更精確。
XDV。在此体验新的XDV系列
Helmut Fischer - 用於塗層厚度測量、材料分析和材料測試的一流測量儀器
Helmut Fischer GmbH是表面測試領域的全方位供應商，自1953年以來一直致力於開發用於表面測量的高精密儀器。作為一個領先的測量儀器製造商，我們的產品組合從用於快速測量的簡單手持設備，到自動監控生產的完全整合高階系統。對於每一種應用，我們都提供合適的解決方案。
使用新的 FISCHERSCOPE X-RAY XDV SERIES 掌握您的應用
我們的 XDV® 儀器現在更加出色：新的脈衝處理器 DPP+、獨特的測量距離、更好的性能和最小的測量點。
閱讀我們的新 XDV® 系列應用說明：
- 在標記之前，對於大樣本量或大型測試部件：快速可靠地測量金含量
使用新的 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD 可靠地檢查合金或貴金屬的細微差別。獲得高度精確的分析，在此基礎上，您可以就金條、硬幣或珠寶的價值做出可靠的陳述。
現在下載 - 針對電子行業進行了優化：在新的水平上測量 ENIG 和 ENEPIG
帶有數字脈衝處理器 DPP+ 的新型 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ 具有顯著的性能提升，是測量化學鍍鎳/化學金 (ENIG) 或化學鍍鎳/化學鈀/化學金 (ENEPIG) 塗層的最佳解決方案。
現在下載 - 連接器行業中壓接插針的質量控制
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD 是一款強大的工具，可成功解決連接器應用質量控制中即將出現的挑戰。
現在下載
客製化的建議與現場優質的全方位服務
一切都來自單一來源以實現完美的品質管理：這是 Helmut Fischer GmbH 的主張！獲得完整的全面服務以得到最佳測量結果。因為精確、可靠的測量需要的不僅僅是一流的測量設備。從詳細的需求分析開始，選擇正確的測量設備。通過專業的調校和產品培訓，以實現最佳的設備使用。為長期設備使用提供全面和快速的服務。僅 Helmut Fischer 提供：通過 ISO / IEC 17025 認證的 Fischer 校驗標準，您可以精確且可追溯的進行測量。將您的樣品也認證為校驗標準！
塗層厚度測量、XRF 分析、奈米壓痕、劃痕測試等方面專家
“Measuring Made Easy”。根據這一座右銘，Helmut Fischer 自 1953 年以來一直在為工業和實驗室開發和製造用於塗層厚度測量、材料分析、材料測試和顯微硬度的測量儀器。創始人 Helmut Fischer 的創新精神，至今仍是 Fischer 企業文化不可或缺的一部分，這一切都始於用於測量塗層厚度的手持設備。 1981 年推出了第一台用於精確、無損塗層厚度測量和 XRF 材料分析的 XRF X 射線螢光測量儀。來自奈米壓痕和劃痕測試領域的更多測量和測試儀器以及自動化測量解決方案緊隨其後。
廣泛的產品組合，包括手持設備、XRF 光譜儀、臺式儀器、自動化設備等
Fischer 產品組合包括塗層厚度測量、XRF 分析、奈米壓痕、劃痕測試、導電率測量、鐵素體含量測定等領域的測量技術。從用於防腐蝕的快速塗層厚度測量手持設備開始，到用於簡易黃金測試的 XRF 光譜儀或電鍍中的 XRF 分析，再到電子行業的自動化高階系統。我們的測量和分析儀器易於使用、高度精確且極其可靠 - 這就是您可以衡量我們的方式！
