因此僅在測量值很少時才有用. 對於大量數據，標準差更有意義.

標準差 σ 表示測量值圍繞平均值的分散程度. 高標準差表示測量值彼此差異很大. 如果所有值都接近平均值，則標準差較小. 平均值和標準差對現實的描述程度取決於測量值的數量等. 測量點越多，比率就越有意義.

標準差的大小不僅取決於測量值的離散程度，還取決於值的大小 – 平均值越高，標準差自然就越大. 為了解決這個問題，相對標準差，即變異係數 V，通常以百分比表示. 這裡，標準差除以算術平均值. 與標準差一樣，此處的高值也表示測量值的高離散度.

可以測量原子序數為 11 的元素，層厚度範圍約為 100 微米. 0.005 - 60 µm，取決於環境介質（空氣、氦氣、真空）、偵測器、光斑尺寸、原子序數，當然還有應用程式.

測量點取決於準直器和測量距離. 典型值為 30 µm 至 3 mm.

每個測量任務的測量精度可能不同. 它取決於測量時間、測量點以及校準 XRF 儀器的標準的不確定度.

我們的絕大多數XRF儀器是根據德國輻射防護條例獲得型式認可的全面防護儀器.

匯出遮罩的定義可用來決定要匯出哪些參數. 匯出設定定義資料發送的時間和地點. 然後，測量數據可作為文字檔案使用.

這裡需要一個散射光譜. 散射光譜不必測量，但可以在選單中載入: General ► Load spectrum and evaluate...

軟體超級權限未啟用.

想必，Print single values已啟動在File►菜單. 在這種情況下，每個單一值都會傳送到印表機緩衝區，並且當頁面已滿時，會自動列印. 停用“Print single values”並清除印表機緩衝區.

如果刪除了區塊內的單一值，則測量值的列舉中會出現破折號. 這些測量值可以在Evaluation ► Restore measured value菜單. 但是，如果刪除了區塊或項目的所有測量值，則無法復原資料.

塗層測厚儀的測量精度取決於塗層厚度、表面狀況、所用探頭等因素. 有關理想條件下的準確度和重複性的信息，請參閱技術資料表。探頭.

這裡有多種測量選項: 例如，我可以使用相敏渦流方法來測量磁性金屬上的非磁性金屬. 一個例子是鐵上的鋅. 但也可以在不導電的塑膠上量測非磁性的金屬，例如 Iso 上的銅. 另一個測量範例是銅上的鎳（非磁性金屬上的磁性金屬).

振幅敏感渦流法用於測量導電、非磁性基材上的非導電塗層，例如鋁上的陽極氧化或油漆、銅上的油漆或鈦上的陶瓷.

使用磁感應法，您可以測量磁性的基材上的非磁性塗層，例如鐵上的鋅或鐵上的油漆.

在每種情況下，都必須使用實際的鍍鎳零件及其已知的塗層厚度進行校準. 鎳塗層的磁性可能變化很大，因此待測部件上的磁性可能與校準部件上的磁性有很大不同. 這可能會導致測量錯誤，這可能是一個問題 – 尤其是在進貨檢驗方面.

首先查看操作說明，看看其中是否描述了錯誤及其修正方法. 如果沒有，請向我們發送序號、測量設備、測量探頭的準確名稱、Fischer 程式的版本號、錯誤編號（錯誤代碼）、錯誤訊息的準確說明以及導致的情況到錯誤. 在這裡你會找到你的聯絡人.

使用相敏渦流法（參見標準草案 DIN 50994 和標準 DIN EN 2004-1).

MS/m 是指百萬西門子/米，相當於 1,000,000 西門子/米. 該單位是比電阻率 Ohm x mm²/m 測量單位的倒數（倒數關係. 因此，1 西門子對應於 1/歐姆).

IACS 意為"國際退火銅標準". 這種計量單位常用於英美國家. 以下適用: 100%IACS 的比電導率相當於 58 MS/m. 利用這種關係，任何電導率值都可以從一種測量單位轉換為另一種測量單位.

