Chất bán dẫn

Đo độ dày lớp phủ với độ chính xác cao và phân tích vật liệu của các lớp đa lớp siêu mỏng và cấu trúc vi mô
Làm thế nào để đo lường và phân tích một cách đáng tin cậy các hệ thống đa lớp siêu mỏng, phức tạp và các cấu trúc vi mô, đồng thời duy trì các tiêu chuẩn kiểm soát chất lượng cao nhất trong sản xuất bán dẫn?
Với các thiết bị XRF của chúng tôi, chúng tôi cung cấp cho bạn các giải pháp hiệu suất cao để đo độ dày lớp phủ chính xác và phân tích vật liệu cho các chất bán dẫn silicon và hợp chất của bạn. Cho dù bạn cần một hệ thống hoàn toàn tự động hay một thiết bị để bàn nhỏ gọn, chúng tôi đều cung cấp cho bạn giải pháp đo lường phù hợp – kể cả cho các ứng dụng điện tử!
Hãy chọn những sản phẩm tốt nhất. Hãy tin tưởng FISCHER.
hiệu suất đo lường
giải pháp – được thiết kế phù hợp với nhu cầu của bạn
– trực quan, hiệu quả, mạnh mẽ
kích thước điểm tối thiểu
Dịch vụ khách hàng của FISCHER
với các linh kiện chính hãng FISCHER
Ứng dụng
Công nghệ đo lường của chúng tôi được đông đảo khách hàng trong ngành bán dẫn và điện tử trên toàn thế giới tin dùng. Độ tin cậy, hiệu quả và trên hết là hiệu suất đo lường hàng đầu thị trường đã khiến các thiết bị của chúng tôi trở thành công cụ không thể thiếu. Hãy khám phá đa dạng các ứng dụng, từ đóng gói wafer và đóng gói tiên tiến cho đến các linh kiện bán dẫn công suất cao và các ứng dụng điện tử, nơi các giải pháp của chúng tôi mang lại những lợi ích thực tế và có thể đo lường được.

Khung dẫn
Là thành phần thiết yếu trong các quy trình đóng gói cơ bản, khung dẫn đóng vai trò là giá đỡ cơ học và kết nối điện giữa chip bán dẫn và các điểm kết nối bên ngoài của vỏ. Chúng thường được phủ nhiều lớp phức tạp. Các lớp này thường bao gồm các lớp vàng và palađi có độ dày ở mức nanomet, trong khi lớp niken thường dày vài micromet. Chính cấu trúc tinh xảo của khung dẫn này khiến việc đo lường dễ xảy ra sai sót và gây khó khăn cho việc kiểm soát chất lượng. Hãy tìm hiểu cách bạn có thể cùng chúng tôi giải quyết thách thức này!
Hãy giải quyết vấn đề cùng FISCHER!
Các thiết bị XRF đa ống mao dẫn của chúng tôi, chẳng hạn như FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, rất phù hợp để đo độ dày lớp phủ trên từng chân của khung dẫn.
Ứng dụng chính: Đo độ dày lớp phủ của Au/Pd/NiP/CuFe và các lớp phủ đa lớp thông dụng khác
Tải xuống tài liệu giới thiệu về chất bán dẫn của chúng tôi!
Yêu cầu tư vấn sản phẩm!Hướng dẫn sử dụng:

Sân hạ cánh
Trong công nghệ đóng gói bán dẫn, các điểm tiếp xúc này đóng vai trò là các điểm tiếp xúc cơ bản trên chip, ví dụ như để gắn dây trong quá trình hàn dây hoặc gắn các điểm hàn trong quá trình đóng gói chip lật. Do các điểm tiếp xúc này được làm từ các kim loại như nhôm, đồng hoặc niken, chúng thường được phủ một lớp bảo vệ hoặc lớp thụ động hóa để ngăn ngừa sự ăn mòn và sự khuếch tán kim loại. Bạn đang tìm kiếm một giải pháp đo lường nhanh chóng và đáng tin cậy?
Hãy giải quyết vấn đề cùng FISCHER!
Thiết bị tiên tiến FISCHERSCOPE® XDV® và thiết bị chuyên dụng đã được chứng minh hiệu quả FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD của chúng tôi đặc biệt được ưa chuộng trong việc kiểm tra chất lượng đáng tin cậy các tấm đế. Tất nhiên, các thiết bị XRF khác của chúng tôi, chẳng hạn như FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ hoặc FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER, cũng hoàn toàn phù hợp cho ứng dụng này.
Các ứng dụng chính: Đo độ dày lớp phủ của Au/Pd/NiP/Cu/chất nền wafer, phân tích vật liệu
Tải xuống tài liệu giới thiệu về chất bán dẫn của chúng tôi!
Yêu cầu tư vấn sản phẩm!

