能量色散X射線螢光

在過去，X射線螢光分析（XRF）主要用於地質學。如今，它已成為工業和實驗室的關鍵技術。這種方法非常通用：它可以檢測從鈉到鈾的所有相關化學元素

XRF通常用於材料分析，即確定樣品中給定物質的含量，如測量珠寶中的黃金含量或根據《有害物質限制》（RoHS）指令檢測日常物品中的有害物質。此外，可以使用XRF測量鍍層的厚度：它快速、環保且非破壞。

在從陽極到樣品的過程中，初級X射線會透過過濾器。Fischer通常使用由薄金屬箔製成的過濾器，由鋁或鎳製成。這些過濾器透過吸收部分光譜來改變初級輻射的特性。這樣可以顯著降低背景雜訊。因此，可以實現對微弱信號的更高靈敏度。例如，鋁過濾器有助於檢測特別低濃度的鉛

通孔（準直器）位於X射線管和樣品之間。它控制主光束的大小，確保僅激發樣品上的特定聚焦點被激發。

當測量點必須很小時，到達樣品的輻射極小，因此產生的螢光信號也相應變弱。 為了獲得足夠高的計數以進行可靠的計算，測量需要花費更長的時間。

解決此問題的方法是多毛細管光學器件。 多毛細管是一束玻璃纖維，它能將幾乎把所有的初級輻射像放大鏡一樣聚焦在一個小點上。 全球只有兩家這樣的光學器件製造商，Fischer是其中之一！;