比電導率直接取決於溫度。溫度越高，電導率越低。為了確保測量值的可比性，電導率總是參考 20°C 來指定。因此，Fischer 的電導率標準也提供 20°C 的數值。

為了使 SIGMASCOPE® 能夠將物理真實電導率的測量值轉換為 20°C，必須滿足以下條件:

• 儀器必須在測量過程中的相同溫度下進行校準.
• 或在測量和校準時必須用溫度感測器（內部/外部）記錄被測物體的溫度.

如果不滿足這些條件，可能會出現系統測量誤差.

配備 FDX10 和 FDX13H 雙重測量探頭. 這些探頭為了正確測量，熱浸鋅的最小塗佈厚度要求為 70 µm.

對於薄鋅層，使用 ESG2 和 ESG20 探頭. 這些探頭只能在鋅和鋼之間沒有擴散層的情況下使用. 這通常是電鍍和非常薄的熱浸鋅塗層（例如在汽車工程中）的情況). 重腐蝕保護中的熱浸鋅塗層厚度通常超過 70 µm，通常在鋼和鋅之間形成明顯的擴散層. 對於這種情況，不能使用 ESG2 和 ESG20 探頭.

金屬、塑膠或陶瓷上的導電金屬層. 了解更多

必須滿足以下條件: 塗佈表面乾淨，支架夾具與被測物體接觸良好. 此外，應選擇與塗層厚度相對應的剝離速度. 此外，必須使用適當的電解液. 了解更多

這些因素是: 塗層厚度、表面狀況、使用的測量單元密封、剝離速度和塗鍍層的純度.

將傳輸電纜連接至電腦和測量設備. 在您的電腦上安裝適當的驅動程式軟體. 在您正在使用的評估程序中選擇與儀器連接的正確介面. 若要分隔多組測量值，請在測量設備中設定組分隔符號.

原因可能是, 是否以管理員權限載入了正確的驅動程式？電腦上的軟體是否選擇了正確的連接介面？ (請進一步參閱「裝置管理員」)

對於粗糙表面，無法始終可靠地確定零點. 因此，如果可能的話，應對表面進行拋光. 氣流和外部振動也會導致測量值大幅波動，甚至導致測量錯誤. 因此，儀器應安裝在受保護的位置. 當用非常小的力進行測量時，封閉的測量箱和防震桌有助於避免外部影響.

壓頭可能髒了或磨損了. WIN-HCU®提供應定期執行的清潔程序. 另請檢查您是否為您的應用選擇了正確的作用力-時間方案. 不同的測試參數可能會導致偏差.

如果這些措施沒有幫助，如果壓頭磨損，也可以進行形狀修正. 形狀校正只能由 Fischer 專家進行.

顯微鏡上的鏡頭可能設定錯誤. 嘗試不同的鏡頭並確保您在選項中選擇了正確的鏡頭WIN-HCU®用於沒有自動鏡頭識別的儀器的軟體.

如果壓痕仍然不可見，則您可能選擇的檢查力太低. 在這種情況下，可以使用例如原子力顯微鏡（AFM）來觀察壓痕. 另一個原因可能是顯微鏡位置與實際測量位置之間的偏移過大. 設定的偏移設定可以在下面找到 Measuring table ► Microscope settings.

在橫斷面中測量塗層時，建議使用適當的 Fischer 顯微切片樣品架. 如果在沒有合適支架的情況下對橫斷面進行測量，則由於安裝過程，每次測量都會存在從測量位置到顯微鏡位置的系統偏移.

可能沒有記錄卸載曲線. 請檢查您的設定. 此外，非常軟的樣品在負載下會繼續變形（蠕變），這就是為什麼無法在每種情況下測定壓痕硬度的原因. 使用蠕變設定來確定壓痕蠕變 (_CIT). 使用Edit ► Application settings ► Parameters ► Straight,測定壓痕模量_EIT和壓痕硬度_HIT根據 ISO 14577.