BGA
Mảng bóng hàn (BGA) là một loại vỏ bọc dành cho mạch tích hợp (IC) và vi xử lý, được sử dụng để lắp đặt trên bảng mạch in (PCB). Chúng cung cấp mật độ kết nối cao, được bố trí dưới dạng một ma trận vi mô gồm các bóng hàn bên dưới vỏ bọc. Hãy khám phá cách các giải pháp đo lường tiên tiến của chúng tôi giúp quá trình kiểm tra BGA trở nên nhanh chóng và đáng tin cậy!
Hãy giải quyết vấn đề cùng FISCHER!
Hãy khám phá ý nghĩa thực sự của việc kiểm tra chất lượng với độ chính xác cao cùng thiết bị FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ của chúng tôi! Phân tích thành phần vật liệu của các hợp kim BGA – bao gồm việc xác minh tính không chứa chì – một cách nhanh chóng, chính xác và đáng tin cậy.
Ứng dụng chính: Phân tích vật liệu SnPb, SnAgCu
Tải xuống tài liệu giới thiệu về bán dẫn của chúng tôi!
Yêu cầu tư vấn sản phẩm!Hướng dẫn sử dụng:

UBM
Lớp mạ kim loại dưới điểm hàn (UBM) chất lượng cao đóng vai trò quan trọng đối với hiệu suất và độ tin cậy của các kết nối chip lật. Lớp này thường được phủ lên các điểm tiếp xúc kim loại để đảm bảo khả năng hàn và độ bám dính tốt hơn cho các điểm hàn trong các công đoạn tiếp theo. Ngoài ra, UBM còn tạo thành một lớp rào cản chống lại sự khuếch tán kim loại, từ đó cải thiện kết nối giữa chip và vỏ đóng gói. Bạn đã sẵn sàng khám phá cách các giải pháp của chúng tôi hỗ trợ bạn trong việc đo lường lớp UBM chưa?
Hãy giải quyết vấn đề cùng FISCHER!
Để đo lường một cách đáng tin cậy các hệ thống đa lớp cực mỏng và phức tạp như UBM, chúng tôi cung cấp các thiết bị để bàn bán tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ và FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER, cũng như hệ thống cao cấp hoàn toàn tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI. Với các thiết bị XRF của chúng tôi, quý khách có thể đáp ứng các dung sai chặt chẽ nhất và đảm bảo hiệu suất cao nhất cho các thiết bị điện tử.
Các ứng dụng chính: Đo độ dày lớp phủ và phân tích vật liệu của Au/Ni/Ti/miếng kim loại/chất nền wafer, Au/Ni/Cu/Ti/miếng kim loại/chất nền wafer, Pd/Ni/Cu/miếng kim loại/chất nền wafer
Tải xuống tài liệu giới thiệu về chất bán dẫn của chúng tôi!
Yêu cầu tư vấn sản phẩm!

Điểm hàn
Trong các quy trình đóng gói chip lật (flip chip) hoặc đóng gói tiên tiến, chẳng hạn như công nghệ đóng gói cấp wafer, 2.5D và 3D, các điểm hàn chì, điểm cột đồng và điểm vàng được sử dụng để kết nối chip với đế hoặc với các wafer trên đế (CoWoS). Vì lý do chức năng và chi phí, thành phần vật liệu chính xác – đặc biệt là nồng độ SnAg – của các loại điểm hàn khác nhau cũng như độ dày lớp phủ đóng vai trò quan trọng. Khám phá các giải pháp đo lường của chúng tôi cho thách thức này!
Hãy giải quyết vấn đề cùng FISCHER!
Với các thiết bị XRF cao cấp của chúng tôi, như FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER và FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI, quý vị có thể đo lường chính xác thành phần vật liệu, chiều cao và độ dày lớp phủ của các điểm hàn.
Các ứng dụng chính: Phân tích vật liệu và đo chiều cao của các điểm hàn và cột đồng với thành phần như Sn/Ag hoặc SnAg/Cu với hàm lượng Ag từ 1% đến 3%, đo độ dày lớp phủ của các điểm hàn vàng như Au/Ni/Cu/UBM/miếng kim loại/chất nền wafer
Tải xuống brochure về bán dẫn của chúng tôi!
Yêu cầu tư vấn sản phẩm!Hướng dẫn sử dụng:

