COULOSCOPE® CMS2 và CMS2 STEP
cho các hệ thống lớp phủ khác nhau
toàn bộ cấu trúc lớp phủ
độ chính xác tối đa
Đo độ dày lớp phủ bằng phương pháp điện lượng để kiểm soát chất lượng.
Trên một độ dày lớp phủ nhất định, việc sử dụng huỳnh quang tia X để đo độ dày lớp phủ không phá hủy sẽ đạt đến giới hạn. Đây là lúc COULOSCOPE® CMS2 phát huy tác dụng. Sử dụng phương pháp điện lượng để đo độ dày lớp phủ của hầu hết các lớp phủ kim loại một cách chính xác và đáng tin cậy bằng cách tách lớp điện phân. Thiết bị để bàn dễ sử dụng này mang đến sự linh hoạt tối đa vì nó có thể được sử dụng cho nhiều sự kết hợp lớp phủ - vật liệu nền khác nhau.
Khái niệm đo lường tối ưu.
Nhiệm vụ đo lường được xác định trước cho các hệ thống lớp phủ khác nhau
Hiệu chuẩn dễ dàng.
Đạt được mức độ chính xác cao nhất
Mở rộng riêng lẻ.
Phụ kiện đa dụng cho phép thực hiện công việc thực tế và bảo quản an toàn
Thao tác trực quan.
Màn hình màu và hướng dẫn sử dụng được hỗ trợ bằng đồ họa
Độ linh hoạt tối đa.
Đo độ dày lớp phủ chính xác của hầu hết mọi kết hợp lớp phủ-chất nền
COULOSCOPE® CMS2: Khi đo độ dày lớp phủ không phá hủy bằng XRF đạt đến giới hạn trên một độ dày lớp phủ nhất định.
Trạm đo chức năng bao gồm COULOSCOPE® CMS2 hoặc CMS2 STEP và một giá đỡ với cell đo (hoặc cell đo STEP).
Nhiều lớp phủ đơn và đa lớp thường gặp trong thực tế có thể được đo chính xác bằng COULOSCOPE® CMS2.
Ngoài việc đo độ dày lớp phủ bằng phương pháp điện lượng, COULOSCOPE® CMS2 STEP còn có thể đo được các thể điện hóa.
Tính năng
Biểu diễn đồ họa đường cong điện áp tại cell đo
Gần 100 phép đo được xác định trước cho các hệ thống lớp phủ khác nhau (như kẽm trên sắt hoặc niken trên đồng thau)
Loại bỏ lớp phủ theo tiêu chuẩn DIN EN ISO 2177
Truyền dữ liệu đơn giản qua giao diện USB
Phạm vi đo: Tùy thuộc vào sự kết hợp vật liệu lớp phủ và vật liệu nền cũng như tốc độ loại bỏ 0,02 - 50 µm
Bộ nhớ giá trị đo: 3.000 trong 50 ứng dụng
Các chức năng đo kiểm tra STEP theo tiêu chuẩn ASTM B764 - 04 và DIN EN 16866
Lựa chọn đơn giản tốc độ tách (0,1 - 50 µm/phút) và diện tích tách (0,6 - 3,2 mm Ø)
Phương pháp đo: Đo điện lượng bằng phương pháp tách cực dương
Ví dụ ứng dụng
- Đo độ dày lớp phủ của hầu hết các lớp phủ kim loại đơn và đa lớp trên hầu hết mọi vật liệu nền
- Kiểm soát chất lượng lớp phủ mạ điện
- Giám sát độ dày lớp thiếc còn sót lại trên mạch in PCB
- Đo lường kiểm tra STEP: Đo độ dày lớp đơn và sự khác biệt về thế điện hóa giữa các lớp niken đa lớp trên các vật liệu nền đồng, sắt, nhôm hoặc nhựa (ABS)
Bạn có ứng dụng khác không? Hãy liên hệ chúng tôi!
Ghi chú ứng dụng
Tài liệu quảng cáo
Thông tin chi tiết của Fischer.
Khám phá nhiều sản phẩm hơn.