測量期間樣品在負載下屈服. 檢查試件是否固定良好. 根據組件的幾何形狀，使用我們合適的配件: Fischer 的 HM 通用樣本夾具或 HM 箔片夾具.

所選的測試負荷對於塗層厚度來說太高. 因此，基材材料會影響測量.

您只能以管理員身分啟動動態測量模式. 如果儘管具有管理員權限，但仍無法啟動，這通常是由於客戶特定的安全相關軟體阻止了這種情況. 這裡的一種可能性是使用軟體相關安全預防措施較低的電腦.

形狀校正需要登入WIN-HCU®管理員權限,因此形狀校正只能由 Fischer 專家或合格人員進行. 測量被中止並且無法開始新的測量. 此外，壓頭位置的值高於 400 µm.

您必須先在下定義使用者定義的匯出Setting ► Options ► User-defined export,在執行匯出之前.

選擇 ? ► Info about WIN-HCU. 您可以在此處找到測量設備的序號和版本WIN-HCU®.

為了比較測量值，至少應使用以下特徵值: 算術平均值、標準差和單一測量值的數量. 如果沒有相應的標準差和測量值的數量，平均值就無法進行有意義和嚴肅的相互比較.

根據 DIN EN ISO 9001 標準，如果需要可追溯性，則必須對測量設備進行校準. 每種物理測量方法都受到塗層和基材特性的影響. 這些屬性的範例有: 零件的幾何形狀、電導率、磁性、塗層的密度，甚至測量表面. 因此，每當層或基材的特性改變時，很可能需要重新校準測量設備.

不. 平板上的校準會在曲面上產生系統測量誤差. 結果，測量值將會過高. 這是因為測量設備評估來自彎曲物體的訊號，就像它們來自平坦部件一樣. 因此，當零件或測量表面的形狀或幾何形狀發生變化時，有必要定期進行校準.

可能的原因可能是使用了具有不同校準（特性曲線）的兩個測量設備，或者使用相同的測量設備但在不同的測量表面上進行了測量. 測量設備所獲得的測量值的正確性始終由校準標準來保證. 對於磁感應和渦流測量裝置，必須在真實的、未塗層的待測物體的測量表面上進行校準，對於塗層部件，還必須在其上測量塗層厚度. 此外，必須確保在同一點或同一測量表面上進行測量，並記錄足夠數量的測量值以獲得有意義的平均值和有意義的標準偏差. 這樣才能達到可比較的測量結果.

人們用多個測量值（通常是 5 到 10 個）測量未塗層工件上的校準箔，並在稍後進行測量. Fischer 底座校準板對於此校準沒有用處. 隨後，使用者必須決定他將允許與膠片設定點和測量平均值的哪些偏差，使得測量裝置仍然被認為是充分且良好校準的. 例如，標準 DIN EN ISO 2178 提供了在統計背景下以及測量薄膜厚度的不確定度方面對測量設備校準的評估: 2016 年「磁性基材上的非磁性塗層– 薄膜厚度的測量– 磁性方法」（第8 章）和DIN EN ISO 2360:2017「非磁性金屬基材上的非導電塗層– 薄膜厚度的測量– 渦流方法」（第 8 章).

這些雙重探頭有兩個測量頻道. 磁感應頻道測量油漆和鋅的總塗層厚度. 這振幅敏感渦流頻道測量鋅上的油漆層厚度. 為了進行校準，需要一個與原始零件相對應的完全無塗層的鋼零件和一個至少含有 70 µm 鋅的鍍鋅零件. 探頭的磁感應通道在未塗層的鋼部件上進行校準. 使用的校準箔應符合預期的總塗層厚度範圍（油漆和鋅). 鍍鋅部分用於校準振幅度敏感渦流頻道. 使用的校準箔應符合預期的油漆層厚度範圍.