RDL
Lớp phân phối lại (RDL) là thành phần quan trọng trong công nghệ đóng gói cấp wafer (WLP), đặc biệt là trong các công nghệ tiên tiến như Đóng gói cấp wafer theo quy mô chip (WLCSP). Chúng được sử dụng để điều chỉnh lại vị trí kết nối của chip sao cho phù hợp với bố cục tiêu chuẩn cho các thiết kế đóng gói khác nhau. Vì các đường dẫn điện trong RDL chủ yếu được làm bằng đồng, nên các lớp mỏng titan, crom hoặc niken cũng được phủ lên để ngăn đồng khuếch tán vào vật liệu cách điện và đạt được độ bám dính tốt hơn. Bạn muốn tìm hiểu các giải pháp đo lường của chúng tôi có thể giúp bạn như thế nào?
Hãy giải quyết vấn đề cùng FISCHER!
Hãy đo các lớp phủ RDL của bạn với độ chính xác và độ tin cậy cao bằng các thiết bị FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER hoặc FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI của chúng tôi.
Ứng dụng chính: Phân tích vật liệu và đo độ dày lớp phủ của RDL, ví dụ: Ti/Cu
Tải xuống tài liệu giới thiệu về chất bán dẫn của chúng tôi!
Yêu cầu tư vấn sản phẩm!

Mạ kim loại mặt sau
Quá trình mạ kim loại mặt sau là một công đoạn quan trọng trong sản xuất các linh kiện bán dẫn và cảm biến công suất cao, ví dụ như cảm biến MEMS. Bằng cách lựa chọn cẩn thận các lớp mạ và thứ tự kết hợp của chúng, quá trình mạ kim loại mặt sau có thể được tối ưu hóa để đáp ứng các yêu cầu cụ thể của từng linh kiện bán dẫn về mặt tính chất điện, cơ học và nhiệt. Quý vị đang tìm kiếm giải pháp đo lường để kiểm tra các lớp mạ kim loại mặt sau của mình?
Hãy giải quyết vấn đề cùng FISCHER!
Với sản phẩm thế hệ mới, sáng tạo dành cho bàn làm việc FISCHERSCOPE® XDV® hoặc thiết bị chuyên dụng đã được chứng minh hiệu quả FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD, quý khách có thể đo lường chính xác độ dày và thành phần của các lớp kim loại phủ mặt sau, đồng thời đảm bảo chất lượng quy trình phủ. Phù hợp hoàn hảo với nhiệm vụ đo lường và được thiết kế riêng theo nhu cầu của quý khách, chúng tôi còn cung cấp các giải pháp tùy chỉnh, ví dụ như bộ kẹp wafer để đo các lớp kim loại dày hơn.
Ứng dụng chính: Đo độ dày lớp phủ và phân tích vật liệu của các hệ thống đa lớp thông dụng, ví dụ: Ag/Ni/Ti/Al/substrate wafer
Tải xuống brochure về bán dẫn của chúng tôi!
Yêu cầu tư vấn sản phẩm!

Đầu tiếp xúc lò xo / Chân cắm Pogo
Chân cắm Pogo, hay còn gọi là chân cắm lò xo, là các cơ chế kết nối điện được đặt trên tấm wafer để kiểm tra wafer bằng thẻ đầu dò. Nhờ đó, các đặc tính điện của từng die trên tấm wafer được kiểm tra trước khi chúng được cắt thành các chip. Để có được kết quả hoàn toàn đáng tin cậy trong quá trình kiểm tra này, lớp phủ chức năng của các chân pogo phải có chất lượng cao. Đây chính là lúc các thiết bị XRF của chúng tôi phát huy tác dụng. Hãy khám phá cách các giải pháp đo lường tiên tiến của chúng tôi giúp việc kiểm tra chân pogo trở nên dễ dàng và chính xác!
Hãy giải quyết vấn đề cùng FISCHER!
Hãy đo các chân cắm pogo của bạn bằng thiết bị FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ hoặc FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD của chúng tôi dành cho các tiếp điểm lò xo có hình dạng phức tạp.
Ứng dụng chính: Đo độ dày lớp phủ, ví dụ như hợp kim Au/Ni/Cu
Tải xuống tài liệu giới thiệu về chất bán dẫn của chúng tôi!
Yêu cầu tư vấn sản phẩm!
Liên hệ với chúng tôi
Chúng tôi rất sẵn lòng hỗ trợ bạn. Hãy để lại thông tin liên hệ của bạn và chúng tôi sẽ liên hệ lại với bạn.
Các giải pháp của chúng tôi dành cho những thách thức của quý vị

Các ứng dụng chính
Mạ kim loại mặt sau, điểm tiếp xúc, điểm tiếp xúc vi mô, sàng lọc RoHS
Những thách thức của bạn
- Đo lường nhiều loại hợp kim khác nhau và các lớp đa lớp phức tạp
- Đo lường các mẫu có kích thước nhỏ và lớn
- Phân tích các nguyên tố vi lượng với giới hạn phát hiện rất thấp
Điểm nổi bật của sản phẩm
- Các kích thước collimator đa dạng lên đến 3 mm và bộ lọc dùng cho mọi mục đích
- Độ chính xác cao nhất và thời gian đo ngắn nhờ các thành phần được tối ưu hóa và cấu trúc đo lường
- Bàn đo có thể lập trình cho các phép đo tự động
- Phần mềm hàng đầu thị trường với quy trình làm việc hiệu quả

Các ứng dụng chính
Khung dẫn, dây mỏng, điểm hàn, miếng đệm siêu nhỏ, linh kiện SMD, chân cắm pogo, BGA, UBM, RDL
Những thách thức của bạn
- Đo lường trên cấu trúc vi mô
- Đo lường mẫu phẳng và các lớp đa lớp siêu mỏng
Điểm nổi bật của sản phẩm
- Nhiều tùy chọn bộ lọc, bộ dò và quang học đa mao quản cho điểm đo nhỏ nhất và độ chính xác cao nhất
- Vỏ C-slot giúp dễ dàng xử lý các mẫu phẳng, quy mô lớn
- Phần mềm hàng đầu thị trường dành cho các tác vụ đo lường phức tạp

Các ứng dụng chính
Bảng mạch in (PCB) đã lắp ráp, đầu nối, chân cắm pogo
Những thách thức của bạn
- Xử lý các kích thước mẫu khác nhau và hình dạng phức tạp
- Đo mẫu có các bộ phận lắp ráp hoặc ở các mức độ khác nhau
- Đo lường trên các cấu trúc vi mô
- Đo các lớp đa lớp siêu mỏng
Điểm nổi bật của sản phẩm
- Đo các chi tiết nhỏ nhất trên các mẫu có hình dạng phức tạp nhờ hệ thống quang học polycapillary độc đáo 35 µm với khoảng cách đo lớn, ví dụ như đối với các tấm wafer có nguy cơ bị cong
- Vỏ C-slot giúp dễ dàng xử lý các mẫu phẳng, quy mô lớn
- Phần mềm hàng đầu thị trường dành cho các tác vụ đo lường phức tạp

Các ứng dụng chính
Điểm hàn, điểm cột đồng, điểm vàng, bề mặt tiếp xúc nhỏ, miếng đệm siêu nhỏ, UBM, RDL
Những thách thức của bạn
- Đo lường màng mỏng và cấu trúc vi mô trên các tấm wafer có đường kính từ 6'' đến 12''
- Xử lý các tấm wafer có khả năng bị cong
- Đáp ứng các yêu cầu về phòng sạch
Điểm nổi bật của sản phẩm
- Các tùy chọn cảm biến và quang học đa ống mao dẫn đa dạng để đạt độ chính xác cao nhất trên các lớp mỏng
- Bộ kẹp wafer chân không hoặc hệ thống xử lý wafer tùy chỉnh với chức năng làm phẳng cơ học
- Các tùy chọn tự động hóa đa dạng với phần mềm dẫn đầu thị trường

Các ứng dụng chính
Điểm hàn, điểm cột đồng, điểm vàng, bề mặt tiếp xúc nhỏ, miếng đệm siêu nhỏ, UBM, RDL
Những thách thức của bạn
- Tự động hóa quy trình đo lường wafer của bạn
- Quản lý năng suất cao
- Xử lý các tấm wafer có khả năng bị cong
- Đáp ứng các yêu cầu về phòng sạch
Điểm nổi bật của sản phẩm
- Hệ thống đo lường hoàn toàn tự động tích hợp FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER và hệ thống xử lý wafer tự động
- Nhiều tùy chọn cảm biến và quang học đa ống mao dẫn để đạt độ chính xác cao nhất trên các lớp mỏng
- Phần mềm hàng đầu thị trường giúp nâng cao hiệu quả công việc của bạn
Giải pháp phù hợp cho nhiệm vụ đo lường của bạn.
Thiết kế hệ thống tùy chỉnh theo yêu cầu, hoàn toàn tự động hoặc bán tự động. Được thiết kế riêng cho ứng dụng của bạn, chúng tôi thực hiện các bước quy trình bổ sung, chẳng hạn như làm phẳng cơ học các tấm wafer. Bằng cách hợp tác với các đối tác tích hợp địa phương, chúng tôi tránh được thời gian chờ đợi dài.
Chúng tôi cũng cung cấp các phương pháp đo lường khác ngoài XRF. Để biết thêm thông tin, vui lòng liên hệ trực tiếp với chúng tôi.