這些雙重探頭有兩個測量頻道. 磁感應頻道測量油漆和鋅的總塗層厚度. 相敏渦流頻道測量油漆下面的鋅層厚度. 為了進行校準，需要與原始零件相對應的完全無塗層的鋼零件和具有典型鋅塗層的鍍鋅零件. 探頭的磁感應頻道在未塗層的鋼部件上進行校準. 使用的校準箔應符合預期的總塗層厚度範圍（油漆和鋅). 在鍍鋅零件上，將探頭的相敏渦流頻道進行校準. 這裡不應使用校準箔，因為鋅層本身就是校準層. 在該校準步驟中，只需在鍍鋅零件上進行測量. 校準前不需要測量鋅層厚度作為參考層厚度. 鋅層的校準參考值由第一步校準的磁感應頻道提供.

是的會有影響. 例如，如果使用塗鍍層密度為 2 g/cm3 的零件校準測量裝置，而現在要在密度為 1 g/cm3 的零件上進行測量，則會出現系統測量誤差. 測量值太低. 之所以會出現這種情況，是因為測量設備評估來自新物體的訊號，就好像其塗鍍層的密度也是 2 g/cm3.

在測量技術中，正常化是指測量任務適應當前設定或新的基礎材料. 當更換主濾波器、陽極電流或準直器時必須執行此操作. 如果基材的合金成分發生變化，這也是標準要求.

這裡我們採用測量設備監控的方式. 透過重新測量來檢查 XRF 測量裝置校準標準. 該標準稱之為“校準". 如果測量值與標準的標稱值有較大偏差，則需要進行調整.

參考測量是能量軸的重新校準. 它使用比例計數管校正 XRF 儀器的溫度影響.

校準標準可以在選單項目中重新測量 Item ►Measure calibration standards. 如果偵測到偏差，則必須重新校準 XRF 儀器.

這取決於測量設備在校準標準上的使用頻率。因此，可以由客戶自行決定。典型的週期大約是每1至3年。

是的，這是可能的. 根據經驗，2-3 個箔片可用於比例計數管測量設備，1 個箔片可用於具有 Si PIN 或矽漂移偵測器的測量設備.

不，沒有必要. 您不需要重新認證純單元板，因為標準由於其飽和厚度而具有非常高的穩定性.

這裡的WinFTM®要求基礎材料. 必須使用和測量校準裝置和被測物體的無塗層基材. 警告: 如果這裡放置了錯誤的部件，這會對結果的正確性產生很大的影響.

具有 ISO 17025 證書的校準標準是根據認可協會定義的程序進行測量的，並且具有比具有 ISO 17025 證書的校準標準更低的不確定度。出廠證書.

我們Fischer公司不規定特定的維護週期。是否需要將您的校準標準送去重新校準，很大程度上取決於使用條件、環境和儲存因素，以及貴公司對特定標準和/或內部檢測設備的要求。因此，您或您的檢測設備監控團隊最適合評估和確定送檢校準標準的適當週期。典型的週期大約是每 1–3 年。

您需要單獨諮詢嗎？歡迎隨時與我們聯繫。

沒有，證書沒有固定的有效期。是否需要將您的校準標準送去重新校準，很大程度上取決於使用條件、環境和儲存因素，以及貴公司對特定標準和/או內部檢測設備的要求。因此，您或您的檢測設備監控團隊最適合評估和確定何時需要重新校準。

您需要單獨諮詢嗎？歡迎隨時與我們聯繫。

是的，我們提供客製化的特殊解決方案。一方面，如果技術上可行，我們可以結合我們目錄中的塗層厚度來滿足您的具體要求。另一方面，如果技術上可行，我們可以用您自己的材料製作一個校準標準。歡迎隨時與您的專屬Fischer代表討論您的需求。

校準標準絕不能進行機械或化學清潔！這樣做可能會導致損壞、不均勻和/或塗層厚度減少，從而可能改變您的校準結果。

Al, Cu, Ag的變色：對於這些金屬，金屬表面氧化會形成一層氧化層，保護下層金屬免受進一步的氧氣反應（鈍化）。根據金屬的不同，這可能導致典型的變色，但這不會對測量結果產生負面影響。

重要提示：請勿清潔您的校準標準！通過磨損去除氧化層可能導致校準結果失真。

Fe, Zn, Zn/Fe的變色：在鐵氧化（鐵鏽）或鋅氧化（白鏽）的情況下，腐蝕會對校準標準產生破壞性影響。如果發生腐蝕，這些校準標準必須送回更換。由於腐蝕性環境會加速腐蝕過程，請務必特別注意校準標準的正確處理和儲存（另見下個問題）。

特例COULOSCOPE®校準標準：我們的COULOSCOPE®校準標準在清潔方面是一個例外。它們附帶一個“橡皮擦”，可以用來重新活化氧化鎳層。

請勿將您的校準標準存放在冷凝或腐蝕性環境中。濕度過高會損壞塗層。

不可以，請不要撕下標準盒上的DAkkS標誌。DAkkS證書只有與標準盒上相應的DAkkS標誌一起才有效。

根據要求，我們可以重新簽發DAkkS證書。但請注意，這需要較長的準備時間並會產生額外費用。為此，請直接聯繫您的專屬Fischer代表，他會很樂意為您提供個人報價。

很遺憾，目前還沒有，但我們正在努力。

您可以在這裡找到條款和條件。

可以，但這取決於您設備中安裝的多毛細管光學元件。根據多毛細管光學元件的不同，您可以測量大約10-50 µm範圍內的測量點。通過這些非常小的測量點，您可以觀察到局部的非均勻性，例如“針孔”，或在高粗糙度表面上的厚度差異。因此，對我們的校準標準進行單點測量可能會（取決於材料）導致較大的測量離散或校準結果失真。對於使用我們的FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ設備測量的校準標準，您應始終使用掃描模式。

由於校準標準是個別的且不受標準化約束，我們無法出具符合性聲明。此外，我們還為RoHS測量和特殊塗層提供校準標準，其中一些需要使用不符合RoHS的材料。

我們的校準標準存在與製造相關的偏差，為規定塗層厚度的±20 %。這不構成缺陷，而是在允許的公差範圍內。我們總是為您提供盡可能接近規定報價值的校準標準。

所有測量值都存在一定程度的變化。因此，重新認證後證書中說明的數值可能與標籤上的數值不同，只要它們在規定的測量不確定度範圍內。對於根據DIN EN ISO/IEC 17025:2017認證的接觸式膜片，由於系統相關因素，印在膜片上的數值也可能與證書中列出的數值不同。當前有效值始終是證書中說明的數值。

是的，接觸式校準標準通常會因接觸式測量而產生自然磨損。一旦在標記的測量表面內出現凹痕或裂縫等損壞，我們建議更換校準標準。

用於接觸式測量設備的膜片會因使用而磨損，因此無法重新認證。

膜片厚度的偏差很可能是由於測量設置造成的。我們假設膜片是用平壓頭測量的。使用這種方法，在測量膜片厚度時幾乎不會在膜片中產生壓痕。因此，測量的是膜片的實際厚度。使用這種方法測量的膜片厚度通常略高於Fischer指定的膜片厚度。

我們測量的校準膜片用於通過相應的測量探頭校準我們的設備。

Fischer的測量探頭有一個小球頭，放置在校準膜片或待測表面上。當探頭放置在塑膠膜片上時，這個球頭會產生一個小的壓痕，這取決於校準膜片的厚度等因素。在測量我們的校準膜片時，會考慮到這個壓痕。因此，由Helmut Fischer製造的校準膜片的標稱值總是略低於校準膜片的實際厚度。如果在校準膜片上不考慮這個壓痕，那麼在使用這些膜片校準我們的測量設備後，您在實際部件上測量的塗層厚度實際上是不正確的。